好的，作为一名经验丰富的资深专利代理师，我将严格遵循您的指示，对对比文件WO2003030091A1（下文简称D1）与目标专利CN101689080B的权利要求技术特征进行逐项比对和分析。
首先，请确认本次评估的基本信息：
- **对比文件名称**: 2003-04-10_WO2003030091A_发明申请_WO2003030091A1 TOUCH PANEL SYSTEM AND METHOD FOR DISTINGUISHING MULTIPLE TOUCH INPUTS
- **目标专利名称**: 用于触摸传感器的装置以及相关装置和方法 CN101689080B
- **本次调用的模型名称**: DeepSeek
以下为详细的特征比对表格和公开性分析。
### 特征比对表格
| 技术特征描述以及公开性判断结果 | 对比文件原文引用（中文翻译） | 公开性论述 |
| 技术特征A：通过将触摸信号与一个或多个基准阈值相比较来检测触摸输入，<br><br>《直接公开》 | 【p0035】“...将适当信号（例如，通过指定点或指定点的总电流）与单次触摸的最小阈值进行比较。...如果信号高于最小阈值，则将其与单次触摸的最大阈值进行比较。”<br><br>【p0056】“在步骤101中，将ΣI与预定的最小阈值ΣITH进行比较，以确定触摸信号是否具有足够大的幅度以保证测量触摸位置。” | 对比文件D1明确公开了通过将触摸信号（如总电流ΣI）与一个或多个基准阈值（如最小阈值ΣITH、最大阈值ΣIAMAX）进行比较来判断是否存在触摸输入的技术方案。这与技术特征A完全一致。 |
| 技术特征B：并用于处理信号以确定多重同时共存触摸输入的各个位置，<br><br>《直接公开》 | 【p0007】“本发明提供了一种触摸系统和方法，用于识别时间上重叠的触摸事件...通过这样做，触摸系统可以被设计为避免报告错误的或‘幻影’触摸位置，并正确报告构成重叠触摸输入的任何一个或多个单次触摸事件。”<br><br>【p0052】“当第二个人25B在触摸传感器上的位置B进行触摸，同时第一个人25A仍在触摸时...系统有效地计算了两个触摸位置的平均值。”<br><br>【p0038】“...可以将来自先前报告的触摸位置的测量数据从双重触摸测量数据中减去，以便可以计算并报告第二触摸位置...” | D1的发明目的和多个实施例均围绕处理信号以区分时间上重叠的触摸输入，并通过特定算法（如减去已知单次触摸信号）来确定重叠触摸中各个有效触摸的位置。这直接公开了技术特征B。 |
| 技术特征C：所述装置包括：用于利用环境基准阈值作为基准阈值检测第一触摸的模块，<br><br>《隐含公开》 | 【p0028】“用于计算触摸位置的测量信号是相对于背景水平确定的，背景水平是在没有施加触摸时存在的残余信号水平。”<br><br>【p0053】“...每个用户通过在正常使用前触摸传感器11来校准其触摸信号幅度。该信息随后可用于设置阈值，以区分单次触摸与双重触摸。” | D1明确提到了“背景水平”（background level）作为触摸检测的基准。当系统启动或处于无触摸状态时，该背景水平即构成了“环境基准阈值”。检测到信号超过此背景水平（即最小阈值）即视为第一触摸。虽然D1未使用“环境基准阈值”这一术语，但其功能和作用与目标专利完全相同，即作为检测第一触摸的初始基准。因此，该特征被隐含公开。 |
| 技术特征D：用于执行第一触摸校准，以提供第一基准阈值的模块，<br><br>《隐含公开》 | 【p0038】“如果双重触摸之前紧跟着一个可归属于双重触摸中一个触摸的已报告单次触摸，则可以将来自先前报告的触摸位置的测量数据从双重触摸测量数据中减去，以便可以计算并报告第二触摸位置，本质上是从双重触摸数据中反推出一个原本隐藏的有效触摸位置。”<br><br>【p0053】“...每个用户通过在正常使用前触摸传感器11来校准其触摸信号幅度。该信息随后可用于设置阈值，以区分单次触摸与双重触摸。” | D1的算法在确定存在双重触摸后，会利用已确认的单次触摸信号（如第一触摸）的数据来更新或调整用于检测的基准。例如，从总信号中减去已知的第一触摸信号。这个过程本质上是对触摸环境进行再校准，以提供一个考虑了第一触摸影响的新基准（第一基准阈值）。这种在校准阶段或检测到第一触摸后动态调整阈值的思想与目标专利一致。因此，该特征被隐含公开。 |
