在开始，请明确对比文件的名称：2010-11-25_US2010296092A_发明申请_US20100296092A1 SINGLE-POLARIZER FOCUSED-BEAM ELLIPSOMETER，目标专利的名称：759光的接收和生成CN105940635B，以及本次调用的模型名称：DeepSeek-Chat。
以下是特征比对表格：
| 技术特征描述及公开性判断 | 对比文件原文引用（翻译及段落标号） | 公开性论述 |
| 技术特征A：包括：被配置为将所述光输入分成第一部分和第二部分的第一分束器，<直接公开> | 对比文件[0051]：“the polarizing beam splitter 221 vertically reflects some of the light and transmits the rest of the light” 翻译：偏振分束器221垂直反射一些光并透射其余的光。 | 对比文件中的偏振分束器221（作为分束部分220）将来自光源210的光输入直接分成反射部分和透射部分，即第一部分和第二部分。该功能与目标专利中第一分束器的作用相同，均是将光输入分成两部分。因此，技术特征A被直接公开。 |
| 技术特征B：被配置为从所述第一部分提供第一偏振部分和第二偏振部分的第一偏振分束器，<直接公开> | 对比文件[0051]-[0052]：“the polarizing beam splitter 221 vertically reflects some of the light and transmits the rest of the light, and the respective lights have specific polarization states” 和 “some of the light is reflected by the polarizing beam splitter 221 in FIG. 2, of which polarization direction has a characteristic of being aligned in an X-axis direction” 翻译：偏振分束器221垂直反射一些光并透射其余的光，且相应的光具有特定的偏振状态。一些光被反射，其偏振方向具有在X轴方向对齐的特性。 | 对比文件中的偏振分束器221从光输入（即对应于第一部分）提供具有特定偏振状态的反射光（第一偏振部分）和透射光（第二偏振部分）。这与目标专利中第一偏振分束器从第一部分提供两个偏振部分的功能一致。因此，技术特征B被直接公开。 |
| 技术特征C：其中所述第一偏振部分用于提供第一输出，<直接公开> | 对比文件[0052]和[0069]描述了反射光被用于照射样品并最终被检测。[0052]：“some of the light is reflected by the polarizing beam splitter 221 ... of which polarization direction has a characteristic of being aligned in an X-axis direction parallel to the inclined reflection face within the polarizing beam splitter 221.” 翻译：一些光被偏振分束器221反射，其偏振方向具有在X轴方向对齐的特性。[0069]：“only the polarization component parallel to a Y-axis direction is filtered while the light is transmitted through the polarizing beam splitter, and then arrived at the position 410B” 翻译：只有平行于Y轴方向的偏振分量被过滤，同时光通过偏振分束器透射，然后到达位置410B。 | 对比文件中，反射光（第一偏振部分）被用于后续光路，最终被光电探测器250检测，相当于提供了第一输出。该输出用于测量样品的光学特性，与目标专利中第一偏振部分用于提供第一输出的作用相同。因此，技术特征C被直接公开。 |
| 技术特征D：并且所述第二偏振部分用于提供第二输出，<直接公开> | 对比文件[0069]：“only the polarization component parallel to a Y-axis direction is filtered while the light is transmitted through the polarizing beam splitter, and then arrived at the position 410B” 翻译：只有平行于Y轴方向的偏振分量被过滤，同时光通过偏振分束器透射，然后到达位置410B。 | 对比文件中，透射光（第二偏振部分）被过滤后到达光电探测器250，相当于提供了第二输出。该输出用于测量样品的光学特性，与目标专利中第二偏振部分用于提供第二输出的作用相同。因此，技术特征D被直接公开。 |
| 技术特征E：被配置为改变在所述第二部分中的光的偏振的至少一个偏振改变器件，<未公开> | 对比文件[0055]-[0056]提供补偿器280：“a compensator 280 may be further provided between the polarizing beam splitter 221 and the objective lens 230 so as to control the polarization state of the light incident to the specimen 240.” 和 “The compensator 280 is for compensating, in front of the objective lens 230, the light split by the beam splitting part 220.” 翻译：补偿器280可以进一步设置在偏振分束器221和物镜230之间，以控制入射到样品240的光的偏振状态。补偿器280用于在物镜230前补偿由分束部分220分出的光。 | 对比文件中的补偿器280设置在偏振分束器221和物镜230之间，用于改变光的偏振。然而，该补偿器改变的是从偏振分束器221反射的光（对应于第一部分）的偏振，而不是第二部分（透射光）的偏振。目标专利明确要求偏振改变器件用于改变第二部分中的光的偏振，而对比文件中第二部分（透射光）未被偏振改变器件处理。因此，技术特征E未被对比文件公开。 |
