对比文件名称：2013-12-05_发明专利_JP2013242821A Picture display device and picture operation method of the same
目标专利名称：用于将用户输入提供到装置的技术CN105934729B
本次调用的模型名称：DeepSeek-R1
根据目标专利权利要求的技术特征划分，结合目标专利说明书和对比文件（JP2013242821A）的说明书内容，创建特征比对表格并进行公开性判断如下：
| 技术特征描述以及公开性判断结果 | 对比文件原文引用（翻译为中文） | 公开性论述 |
| **技术特征A**：其包括：细长主体，其具有第一及第二远端，其中通过所述细长主体的旋转移动将用户输入提供到计算装置，所述旋转移动围绕所述细长主体的纵向轴线<br>**未公开** | 对比文件描述其电子笔为“使用者に把持される略筒状の筐体”（被用户握持的大致筒状壳体），例如说明书第[0026]段。 | 对比文件公开了具有细长主体（筒状壳体）的电子笔。然而，目标专利中“旋转移动”特指触笔围绕其自身纵向轴线的滚动或扭转（见说明书第[0037]、[0049]段及图2），并将此旋转移动本身作为向计算装置提供用户输入的手段。对比文件中电子笔的移动主要涉及笔尖在显示面上的位置移动以及笔身相对于书写平面的“傾き”（倾斜）。对比文件虽然提及了“ペン軸のひねり動作”（笔轴的扭转动作，见说明书第[0026]段），但仅作为传感器可检测的多种动作之一进行列举，并未公开将围绕纵向轴线的旋转移动本身作为一种用于提供用户输入的、被有意执行和识别的手势。因此，本领域技术人员不能从对比文件毫无疑义地得出或合理推断出通过围绕纵向轴线的旋转移动来提供用户输入的技术方案。 |
| **技术特征B**：至少一个传感器或发射器，其物理地耦合到所述细长主体，以便于通过所述计算装置收集旋转相关信息，所述旋转相关信息指示在所述旋转移动期间随时间变化的所述细长主体的旋转角<br>**隐含公开 (<<<b>>>)** | “半導体歪センサ等の一方向の歪量に対応して出力値が変わる歪センサ（2501、2502）が、ペン軸の表面に設置された構造となっている。”（应变传感器（2501，2502），例如半导体应变传感器，其输出值根据一个方向的应变量而变化，被设置在笔轴的表面。），说明书第[0026]段。 | 对比文件公开了物理耦合到笔轴（细长主体）的应变传感器。这些传感器用于检测笔轴的变形（歪量），而笔轴的变形与用户操作笔的方式（如倾斜、按压、扭转）相关。说明书第[0026]段明确提到传感器可以检测“ペン軸のひねり動作”（笔轴的扭转动作）。虽然对比文件主要利用传感器检测倾斜角（傾き方向），但检测笔轴的扭转动作必然涉及检测笔身围绕其轴线的旋转角度变化。因此，本领域技术人员可以合理推断，通过设置在笔轴上的传感器（如应变传感器）能够收集到指示笔身旋转角度变化的信息（即旋转相关信息），尽管该信息在对比文件中主要用于推断倾斜状态。 |
| **技术特征C**：及至少一个处理器，其经配置以基于所述旋转相关信息而检测用户在所述细长主体上执行的手势<br>**隐含公开 (<<<c>>>)** | “演算部２３０１は、...ペン通信部２３０２を介して得られる前記ペン型入力装置１００の傾き、握られ方、他の物体との接触状態などの情報を演算処理し、前記ペン型入力装置１００を用いたユーザの各種操作の状態を決定する。”（运算部2301对通过笔通信部2302获得的所述笔型输入装置100的倾斜、握持方式、与其他物体的接触状态等信息进行运算处理，决定用户使用所述笔型输入装置100的各种操作状态。），说明书第[0030]段。<br>“中央処理部２３０４は、...前記演算部２３０１から得られるユーザの各種操作の状態...に基づいて、...前記プロジェクタ２１００の各部を制御する。”（中央处理部2304基于从运算部2301获得的用户的各种操作状态...