对比文件名称：2018-04-05_JP2018056685A_发明专利_JP2018056685A 画像符号化装置、画像符号化方法、及び画像符号化プログラム、並びに、画像復号装置、画像復号方法、及び画像復号プログラム
目标专利名称：731用于跨通道残差编码和解码的量化参数得出CN111586408B
本次调用的模型名称：OpenAI GPT-4
### 特征比对表格
| 技术特征描述及公开性判断结果 | 对比文件原文引用（翻译） | 公开性论述 |
| 技术特征A：包括：获得针对视频演示或图像的亮度通道得出的第一量化参数，所述第一量化参数被配置为用作参考以确定第二量化参数的值。 **《直接公开》** | 对比文件[0068]：“通常の復号処理により得られるY信号とCb及びCr信号に対する量子化パラメータをそれぞれQPY,QPCb,QPCrとする。” （通过通常的解码处理得到的Y信号和Cb及Cr信号的量化参数分别设为QPY、QPCb、QPCr。） | 对比文件明确获得了亮度通道的量化参数QPY，该参数在后续步骤中用作参考以确定色度通道的量化参数（通过偏移），因此直接公开了技术特征A。 |
| 技术特征B：接收包含所述视频演示或所述图像的第一色度通道和第二色度通道的经量化的残差系数的块。 **《直接公开》** | 对比文件[0038]：“量子化部4は、直交変換係数を量子化してエントロピー符号化部5及び逆量子化部8に供給する。” （量化部4将正交变换系数量化，并提供给熵编码部5和逆量化部8。）<br>对比文件[0096]：“エントロピー復号部22は、ビットストリームに含まれる直交変換係数及びシンタックスをエントロピー復号する。直交変換係数は逆量子化部23に供給される。” （熵解码部22对比特流中包含的正交变换系数和语法进行熵解码。正交变换系数被提供给逆量化部23。） | 对比文件在编码侧量化正交变换系数（包含色度残差系数），在解码侧接收并熵解码比特流获得量化系数，该系数包括第一色度通道（Cb）和第二色度通道（Cr）的残差系数块，因此直接公开了技术特征B。 |
| 技术特征C：获得定义所述第一量化参数与用于所述块的第二量化参数之间的关系的偏移。 **《直接公开》** | 对比文件[0069]：“第1のオフセット値cclm_1st_QP_offsetは、量子化パラメータQPYに対する量子化パラメータQPCb及びQPCrのオフセット値を示す。” （第一偏移值cclm_1st_QP_offset表示量化参数QPY相对于量化参数QPCb及QPCr的偏移值。） | 对比文件获得了第一偏移值，该偏移值定义了第一量化参数（QPY）与第二量化参数（QPCb、QPCr）之间的关系，因此直接公开了技术特征C。 |
| 技术特征D：确定所述块是否已使用跨通道残差编码模式被编码。 **（未公开）** | 对比文件[0066]：“CCLM予測モード検出部17には、イントラ予測部14で選択された予測モードを示す情報が供給される。CCLM予測モード検出部17は、入力された予測モードを示す情報がCCLM予測モードを示し、イントラ予測部14においてCCLM予測モードが選択されたことを検出したら、その旨を示す検出情報を量子化部4及び逆量子化部8に供給する。” （CCLM预测模式检测部17被提供表示由帧内预测部14选择的预测模式的信息。当输入的信息表示CCLM预测模式且帧内预测部14选择了CCLM预测模式时，检测部17向量化部4和逆量化部8提供表示该情况的检测信息。） | 对比文件检测的是CCLM预测模式（跨分量线性模型预测模式），这是一种预测模式，并非目标专利所述的跨通道残差编码模式（联合编码两个色度通道的残差）。对比文件未涉及联合残差编码模式，因此未公开技术特征D。 |
| 技术特征E：使用所述偏移和针对所述亮度通道得出的所述第一量化参数来确定所述第二量化参数的值，当所述块已使用跨通道残差编码模式被编码时，所述第二量化参数被配置为用于联合地反量化所述第一色度通道和所述第二色度通道的所述残差系数。 **（未公开）** | 对比文件[0070]-[0073]：“CCLM予測モードが選択されたとき、量子化パラメータ補正部42は、式(5)及び(6)のようにCCLM予測モードにおけるCb及びCr信号に対する量子化パラメータを補正する。” （当CCLM预测模式被选择时，量化参数校正部42如式(5)和(6)校正CCLM预测模式中Cb和Cr信号的量化参数。）<br>式(5): QPCb_cclm = Clip(QPCb + cclm_1st_QP_offset, 0, Max_QP_value)<br>式(6): QPCr_cclm = Clip(QPCr + cclm_1st_QP_offset + cclm_2nd_QP_offset, 0, Max_QP_value) | 对比文件使用偏移和亮度QP确定的是分别用于Cb和Cr通道的独立量化参数（QPCb_cclm和QPCr_cclm），并非一个联合用于反量化两个色度通道的第二量化参数。目标专利的第二量化参数是联合应用于两个色度通道的，对比文件未公开联合反量化，因此未公开技术特征E。 |
