对比文件名称：2006-04-04_US7023427B_发明授权_US07023427B2 Method and system for detecting multiple touches on a touch-sensitive screen
目标专利名称：用于触摸传感器的装置以及相关装置和方法 CN101689080B
本次调用模型名称：AI Assistant
以下根据目标专利权利要求的技术特征划分，逐项对比并判断对比文件是否直接或隐含公开。特征比对表格中，第一栏为技术特征描述及公开性判断，第二栏为对比文件原文引用（翻译为中文），第三栏为公开性论述。
| 技术特征描述及公开性判断 | 对比文件原文引用（翻译） | 公开性论述 |
| 技术特征A：通过将触摸信号与一个或多个基准阈值相比较来检测触摸输入。（未公开） | 对比文件全文未描述通过将触摸信号与基准阈值比较来检测触摸输入。其检测触摸的方式为：电阻屏通过测量电压坐标，SAW屏通过检测波前变化，光学屏通过检测光束中断（参见[0035]、[0050]、[0052]）。仅在检测到多重触摸时使用阈值比较（步骤614、618），但该阈值用于判断多点间距而非用于检测触摸输入本身。 | 对比文件没有公开任何用于触摸检测的基准阈值，其触摸检测基于直接测量信号变化（电压、波、光），而非与预设阈值比较。本领域技术人员不能从对比文件毫无疑义地得出该特征，也不存在合理推断的基础。因此未公开。 |
| 技术特征B：并用于处理信号以确定多重同时共存触摸输入的各个位置。（未公开） | 对比文件明确不提供各个单独触摸位置，仅检测多重触摸的存在并给出边界（边界框），然后要么警告用户，要么从边界插值一个意图的单个触摸位置（参见[0010]、[0058]、[0062]）。未描述确定每个触摸的独立位置。 | 对比文件的目的仅是检测多重触摸并避免其干扰，不解析各个触摸位置。本领域技术人员无法从对比文件得出“确定各个位置”的技术方案。因此未公开。 |
| 技术特征C：所述装置包括：用于利用环境基准阈值作为基准阈值检测第一触摸的模块。（未公开） | 对比文件没有“环境基准阈值”的概念，也未描述在检测第一触摸时使用任何环境基准阈值。其触摸检测基于直接测量，无此模块。 | 对比文件全文未提及环境校准或环境基准阈值，本领域技术人员无法推断出该特征。因此未公开。 |
| 技术特征D：用于执行第一触摸校准，以提供第一基准阈值的模块。（未公开） | 对比文件没有在第一触摸后执行校准以提供基准阈值的任何描述。其仅在初始设置多重触摸判别阈值（步骤600），该阈值不因触摸而更新。 | 对比文件不涉及触摸后校准，无“第一基准阈值”概念。因此未公开。 |
| 技术特征E：所述第一基准阈值补偿与所述第一触摸关联的信号。（未公开） | 对比文件不存在基准阈值，更不存在补偿第一触摸信号。其处理多重触摸时忽略或丢弃额外触摸，不进行信号补偿。 | 对比文件无任何信号补偿机制，本领域技术人员无法得出该特征。因此未公开。 |
| 技术特征F：用于通过将所述第一基准阈值用作基准阈值来检测后续而同时共存的第二触摸的位置的模块。（未公开） | 对比文件检测第二触摸时仍使用原始测量方式，不依赖于第一触摸后的基准阈值。当多重触摸存在时，对比文件不区分第一、第二触摸，而是整体检测。 | 对比文件没有动态阈值更新以检测后续触摸，无此模块。因此未公开。 |
| 技术特征G：其中所述装置还包括在第二触摸的检测之后执行第二基准校准，以提供第二基准阈值的模块，所述第二基准阈值补偿与同时共存的第二触摸关联的信号，并且所述装置还包括通过将所述第二基准阈值用作检测接下来的同时共存第三触摸的基准阈值来检测所述接下来的同时共存第三触摸的模块。（未公开） | 对比文件无任何逐次校准或补偿，更无第三触摸检测。其检测多重触摸后即停止或插值，不依次识别多个触摸。 | 对比文件完全不涉及多次校准和阈值更新，无法推断该特征。因此未公开。 |
| 技术特征H：其中所述装置用于触摸传感器，所述触摸传感器包括为用户限定的多个区域，并且其中所述第一触摸关联于为用户限定的区域中的一个的用户触摸，并且其中同时共存的第二触摸关联于为用户限定的区域中的另一个的同时共存的用户触摸。（未公开） | 对比文件未将触摸屏划分为用户限定的多个区域，也未将触摸与特定区域关联。其处理触摸时基于坐标，不涉及预定义区域。 | 对比文件没有区域限定概念，无法得出该特征。因此未公开。 |
| 技术特征I：其中所述装置用于触摸传感器，所述触摸传感器包括为用户限定的特定区域，并且其中所述第一触摸和一个或多个后续同时共存触摸关联于用户的使用相同区域的多重选择。（未公开） | 对比文件没有用户限定区域，不涉及相同区域的多重选择。 | 对比文件无此教导，未公开。 |
| 技术特征J：其中所述第一触摸被配置为关联于用于用户选择的选项菜单的提供，并且所述第二触摸关联于菜单选项中的一个的选择。（未公开） | 对比文件未提及菜单提供或选项选择。其应用场景为一般触摸输入，不涉及菜单交互。 | 对比文件无此特征，未公开。 |