| 技术特征E：所述第一基准阈值补偿与所述第一触摸关联的信号，<br><br>《隐含公开》 | 【p0038】“...可以将来自先前报告的触摸位置的测量数据从双重触摸测量数据中减去...” | D1中的减法操作“减去”第一触摸的信号，正是为了消除或补偿第一触摸对后续检测的影响。新生成的基准（即减去第一触摸信号后的剩余部分）自然补偿了第一触摸关联的信号。这与技术特征E“补偿与所述第一触摸关联的信号”的内涵完全一致。因此，该特征被隐含公开。 |
| 技术特征F：用于通过将所述第一基准阈值用作基准阈值来检测后续而同时共存的第二触摸的位置的模块，<br><br>《隐含公开》 | 【p0038】“...可以将来自先前报告的触摸位置的测量数据从双重触摸测量数据中减去，以便可以计算并报告第二触摸位置...” | D1的上述减法和反推过程，其目的正是在第一触摸存在（补偿后）的背景下，利用新的基准来检测和定位第二触摸。这与目标专利中“将第一基准阈值用作基准阈值来检测后续而同时共存的第二触摸的位置”的功能和目的完全相同。因此，该特征被隐含公开。 |
| 技术特征G：其中所述装置还包括在第二触摸的检测之后执行第二基准校准，以提供第二基准阈值的模块，所述第二基准阈值补偿与同时共存的第二触摸关联的信号，并且所述装置还包括通过将所述第二基准阈值用作检测接下来的同时共存第三触摸的基准阈值来检测所述接下来的同时共存第三触摸的模块。<br><br>《隐含公开》 | 【p0038】“如果新的测量结果是已报告的单次触摸，系统会检查紧接的前一个测量结果是否是一个未报告但已存储的双重触摸。如果是，可以从存储的双重触摸数据中减去新的单次触摸数据，以便计算先前未报告的、与刚报告的单次触摸重叠的单次触摸。” | D1明确描述了在检测到第二触摸（从重叠信号中反推出）后，可以利用该第二触摸信号去进一步解算其他重叠信号。这个过程本质上是在检测到第二触摸后，执行一次新的校准（第二基准校准），以补偿第二触摸信号，从而使得系统能够检测和定位可能存在的第三触摸。该过程可以迭代进行，其核心思想与目标专利完全一致。因此，该特征被隐含公开。 |
| 技术特征H：其中所述装置用于触摸传感器，所述触摸传感器包括为用户限定的多个区域，并且其中所述第一触摸关联于为用户限定的区域中的一个的用户触摸，并且其中同时共存的第二触摸关联于为用户限定的区域中的另一个的同时共存的用户触摸。<br><br>《直接公开》 | 【p0053】“例如，如图5示意性所示，位于透明触摸屏69后面的显示器上显示的图像可以代表两列虚拟按钮图标67和68，分别位于区域62A和区域62B中。”<br><br>【p0053】“因此，对区域62A和区域62B中图标的任何触摸...都可能是有效的触摸。”<br><br>【p0054】“例如，一个在区域62A和区域62B被触摸的电容式...触摸屏69将产生一个大约在两个触摸点中间的测量触摸点...” | D1明确公开了触摸屏具有为用户限定的多个区域（如虚拟按钮图标区域62A和62B），并且描述了当两个用户（或一个用户）分别触摸这些不同区域时，系统会检测到重叠触摸。这直接公开了技术特征H。 |
| 技术特征I：其中所述装置用于触摸传感器，所述触摸传感器包括为用户限定的特定区域，并且其中所述第一触摸和一个或多个后续同时共存触摸关联于用户的使用相同区域的多重选择。<br><br>《未公开》 | 【p0054】“然而，测量到位于区域62A（或62B）的触摸不太可能是两个用户在触摸屏69两侧触摸的结果，因为第二个用户在屏幕右侧任何地方的触摸都可能导致组合的测量触摸点位于区域62A之外。” | D1虽然定义了多个区域，但其处理重叠触摸的核心场景是两个用户触摸**不同**的区域。虽然理论上单个用户可以在同一区域进行快速多点触摸，但D1并未描述或暗示在同一个**限定区域**内检测**同时共存**的多重触摸。D1更关注于区分不同区域的重叠触摸。因此，该技术特征未被公开。 |
| 技术特征J：其中所述第一触摸被配置为关联于用于用户选择的选项菜单的提供，并且所述第二触摸关联于菜单选项中的一个的选择。<br><br>《未公开》 | 全文未发现关于第一触摸用于提供菜单，第二触摸用于选择菜单选项的教导或暗示。 | D1主要关注于触摸位置的物理检测和区分，并未涉及通过第一触摸激活菜单、第二触摸选择菜单项这样具体的用户界面交互逻辑。因此，该技术特征未被公开。 |