来控制所述投影仪2100的各个部分。），说明书第[0031]段。 | 对比文件公开了投影仪设备中的“演算部”和“中央処理部”（处理器），它们被配置为基于从笔型输入装置获得的信息（包括倾斜、握持状态等）来确定用户的操作状态并控制设备。虽然对比文件中处理器主要检测的是“倾斜”状态以触发相应操作（如切换绘图/擦除模式，见图6、7），但如前所述，倾斜信息的获取依赖于传感器对笔轴变形（可能包含扭转分量）的检测。因此，处理器实质上是在基于传感器信息（可包含旋转相关信息）来检测用户的某种操作意图或状态。本领域技术人员可以合理推断，若传感器提供了明确的围绕轴线的旋转角度信息，配置类似的处理器完全能够基于此信息来检测特定的旋转手势。 |
| **技术特征D**：，其中所述手势的所述检测包括：确定所述旋转移动包括围绕所述纵向轴线在第一方向上的第一旋转，后接围绕所述纵向轴线在与所述第一方向相反的第二方向上的第二旋转<br>**未公开** | 无相关内容。 | 目标专利中定义的“微扭转”手势的核心特征是在一个方向上的旋转后，紧接着（在短时间内）在相反方向上的回转（见说明书第[0051]-[0054]段及图3、4A）。对比文件完全没有描述或暗示任何涉及笔围绕其纵向轴线进行“先一个方向，再相反方向”旋转的手势。对比文件检测的“倾斜”是笔身相对于参考平面（如书写面）的角度变化，并非围绕笔自身轴线的连续旋转运动。因此，该特征既未被直接公开，也无法从对比文件的内容中合理推断。 |
| **技术特征E**：确定所述第一旋转和所述第二旋转各自超过转角阈值<br>**未公开** | 无相关内容。 | 目标专利利用转角阈值来区分有意手势和无意识的握持调整（见说明书第[0063]段）。对比文件在检测倾斜时使用了阈值（如E0, El, Er，见说明书第[0027]段及图26、27），但该阈值用于区分不同的倾斜角度范围（例如，左倾、右倾、中立），而非用于判断一个旋转动作的转角是否达到作为手势的门槛。对比文件没有涉及围绕轴线的旋转角度阈值概念。 |
| **技术特征F**：及确定所述第二旋转在阈值时间量内跟随所述第一旋转<br>**未公开** | 无相关内容。 | 目标专利利用时间阈值来确保两个相反方向的旋转是快速连续、有意的“微扭转”手势的一部分，以区别于缓慢、无意的摆弄（见说明书第[0061]、[0063]段及图4A、4D）。对比文件完全没有提及任何与检测旋转动作之间的时间间隔相关的阈值或判断。 |
| **技术特征G**：及响应于所述手势的所述检测，且进一步响应于确定所述第一旋转的角度和所述第二旋转的角度分别对应于与预定义命令相关联的第一旋转度和第二旋转度，执行所述预定义命令。<br>**未公开** | 对比文件公开了响应于检测到的笔的状态（如倾斜方向）来执行预定义操作，例如：左倾时擦除线条，右倾时绘制线条（见图6、7）；或根据倾斜程度连续控制图形缩放、滚动（见图15、17）。 | 对比文件确实公开了“响应于检测到的状态（主要是倾斜），执行预定义命令”这一上位概念。然而，目标专利特征G的限定非常具体，其响应的“手势”特指前述特征D-F定义的特定旋转模式（微扭转），并且执行命令的依据是“第一旋转的角度和第二旋转的角度分别对应于与预定义命令相关联的第一旋转度和第二旋转度”。这意味着不同的旋转角度组合可以映射到不同的命令。对比文件响应的是“倾斜方向/程度”，而非“围绕轴线的特定旋转角度组合”。因此，虽然“响应于检测执行命令”被公开，但基于**特定旋转角度组合**来执行命令的具体方案未被公开。 |
| **技术特征H**：其中所述至少一个传感器或发射器包括至少一个有源磁场发射器。<br>**未公开** | 无相关内容。 | 对比文件中使用的传感器是“歪センサ”（应变传感器），例如半导体应变传感器（见说明书第[0026]段）。对比文件没有提及任何有源磁场发射器。 |
