2008-10-02_US2008239450A_发明申请_US20080239450A1 Controllable Optical Lens_+++M_O_P_S_U_X_n_t_v_w+++.docx

**对比文件名称**:2008-10-02_US2008239450A_发明申请_US20080239450A1 Controllable Optical Lens

**目标专利名称**:1611相机模块CN112262343B

**本次调用的模型名称**:DeepSeek-ChaRM

## 特征比对表格

技术特征描述及公开性判断结果对比文件原文引用(翻译)公开性论述
技术特征A:还包括第一开关《未公开》对比文件全文未提及“第一开关”或类似用于在液体透镜与电容测量电路之间通断的开关元件。对比文件描述的各电极直接连接到电容测量电路([0063]:“Each electrode 70 connects to a capacitance measurement circuit 80”),未设置专门用于连通/断开测量路径的开关,本领域技术人员不能毫无疑义地得出存在第一开关,也不满足隐含公开条件。
技术特征B:设置在所述液体透镜《未公开》对比文件未公开开关设置在液体透镜侧。由于特征A未公开,作为位置限定的特征B也无基础,对比文件无启示。
技术特征C:和所述电容测量电路之间《未公开》对比文件未公开任何开关位于液体透镜与电容测量电路之间。同特征A/B的论述。
技术特征D:其中所述第一开关接通的时间段《未公开》对比文件未描述任何开关的接通时间段。无开关则无时间段,对比文件未涉及此类控制时序。
技术特征E:等于通过图像传感器获得一个图像帧所花费的时间《未公开》对比文件未提及图像传感器或帧时间概念。对比文件仅讨论透镜控制,未涉及相机帧同步,故无法公开该时间段限定。
技术特征F:包括第一开关《未公开》同特征A。同特征A。
技术特征G:设置在所述液体透镜《未公开》同特征B。同特征B。
技术特征H:和所述电容测量电路之间《未公开》同特征C。同特征C。
技术特征I:其中所述第一开关接通的时间段《未公开》同特征D。同特征D。
技术特征J:短于通过图像传感器获得一个图像帧所花费的时间《未公开》同特征E。同特征E。
技术特征K:其中所述自动对焦操作开始的时刻《未公开》对比文件未描述自动对焦操作的开始时刻。对比文件仅提及透镜可用于自动对焦([0005]),但未公开任何自动对焦启动时序或具体阶段。
技术特征L:是将焦距设置为无限大的时刻《未公开》对比文件未公开将焦距设置为无限大的操作。对比文件无任何关于无限远焦距设置或相关时刻的描述。
技术特征M:其中被施加以通过所述电容测量电路测量所述液体透镜的电容的电压《直接公开》[0054]:“The amplitude of the driving signal on the ITO-electrodes must be sufficiently small that it does not influence the shape of the lens… The shape of the lens should thus only be determined by the voltage on the wall electrodes.”<br>该驱动信号用于电容感测,即施加在ITO电极上的交流信号就是用于测量电容的电压。对比文件明确提及在顶部ITO电极上施加小幅驱动信号用于感测,该信号即为通过电容测量电路测量液体透镜电容的电压。作用相同(实现电容测量)。
技术特征N:具有预定的固定电平《隐含公开》[0054]要求幅度足够小且不干扰透镜形状,但未明确固定;但为确保测量可重复性和参考基准,本领域技术人员合理推断该驱动信号具有固定电平。对比文件虽未明确所述驱动信号的电平固定,但锁定检测技术([0043])依赖于已知频率和相位的参考信号,一般要求信号幅度稳定;结合常用电容测量实践,该电平必然被设定为预定固定值。
技术特征O:其中被施加以通过所述电容测量电路测量所述液体透镜的电容的电压的电平《直接公开》[0054]:“The amplitude of the driving signal on the ITO-electrodes must be sufficiently small…”<br>该驱动信号具有幅度(即电平)。对比文件直接规定了用于测量电容的驱动信号的幅度(电平)条件,因此公开了该电压存在电平这一特征。
技术特征P:与被施加以控制所述界面的电压的电平不同《直接公开》[0054]:测量用驱动信号必须足够小(不干扰透镜形状),而控制界面形状的电压(施加于侧壁电极)通常为较高电压(如[0037]公式中的V)。对比文件明确区分感测信号(小幅度)与控制信号(大幅度),二者电平不同,作用分明。
技术特征Q:还包括距离传感器《未公开》对比文件全文未提及任何距离传感器。无相关公开。
技术特征R:配置为测量到对象的焦距《未公开》对比文件未提及测距功能。同Q。