| 技术特征K：所述装置包括：用于检测触摸输入的模块，<br><br>《直接公开》 | 【p0033】“电容式触摸屏通过测量用户触摸时流过几个端子（通常位于触摸面板的四个角）中每一个的电流来工作。”<br><br>【p0035】“在进行了新的测量，从中可以计算位置数据和信号幅度后，可以执行多个测试或决策步骤中的任何一个。” | D1的整个系统和方法都是围绕检测触摸输入展开的，其传感器、电路和算法共同构成了“用于检测触摸输入的模块”。这是D1最基本的功能，因此被直接公开。 |
| 技术特征L：用于提供与所检测的触摸输入关联的额外信号的模块，<br><br>《直接公开》 | 【p0030】“根据本发明，由重叠触摸产生的、导致信号大于单次触摸阈值范围的幻影触摸位置不会被报告，而是可以存储由此类大信号产生的信息，并用于检测第二触摸的位置...”<br><br>【p0052】“当第二个人25B在触摸传感器上的位置B进行触摸...流过电源的总电流以及流过传感器四个角的四个电流通常会增大。” | D1明确将触摸输入（特别是重叠触摸）引起的信号变化（如总电流增大）视为一种可测量的“额外信号”或“信息”。这些信号被测量、存储和用于后续处理。这与技术特征L完全一致。 |
| 技术特征M：用于通过补偿与所述触摸关联的额外信号来提供与所检测的触摸相应的基准阈值的模块。<br><br>《隐含公开》 | 【p0038】“...可以将来自先前报告的触摸位置的测量数据从双重触摸测量数据中减去...”<br><br>【p0035】“...如果信号后来下降到最大阈值以下但保持在最小阈值以上，则可以报告新的触摸位置。” | D1中“减去”已知触摸信号的步骤，正是“补偿与所述触摸关联的额外信号”的体现。通过这种补偿，系统实际上获得了一个新的、动态调整的基准（阈值），用于判断和定位后续的触摸。因此，该特征被隐含公开。 |
| 技术特征N：其中用于提供基准阈值的模块被配置为移除与所述触摸关联的额外信号，以提供所述相应的基准阈值。<br><br>《隐含公开》 | 【p0038】“...可以将来自先前报告的触摸位置的测量数据从双重触摸测量数据中减去...” | D1的“减去”（subtracting out）操作是“移除”信号的最直接体现。通过减去已确认的触摸信号，系统能重构出不含该触摸影响的信号环境，从而提供新的检测基准。这与技术特征N的定义完全吻合。因此，该特征被隐含公开。 |
| 技术特征O：其中：所述用于检测触摸输入的模块被配置为通过检测由触摸输入引起的所检测电容的减少来检测触摸输入，<br><br>《隐含公开》 | 【p0033】“电容式触摸屏通过测量用户触摸时流过几个端子（通常位于触摸面板的四个角）中每一个的电流来工作。”<br><br>【p0052】“当第二个人25B在触摸传感器上的位置B进行触摸...流过电源的总电流以及流过传感器四个角的四个电流通常会增大。” | D1描述电容触摸原理时，虽然提到触摸会增加电流，但本领域技术人员公知，电容触摸检测的本质是触摸导致电极与地之间的电容变化（通常是增加一个分流电容，导致检测到的总电容变化），进而引起电流变化。D1中测量电流增大，其物理根源即为电容的改变。目标专利说明书【0011】段也指出电容检测有多种方式。因此，D1隐含公开了通过检测电容变化（进而表现为电流变化）来检测触摸。 |
| 技术特征P：与所检测的触摸输入关联的额外信号被配置为代表由所述触摸输入引起的所检测电容的所检测减少。<br><br>《未公开》 | 全文未提及触摸导致“电容减少”。对比文件D1主要从电流增大的角度描述触摸信号。 | 目标专利说明书【0033】段明确指出“触摸关联于所检测的电容的减少”，并在后续权利要求中将其作为特定信号特征。D1未提及电容减少这一特定物理现象，也未将额外信号与电容减少相关联。因此，该特征未被公开。 |
| 技术特征Q：其中所述装置被配置为通过检测由触摸输入引起的所检测电容的减少来检测触摸输入。<br><br>《未公开》 | 同特征P的论述。 | 理由同技术特征P，D1未公开或暗示通过检测电容减少来检测触摸输入的具体配置。 |
| 技术特征R：其中所述装置包括：用于通过检测由触摸输入引起的所检测电容的减少来检测触摸输入的模块，<br><br>《未公开》 | 同特征P的论述。 | 理由同技术特征P，D1未公开对应的检测模块。 |
| 技术特征S：用于提供与所检测的触摸输入关联的额外信号的模块，所述额外信号被配置为代表由所述触摸输入引起的所检测电容的所检测减少，<br><br>《未公开》 | 同特征P的论述。 | 理由同技术特征P，D1未公开对应的信号提供模块。 |