| **技术特征I**：其中所述至少一个有源磁场发射器包括发射具有第一定向的第一磁场的第一磁场发射器，及发射具有第二定向的第二磁场的第二磁场发射器，所述第一定向不同于所述第二定向。<br>**未公开** | 无相关内容。 | 对比文件未涉及有源磁场发射器，更未涉及具有不同定向的多个磁场发射器。 |
| **技术特征J**：其中所述至少一个有源磁场发射器中的每一者发射发射器特有的代码。<br>**未公开** | 无相关内容。 | 对比文件未涉及有源磁场发射器，更未涉及发射器特有代码。 |
| **技术特征K**：其中所述至少一个有源磁场发射器包括在第一持续时间期间发射第一磁场的第一磁场发射器，及在第二持续时间期间发射第二磁场的第二磁场发射器，所述第一持续时间不同于所述第二持续时间。<br>**未公开** | 无相关内容。 | 对比文件未涉及有源磁场发射器，更未涉及在不同持续时间工作的磁场发射器。 |
| **技术特征L**：其中所述至少一个传感器或发射器包括至少一个位置传感器。<br>**隐含公开 (<<<l>>>)** | “ペン位置検出センサ２１０４は、...前記投写映像２１０１に対する前記ペン型入力装置１００のペン先の位置を検出する機能を有しており、例えば、超音波センサ、カメラ、電界センサ、赤外線距離センサ、レーザ距離センサ、距離画像センサなどのセンサデバイスが用いられる。”（笔位置检测传感器2104具有检测所述笔型输入装置100的笔尖相对于所述投影图像2101的位置的功能，例如，使用超声波传感器、相机、电场传感器、红外距离传感器、激光距离传感器、距离图像传感器等传感器设备。），说明书第[0029]段。 | 对比文件明确公开了用于检测笔尖位置的“ペン位置検出センサ”（笔位置检测传感器），这属于一种位置传感器。虽然该传感器通常设置在计算装置（投影仪）端而非笔身，但其功能是检测笔（细长主体）的位置信息。本领域技术人员可以理解，位置传感器是用于检测物体位置的传感器的统称，笔位置检测传感器是其一种具体应用。因此，该特征被隐含公开。 |
| **技术特征M**：其中所述至少一个位置传感器包括至少一个加速计。<br>**未公开** | 对比文件列举了多种笔位置检测传感器（超声波、相机、电场传感器等），但未明确提及加速计。用于检测笔状态（倾斜、压力）的传感器是应变传感器，并非加速计。 | 对比文件未公开使用加速计作为位置传感器。虽然加速计是一种常见的位置/运动传感器，但不能从对比文件公开的传感器类型中毫无疑义地得出或必然推理出使用了加速计。 |
| **技术特征N**：其中所述至少一个传感器或发射器经安置偏离所述细长主体的所述纵向轴线。<br>**未公开** | “歪センサ（2501、2502）が、ペン軸の表面に設置された構造となっている。”（应变传感器（2501，2502）被设置在笔轴的表面。），说明书第[0026]段。 | 对比文件公开了传感器设置在笔轴的“表面”。笔轴的表面通常理解为笔身的外周面。将传感器设置在笔轴的表面，意味着其物理位置偏离了笔的纵向轴线（中心线）。然而，对比文件并未明确记载或强调传感器是“偏离纵向轴线”设置的，这是本领域技术人员根据“表面”设置这一描述可以做出的合理推断。但为了严谨起见，考虑到“偏离”可能具有特定的技术含义（如为了产生特定的磁场或检测模式），且对比文件未就此进行任何说明，此处判断为未直接或隐含公开该具体布置特征。 |
| **技术特征O**：其中所述至少一个传感器或发射器包括经安置垂直于第二传感器或发射器的第一传感器或发射器。<br>**未公开** | 图25示出了两个应变传感器（2501，2502），但并未明确描述它们之间的相对方位是垂直的。说明书文本中也没有关于传感器之间垂直安置的记载。 | 虽然图25中的两个传感器图示可能看起来方向不同，但对比文件说明书文字部分并未明确指出它们是垂直安置的。传感器之间的具体角度关系（如垂直）未被公开，无法从现有信息中确定性地推断。 |
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