**对比文件名称**：2006-03-30_US2006066750A_发明申请_US20060066750A1 Image sensors
**目标专利名称**：374高动态范围图像传感器CN103141081B
**本次调用模型名称**：专利创造性评估模型
**特征比对表格**
| 技术特征描述及公开性判断结果 | 对比文件原文引用 | 公开性论述 |
| **技术特征A**：在第一时间对第一像素单元信号进行取样以产生第一样本 <br> **《直接公开》** | 说明书第[0024]段：“...exposing a first set of pixels to radiation for a first integration time...obtaining a first data set from the first set of pixels...” | 对比文件公开了让第一组像素以第一积分时间曝光，并从该组像素获取第一数据集。获取数据集的过程必然包括对像素信号进行取样。因此，对比文件直接公开了在第一时间（第一积分时间）对像素信号取样以产生第一样本（第一数据集）的技术特征。 |
| **技术特征B**：在第二时间对第二像素单元信号进行取样以产生第二样本 <br> **《直接公开》** | 说明书第[0024]段：“...exposing a second set of pixels to radiation for a second integration time different from said first integration time...obtaining a second data set from the second set of pixels...” | 对比文件公开了让第二组像素以与第一积分时间不同的第二积分时间曝光，并从该组像素获取第二数据集。这对应于在第二时间（第二积分时间）对像素信号取样以产生第二样本（第二数据集）。因此，该技术特征被对比文件直接公开。 |
| **技术特征C**：将第一可变加权因子应用于所述第一样本，其中所述第一可变加权因子是基于第一函数而界定 <br> **《未公开》** | 未找到相应内容。 | 对比文件（例如图4及对应描述）公开了将长短曝光图像“缝合”（stitching）的过程。其描述了一种简单的阈值判断算法：`if (long exposure pixel (i)>threshold T) then output(i)=(short exposure pixel(i)−T/k+T)`。该算法中，短曝光样本（第一样本）在组合输出时，其权重要么是1（当长曝光像素未饱和时，使用短曝光信息以避免分辨率降低），要么是1（在计算`output(i)`时，短曝光像素值减去一个阈值项）。整个过程并未对短曝光样本应用一个基于函数的、值在0到1之间连续变化的“可变加权因子”。目标专利强调的“可变加权因子”是根据长曝光样本值通过特定函数（如组合曲线C()）动态计算的，用于平滑过渡，这与对比文件的固定阈值切换有本质区别。因此，该技术特征未被对比文件公开。 |
| **技术特征D**：将第二可变加权因子应用于所述第二样本，其中所述第二可变加权因子是基于第二函数而界定 <br> **《未公开》** | 未找到相应内容。 | 同上，对比文件的缝合算法中，长曝光样本（第二样本）在组合时，其贡献要么被完全采用（当值未超过阈值T时），要么被完全舍弃并用短曝光数据替代（当超过阈值T时）。这并非一个基于函数连续变化的“可变加权因子”应用。目标专利中，第二可变加权因子M(i,j)是长曝光样本值的函数，可在0到1之间连续变化，以实现平滑混合。对比文件未公开此技术特征。 |
| **技术特征E**：根据以下等式将所述经加权第一样本与所述经加权第二样本组合SCOMBINED(i,j)＝SLONG(i,j)*M(i,j)+n*SSHORT(i,j)*(1-M(i,j))其中SCOMBINED表示位于(i,j)处的所述像素单元的由SSHORT表示的所述第一样本与由SLONG表示的所述第二样本的所述组合，n表示取决于所述第一时间与所述第二时间之间的曝光时间的差的标度值，M(i,j)表示可变加权因子， <br> **《未公开》** | 未找到相应内容。 | 对比文件未公开上述具体组合等式。该等式的核心在于引入了一个基于长曝光样本值、在0到1之间连续变化的可变加权因子M(i,j)，以实现加权平均。对比文件公开的组合方式（如说明书第[0034]段）是简单的阈值判断和线性替换或组合，不涉及基于样本值的连续可变权重因子M(i,j)。因此，该技术特征未被对比文件公开。 |
| **技术特征F**：以及其中在第一时间对第一像素单元信号进行取样以产生第一样本且在第二时间对第二像素单元信号进行取样以产生第二样本包括：使所述第一时间与所述第二时间对准，使得所述第一时间与所述第二时间大体上同时结束 <br> **《隐含公开》** | 说明书第[0024]段及图2描述：“Odd lines of the image have a first exposure h1...even lines have a second exposure h2...The integration wavefront occurs within the previous line being read out.” 以及图2显示两个积分波前（16，18）和读波前（20，22）在时间上交错排列。 | 对比文件公开了奇偶行采用不同的积分时间（h1和h2）。虽然曝光开始时间不同，但从图2的时序图可以看出，奇行和偶行的读操作（即取样完成时刻）是交替、连续进行的。为了实现“缝合”成一幅完整图像，本领域技术人员可以合理推断，需要对这些在不同时间点取样但属于同一场景的图像数据进行时间对准处理，使得它们能够代表同一时刻的场景信息。尽管对比文件未明确使用“大体上同时结束”的表述，但其技术方案（单次拍摄中获取不同曝光行）隐含了需要将不同时间取样的行数据对齐以组合成单帧图像的需求，这包含了使取样数据在时间上对准的概念。因此，该特征被隐含公开。 |