技术特征S:其中所述控制单元《直接公开》[0063]:“Control of the voltages can be achieved using a loop-filter 82 which receives error values from a comparator 84… calculate the voltages with a DSP…” 以及图8中的控制回路。对比文件公开了用于控制透镜的控制器(环路滤波器、DSP等),该控制器实现目标专利中控制单元的功能(如接收反馈、计算驱动电压、控制执行)。
技术特征T:经由所述驱动器将与所述焦距对应的电压传输至所述液体透镜;并且其中所述电容测量电路《隐含公开》[0064]:“Voltage drivers 86 controlled by the filter or DSP provide the drive voltages to the electrodes 70.” 以及[0063]:“Each electrode 70 connects to a capacitance measurement circuit 80.”<br>驱动电压与所需光学功率(即焦距)对应。对比文件的电压驱动器根据控制信号(与期望透镜强度对应)向电极施加电压,该期望强度本质对应焦距,因此公开了“经由驱动器将与焦距对应的电压传输至液体透镜”。同时电容测量电路的存在明确公开。但“焦距”对应关系未明确提及,故隐含公开。
技术特征U:测量所述液体透镜的电容《直接公开》[0063]:“Each electrode 70 connects to a capacitance measurement circuit 80, to perform the sensing operation.”<br>该感测操作即为测量电极间的电容,用于确定透镜形状。对比文件直接公开了电容测量电路执行液体透镜电容测量,作用与目标专利相同(获得电容值以反馈控制)。
技术特征V:其中所述操作状态存储单元存储关于电容的信息《隐含公开》[0063]:“The comparator 84 compares the measured capacitance values with reference values for the desired optical power.”<br>参考值必然存储在某种存储单元中(如寄存器、查找表)。对比文件中比较器需要参考电容值,这些参考值隐含地存储在某种存储元件(可视为操作状态存储单元),该存储单元保存与电容相关的信息用于后续控制。
技术特征W:所述电容取决于所述液体透镜中的温度的变化《隐含公开》[0007]:“When temperature changes, the oil and water will expand unequally, resulting in a difference in density… This change of the meniscus shape in turn causes optical aberrations.”<br>及[0008]:“Due to slow charging of the insulators… the relation between the voltage and the exact position of the oil-water meniscus is also subject to drift.”对比文件指出温度变化导致液体膨胀和界面形状变化,而界面形状直接决定透镜的电容(如介电面积变化),本领域技术人员可合理推断电容随温度变化。虽未直接表述,但可以从物理现象推出。
技术特征X:从所述驱动器提供的电压而变化《直接公开》[0036]-[0038]描述了施加驱动电压改变界面形状,进而改变电容;[0063]通过电容测量控制电压,隐含电容随驱动电压变化。对比文件的整体技术方案基于电容随施加电压(驱动电压)变化这一原理,用于反馈控制。因此直接公开了电容取决于驱动器提供的电压。
技术特征Y:其中在执行自动对焦操作的过程中使用的电压《未公开》对比文件未涉及自动对焦操作过程中所施加的特定电压。对比文件虽提及自动对焦应用([0005]),但未公开在自动对焦过程中使用的控制电压及其与电容测量的关系。
技术特征Z:能够用于测量所述电容《未公开》对比文件中用于控制透镜形状的电压(驱动电压)与用于电容测量的电压(小幅度AC信号)是独立设置的,并非同一电压。目标专利的该特征强调自动对焦操作中使用的控制电压也能够用于测量电容,对比文件中控制电压和测量电压分立,无启示。

**结论**:对比文件直接公开了技术特征M、O、P、S、U、X,隐含公开了技术特征N、T、V、W。其余技术特征(A-L、Q-R、Y-Z)未被直接或隐含公开。

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