| 技术特征F：被配置为接收由相应的至少一个偏振改变器件改变的光并且从其提供至少一个第三偏振部分用于提供至少一个第三输出的至少一个第二偏振分束器，<未公开> | 对比文件全文未公开第二偏振分束器。 | 对比文件仅使用一个偏振分束器221，没有公开任何第二偏振分束器来接收改变后的光并提供第三偏振部分。目标专利中第二偏振分束器的功能在对比文件中完全缺失。因此，技术特征F未被公开。 |
| 技术特征G：以及至少一个光偏转器件，<未公开> | 对比文件全文未公开光偏转器件。 | 对比文件没有公开任何用于定向光的光偏转器件。目标专利中的光偏转器件用于将特定偏振部分的光定向为平行，该特征在对比文件中未被提及或暗示。因此，技术特征G未被公开。 |
| 技术特征H：所述至少一个光偏转器件被配置为将在由所述第一偏振分束器产生的所述第二偏振部分和由所述至少一个第二偏振分束器产生的至少一个第四偏振部分中的光定向为在所述设备的相应输出处与所述第一偏振部分平行，<未公开> | 对比文件全文未公开光偏转器件及相应定向功能。 | 由于对比文件未公开光偏转器件（特征G未公开）和第二偏振分束器（特征F未公开），因此无法公开该组合特征。对比文件中没有将第二偏振部分或第四偏振部分的光定向为与第一偏振部分平行的结构或功能。因此，技术特征H未被公开。 |
| 技术特征I：其中所述至少一个第二偏振分束器被配置为提供至少一个第四输出，<未公开> | 对比文件全文未公开第二偏振分束器。 | 对比文件没有公开第二偏振分束器，因此无法提供第四输出。目标专利中第二偏振分束器提供第四输出的功能在对比文件中完全缺失。因此，技术特征I未被公开。 |
| 技术特征J：其中所述至少一个偏振改变器件包括半波片和/或四分之一波片，<未公开> | 对比文件[0055]-[0057]描述了补偿器280，但未指定其为半波片或四分之一波片。 | 对比文件中的补偿器280可以是任意类型的波片或偏振控制器，但未明确公开其为半波片或四分之一波片。本领域技术人员不能毫无疑义地从对比文件中得出补偿器280是半波片或四分之一波片。因此，技术特征J未被公开。 |
| 技术特征K：其中所述至少一个偏振改变器件包括：第一偏振改变器件，以及被配置为提供不同的偏振改变的第二偏振改变器件，并且其中，所述设备进一步包括:被配置为将所述第二部分进一步分成第三部分和第四部分并且将所述第三部分投射到第二偏振分束器中以及将所述第四部分投射到所述第二偏振改变器件中的第二分束器，其中所述第二偏振分束器被配置为从传播通过所述第一偏振改变器件的光提供第三输出和第四输出，以及被配置为接收由所述第二偏振改变器件改变的光并且提供第五输出和第六输出的第三偏振分束器，<未公开> | 对比文件全文未公开多个偏振改变器件、第二分束器、第二偏振分束器或第三偏振分束器。 | 对比文件仅具有一个偏振分束器221和一个补偿器280，没有公开目标专利中的复杂结构，包括第一和第二偏振改变器件、第二分束器以及第三偏振分束器。目标专利中通过多个元件实现六输出偏振分析的功能在对比文件中完全缺失。因此，技术特征K未被公开。 |
| 技术特征L：包括以串行配置或并行配置来布置的至少两个偏振改变器件，用于改变在所述第二部分中的光的偏振，<未公开> | 对比文件全文未公开两个偏振改变器件。 | 对比文件仅具有一个补偿器280作为偏振改变器件，没有公开两个或更多偏振改变器件，无论是串行还是并行配置。因此，技术特征L未被公开。 |
| 技术特征M：包括被配置为在所述多个输出处探测光的探测器设备，所述探测器设备包括单光子探测器阵列和电荷耦合器件、CCD、相机中的一个，<直接公开> | 对比文件[0062]：“the photodetector 250 is preferably provided with a two-dimensional imaging device which has a plurality of unit cells and is able to observe an image of the surface of the specimen by measuring two-dimensional light intensity image. At this time, an example of the imaging device includes a charge-coupled device (CCD).” 翻译：光电探测器250优选设置有二维成像设备，具有多个单元电池，能够通过测量二维光强图像来观察样品表面的图像。此时，成像设备的示例包括电荷耦合器件(CCD)。 | 对比文件公开了光电探测器250包括CCD相机，这满足目标专利技术特征M中“电荷耦合器件、CCD、相机中的一个”的要求。对比文件中的光电探测器用于探测经过偏振分束后的光信号，与目标专利中探测器设备用于在多个输出处探测光的作用相似。因此，技术特征M被直接公开。 |
| 技术特征N：其中在所述多个输出和所述单光子探测器阵列之间设置针孔或透镜布置，<未公开> | 对比文件[0063]：“an optical system 251 provided with a relay lens is preferably provided to improve the measuring performance of the photodetector.” 翻译：优选提供具有中继透镜的光学系统251以改善光电探测器的测量性能。 | 对比文件公开了在光电探测器前设置透镜布置（光学系统251），但该透镜布置是针对单个输出路径（整个光束），并非设置在“多个输出”和“单光子探测器阵列”之间。目标专利中的“多个输出”和“单光子探测器阵列”在对比文件中均未公开，因此该特征未能被对比文件公开。对比文件没有公开针孔布置。因此，技术特征N未被公开。 |
| 技术特征O：其中所述设备被配置用于接收光学信号，用于量子加密、椭圆偏振术或偏振测量，<直接公开> | 对比文件标题和[0001]：“SINGLE-POLARIZER FOCUSED-BEAM ELLIPSOMETER” 和 “The present invention relates to a single-polarizer focused-beam ellipsometer” 翻译：单偏振器聚焦光束椭偏仪。以及[0077]：“The single-polarizer focused-beam ellipsometer according to the present invention” 翻译：根据本发明的单偏振器聚焦光束椭偏仪。 | 对比文件明确公开了其设备为椭偏仪，用于椭圆偏振术（ellipsometry），这直接对应目标专利技术特征O中的“椭圆偏振术”。对比文件中的设备通过接收光学信号并分析偏振状态来测量样品的光学特性，与目标专利中设备用于接收光学信号的目的相同。因此，技术特征O被直接公开。 |
根据对比文件直接公开了技术特征A、B、C、D、M、O，未公开其他技术特征。因此，在回答的结尾插入对应的大写英文代码。
<<<A>>><<<B>>><<<C>>><<<D>>><<<M>>><<<O>>>