| 技术特征F：当所述块已使用跨通道残差编码模式被编码时，通过联合地使用所述偏移和用针对所述亮度通道得出的第一量化参数确定出的所述第二量化参数的值反量化所述第一色度通道和所述第二色度通道的所述经量化的残差系数，来重构针对所述第一色度通道和所述第二色度通道的残差样本，而不使用针对所述第一色度通道和所述第二色度通道的单独量化参数来反量化所述第一色度通道和所述第二色度通道的所述经量化的残差系数。 **（未公开）** | 对比文件[0077]：“量子化処理部43は、入力された直交変換係数を既定量子化パラメータQPCb及びQPCrまたは補正量子化パラメータQPCb_cclm及びQPCr_cclmで量子化して、量子化直交変換係数を出力する。” （量化处理部43使用既定量化参数QPCb和QPCr或校正量化参数QPCb_cclm和QPCr_cclm对输入的正交变换系数进行量化，并输出量化正交变换系数。）<br>对比文件[0106]：“逆量子化処理部233は、入力された直交変換係数を既定量子化パラメータQPCb及びQPCrまたは補正量子化パラメータQPCb_cclm及びQPCr_cclmで逆量子化して、逆量子化直交変換係数を出力する。” （逆量化处理部233使用既定量化参数QPCb和QPCr或校正量化参数QPCb_cclm和QPCr_cclm对输入的正交变换系数进行逆量化，并输出逆量化正交变换系数。） | 对比文件在量化/逆量化时始终分别使用Cb和Cr各自的量化参数（无论是既定参数还是校正参数），并未联合使用一个第二量化参数同时反量化两个色度通道的残差系数。因此未公开技术特征F。 |
| 技术特征G：还包括：提供指示，所述指示用于指示所述块要使用所述跨通道残差编码模式被编码。 **（未公开）** | 对比文件[0066]（同上）提供检测信息指示CCLM预测模式被选择。 | 对比文件提供的指示是针对CCLM预测模式，而非目标专利的跨通道残差编码模式。由于模式不同，未公开技术特征G。 |
| 技术特征H：还包括：当缺少指示时，确定所述块要使用跨通道残差编码模式被编码，所述指示用于指示所述块要使用所述跨通道残差编码模式被编码。 **（未公开）** | 对比文件未涉及缺少指示时的确定操作。 | 对比文件仅在CCLM预测模式被选择时提供指示，未讨论缺少指示的情形，因此未公开技术特征H。 |
| 技术特征I：其中：所述偏移在图片参数集合中被指示。 **《直接公开》** | 对比文件[0079]：“第1のオフセット値cclm_1st_QP_offset及び第2のオフセット値cclm_2nd_QP_offsetは、ビットストリームのスライスヘッダまたはピクチャパラメータセット(Picture Parameter Set)等のシンタックスで伝送されればよい。” （第一偏移值cclm_1st_QP_offset和第二偏移值cclm_2nd_QP_offset可以在比特流的切片头或图片参数集合（Picture Parameter Set）等语法中传输。） | 对比文件明确偏移可以在图片参数集合（PPS）中指示，因此直接公开了技术特征I。 |
| 技术特征J：图块组报头内的第二偏移被使用，以确定所述第二量化参数的值。 **（未公开）** | 对比文件[0079]（同上）仅提及切片头或PPS，未提及图块组报头（tile group header）。 | 对比文件未涉及图块组报头，也未使用其中的第二偏移，因此未公开技术特征J。 |
| 技术特征K：其中所述偏移的值是负整数或0。 **（未公开）** | 对比文件[0075]：“量子化パラメータQPCbと量子化パラメータQPCrとは近似するので第2のオフセット値cclm_2nd_QP_offsetは0となることがある。” （由于量化参数QPCb和QPCr近似，第二偏移值cclm_2nd_QP_offset有时为0。） | 对比文件仅提及第二偏移值可以为0，未明确偏移值为负整数。且对比文件[0081]描述量化步长变大、量化值变高，暗示偏移为正，因此未公开偏移值为负整数或0（0被提及但负整数未公开），故整体未公开。 |
| 技术特征L：还包括：确定所述偏移是否对于多个块是公共的或者包括预定值，其中当所述偏移对于多个块是公共的或者包括预定值时，所述偏移不是对于块分别被确定的。 **《直接公开》** | 对比文件[0121]：“第1のオフセット値cclm_1st_QP_offset及び第2のオフセット値cclm_2nd_QP_offsetをビットストリームで伝送せず、予め定めた固定値としてもよい。” （也可以不在比特流中传输第一偏移值cclm_1st_QP_offset和第二偏移值cclm_2nd_QP_offset，而设为预先确定的固定值。） | 对比文件公开了偏移值可以是预定固定值，即对于多个块是公共的，且不需要逐个块确定，因此直接公开了技术特征L。 |
| 技术特征M：还包括：当所述第一量化参数的值变化时，确定所述第二量化参数的值。 **《隐含公开》** | 对比文件[0083]-[0085]的流程图：对于每个块，当CCLM模式启用且被选择时，基于当前的QPCb和QPCr（其依赖于亮度QP）加上偏移生成校正QP。 | 对比文件在每个块的处理中确定量化参数，亮度QP可能随块变化，色度QP依赖于亮度QP，因此当亮度QP变化时，色度QP（第二量化参数）需要相应确定。虽然未明确表述，但本领域技术人员可以合理推断，因此隐含公开了技术特征M。 |
根据上述分析，对比文件直接公开了技术特征A、B、C、I、L，隐含公开了技术特征M。技术特征D、E、F、G、H、J、K未公开。
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