| 技术特征T：用于通过补偿与所述触摸关联的额外信号来提供与所检测的触摸相应的基准阈值的模块。<br><br>《隐含公开》 | 【p0038】“...可以将来自先前报告的触摸位置的测量数据从双重触摸测量数据中减去...”<br><br>【p0035】“...如果信号后来下降到最大阈值以下但保持在最小阈值以上，则可以报告新的触摸位置。” | 此特征与特征M类似，但未限定信号是代表电容减少。D1的减法操作补偿了与触摸关联的额外信号（如电流增量），从而提供了一个新的、动态的基准阈值。因此，该特征被隐含公开。 |
| 技术特征U：其中所述装置还包括用于执行环境校准的模块，以提供在所述第一触摸的检测中要使用的所述环境基准阈值。<br><br>《直接公开》 | 【p0028】“用于计算触摸位置的测量信号是相对于背景水平确定的，背景水平是在没有施加触摸时存在的残余信号水平。”<br><br>【p0053】“...每个用户通过在正常使用前触摸传感器11来校准其触摸信号幅度。该信息随后可用于设置阈值...” | D1明确提到了“背景水平”（环境基准）和“校准”（calibration）步骤，特别是用户在使用前进行校准以确定单次触摸的阈值范围。这个校准步骤的目的正是为了提供一个准确的环境基准阈值，用于后续的第一次触摸检测。因此，该特征被直接公开。 |
| 技术特征V：其中所述装置包括用于在所述第一触摸的检测之后在执行所述第一触摸校准之前，等待预定时间段的模块。<br><br>《未公开》 | 全文未发现关于在检测到第一触摸后、执行触摸校准前，需要等待一个“预定时间段”的教导或暗示。 | D1的算法流程主要是连续的测量和判断（如【p0055】-【p0056】的S次采样），未见有引入一个特定的等待延迟来分离检测事件和校准事件的设计。因此，该技术特征未被公开。 |
| 技术特征W：包括：用于提供信号以确定触摸输入的检测的电路。<br><br>《直接公开》 | 【p0033】“电容式触摸屏通过测量用户触摸时流过几个端子（通常位于触摸面板的四个角）中每一个的电流来工作。”<br><br>【p0051】“图4示意性地示出了一个电容式触摸系统，包括传感器11、电源14和配套电子设备15。” | D1作为一个完整的触摸系统，必然包含用于提供信号的电路，如电源14、电流测量电路、电极等，这些电路共同用于确定触摸输入的检测。因此，该特征被直接公开。 |
| 技术特征X：其中所述装置用于矩阵型触摸传感器。<br><br>《未公开》 | 全文未提及“矩阵型”（matrix）传感器或类似的电极网格结构。D1主要描述了四角电容式、电阻式和声表面波等类型的触摸传感器。 | 目标专利说明书【0008】段将“矩阵方法”作为电容触控板的一种主要工作方式进行了描述，这是一种特定的电极结构和测量原理。D1未涉及此种特定类型。因此，该特征未被公开。 |
| 技术特征Y：其中用于提供信号以确定触摸输入的检测的电路包括：第一和第二相互设置的偶极子电极对，所述对被配置为彼此正交，以用作检测电容改变的传感器。<br><br>《未公开》 | 全文未发现关于“偶极子电极对”或正交设置的电极对结构的描述。D1的四角电容传感器结构与这种正交偶极子对结构不同。 | 目标专利说明书【0078】段和【0079】段明确描述了这种正交偶极子电极对的结构和工作原理。D1未公开此特定电路结构。因此，该特征未被公开。 |
| 技术特征Z：其中用于提供信号以确定触摸输入的检测的电路包括：用于测量板的对地电容的脉冲电路。<br><br>《未公开》 | 全文未发现关于通过脉冲电路测量“板的对地电容”的描述。D1主要描述测量流过角电极的电流。 | 目标专利说明书【0014】段描述了利用脉冲电路测量板对地电容的原理。D1未公开此特定类型的信号检测电路。因此，该特征未被公开。 |
### 总结
根据以上严谨的比对分析，对比文件WO2003030091A1公开了目标专利CN101689080B的权利要求中的部分技术特征。具体结论如下：
- **直接公开的特征**：A, B, H, K, L, U, W
- **隐含公开的特征**：C, D, E, F, G, M, N, O, T
- **未公开的特征**：I, J, P, Q, R, S, V, X, Y, Z
根据您的输出格式要求，现插入对应代码。
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