| 技术特征K：其中所述装置包括：用于检测触摸输入的模块。（直接公开） | [0055]：“如果探针以改变的状态到达检测器或根本没有到达检测器，则检测到触摸，并且触摸的水平坐标存储在步骤906中。” [0041]：“步骤602……配置导电表面以测量触摸屏上触摸位置的垂直坐标。” | 对比文件明确公开了检测触摸输入的模块（测量电路及控制逻辑），该模块用于检测触摸输入，与目标专利作用相同。因此直接公开。 |
| 技术特征L：用于提供与所检测的触摸输入关联的额外信号的模块。（直接公开） | [0035]：“Vsense=Vsource*(R2/(R1+R2))”，测量电压信号与触摸位置相关；[0050]：“接收器708……测量电路可以使用到达时间的变化来计算触摸的水平位置。” | 对比文件中，触摸输入引起电压、波或光信号的变化，测量电路提供这些额外信号（如电压值、时间差、光束状态），用于确定触摸。该模块直接公开。 |
| 技术特征M：用于通过补偿与所述触摸关联的额外信号来提供与所检测的触摸相应的基准阈值的模块。（未公开） | 对比文件无任何补偿额外信号以提供基准阈值的模块。其测量直接使用原始信号，不进行补偿。 | 对比文件不涉及补偿，未公开。 |
| 技术特征N：其中用于提供基准阈值的模块被配置为移除与所述触摸关联的额外信号，以提供所述相应的基准阈值。（未公开） | 对比文件无移除额外信号的操作。 | 对比文件无此配置，未公开。 |
| 技术特征O：其中：所述用于检测触摸输入的模块被配置为通过检测由触摸输入引起的所检测电容的减少来检测触摸输入。（未公开） | 对比文件主要涉及电阻、SAW、光学触摸技术，未涉及电容触摸。虽提及电容式触摸屏（[0032]），但未描述其检测原理，更未提到通过检测电容减少来检测触摸。 | 对比文件未公开电容检测的具体方式，本领域技术人员不能从对比文件得出该特征。因此未公开。 |
| 技术特征P：与所检测的触摸输入关联的额外信号被配置为代表由所述触摸输入引起的所检测电容的所检测减少。（未公开） | 对比文件未涉及电容减少信号。 | 对比文件无此内容，未公开。 |
| 技术特征Q：其中所述装置被配置为通过检测由触摸输入引起的所检测电容的减少来检测触摸输入。（未公开） | 同O，对比文件未公开电容减少检测。 | 未公开。 |
| 技术特征R：其中所述装置包括：用于通过检测由触摸输入引起的所检测电容的减少来检测触摸输入的模块。（未公开） | 同O，对比文件未公开。 | 未公开。 |
| 技术特征S：用于提供与所检测的触摸输入关联的额外信号的模块，所述额外信号被配置为代表由所述触摸输入引起的所检测电容的所检测减少。（未公开） | 对比文件未涉及电容减少信号。 | 未公开。 |
| 技术特征T：用于通过补偿与所述触摸关联的额外信号来提供与所检测的触摸相应的基准阈值的模块。（未公开） | 对比文件无补偿和基准阈值提供。 | 未公开。 |
| 技术特征U：其中所述装置还包括用于执行环境校准的模块，以提供在所述第一触摸的检测中要使用的所述环境基准阈值。（未公开） | 对比文件无环境校准模块，也未提供环境基准阈值。 | 对比文件未公开任何校准过程，未公开。 |
| 技术特征V：其中所述装置包括用于在所述第一触摸的检测之后在执行所述第一触摸校准之前，等待预定时间段的模块。（未公开） | 对比文件无等待时间段的概念。 | 未公开。 |
| 技术特征W：包括：用于提供信号以确定触摸输入的检测的电路。（直接公开） | [0035]：电阻屏测量电路320提供电压信号；[0050]：SAW屏测量电路710提供时间信号；[0052]：光学屏测量电路812提供光束状态信号。这些电路均用于提供信号以确定触摸输入。 | 对比文件明确公开了提供信号的电路（如测量电路320、710、812），该电路用于产生触摸检测所需的信号，与目标专利作用相同。因此直接公开。 |
| 技术特征X：其中所述装置用于矩阵型触摸传感器。（未公开） | 对比文件未提及矩阵型触摸传感器。其描述的电阻、SAW、光学触摸屏均非矩阵型。 | 对比文件未公开矩阵型传感器，未公开。 |
| 技术特征Y：其中用于提供信号以确定触摸输入的检测的电路包括：第一和第二相互设置的偶极子电极对，所述对被配置为彼此正交，以用作检测电容改变的传感器。（未公开） | 对比文件无偶极子电极对结构，其电阻屏使用导电表面和边缘导体，SAW屏使用换能器和反射器，光学屏使用发射器和检测器阵列，均非正交偶极子电极对。 | 对比文件未公开该特定电路结构，未公开。 |
| 技术特征Z：其中用于提供信号以确定触摸输入的检测的电路包括：用于测量板的对地电容的脉冲电路。（未公开） | 对比文件无对地电容测量脉冲电路，其电阻屏测量电压，SAW屏测量时间，光学屏测量光束。 | 对比文件未公开该电路，未公开。 |
根据上述比对，对比文件直接公开的技术特征为：K、L、W。其余技术特征未直接或隐含公开。
<<<K>>><<<L>>><<<W>>>