| **技术特征G**：在所述第一时间使互补MOS即CMOS图像传感器的多个偶数编号线曝光， <br> **《直接公开》** | 说明书第[0024]段：“Odd lines of the image have a first exposure h1...and even lines have a second exposure h2...” | 对比文件明确公开了图像传感器（包括CMOS）的偶数行（even lines）以第二曝光时间h2曝光。这直接对应于在第一时间（对于偶数行而言是其曝光期间）使CMOS传感器的偶数编号线曝光。 |
| **技术特征H**：以针对所述多个偶数编号线中的每一者中的多个空间位置中的每一者产生所述第一样本， <br> **《直接公开》** | 说明书第[0024]段：“...obtaining a first data set from the first set of pixels...” 结合图2，第一组像素（奇数行）产生第一数据集（短曝光样本）。 | 虽然此特征描述是针对“偶数编号线...产生所述第一样本”，这与对比文件公开的奇数行产生短曝光样本（第一数据集）在行列指派上相反，但这是技术方案的对称性描述。对比文件明确公开了从一组像素（奇数行或偶数行）获取数据集（即样本），这实质上公开了“针对多个行中的每一者中的多个空间位置（像素）产生样本”这一技术手段。本领域技术人员可以理解，将长短曝光分配给奇数行或偶数行是等效的技术选择。因此，该技术特征被直接公开。 |
| **技术特征I**：且在所述第二时间使所述CMOS图像传感器的多个奇数编号线曝光， <br> **《直接公开》** | 说明书第[0024]段：“Odd lines of the image have a first exposure h1...and even lines have a second exposure h2...” | 对比文件明确公开了奇数行（odd lines）以第一曝光时间h1曝光。这直接对应于在第二时间（对于奇数行而言是其曝光期间）使CMOS传感器的奇数编号线曝光。 |
| **技术特征J**：以针对所述多个奇数编号线中的每一者中的多个空间位置中的每一者产生所述第二样本 <br> **《直接公开》** | 说明书第[0024]段：“...obtaining a second data set from the second set of pixels...” 结合图2，第二组像素（偶数行）产生第二数据集（长曝光样本）。 | 同特征H的论述，对比文件公开了从另一组像素（偶数行）获取第二数据集（即第二样本），公开了“针对多个行中的每一者中的多个空间位置产生样本”的技术手段。行列指派的不同不影响该技术实质的公开。 |
| **技术特征K**：通过针对所述多个偶数编号线中的每一者中的多个空间位置中的每一者对所述第一样本进行向下取样和向上取样中的一者，针对所述多个奇数编号线中的每一者中的所述多个空间位置中的每一者产生所述第一样本 <br> **《隐含公开》** | 说明书第[0024]段：“The short and long exposure images are read out consecutively from odd and even rows. The short exposure must be kept in a line memory for a line time before being stitched together with the next long exposure line to produce a single output line.” | 对比文件公开了从奇偶行交替读出短曝光和长曝光图像数据，并将它们缝合以产生单条输出线。为了从仅包含短曝光数据的偶数行位置，为奇数行位置生成对应的短曝光数据（反之亦然），以进行像素级的缝合，本领域技术人员可以合理推断，必然需要通过某种图像处理技术（如插值、上采样或下采样）来从相邻行的数据中估计或生成缺失位置的数据。虽然对比文件未明确使用“向下取样”或“向上取样”的术语，但“缝合”（stitching）过程隐含了需要为每个输出像素位置生成完整数据，这必然涉及到从已有的采样数据中生成新数据点的过程，该过程涵盖了取样（上/下采样）的技术思想。因此，该特征被隐含公开。 |
| **技术特征L**：通过针对所述多个奇数编号线中的每一者中的多个空间位置中的每一者对所述第二样本进行向下取样和向上取样中的一者，针对所述多个偶数编号线中的每一者中的所述多个空间位置中的每一者产生所述第二样本。 <br> **《隐含公开》** | 同上，说明书第[0024]段。 | 理由同特征K。为了缝合奇偶行的数据形成完整图像，需要为仅包含长曝光数据的奇数行位置，在其对应的偶数行位置生成长曝光数据。这隐含了需要通过取样（上/下采样）从已有数据中生成缺失位置数据的技术手段。 |
| **技术特征M**：其中M(i,j)的值介于零与一之间，包含零和一。 <br> **《未公开》** | 未找到相应内容。 | 对比文件未公开任何在0到1之间连续变化的加权因子M(i,j)。其公开的缝合算法是基于阈值的硬切换，不涉及在0和1之间连续取值的权重。因此，该技术特征未被公开。 |
| **技术特征N**：其中将所述经加权第一样本与所述经加权第二样本组合包括在传感器上将所述经加权第一样本与所述经加权第二样本组合。 <br> **《隐含公开》** | 说明书第[0024]段：“The short exposure must be kept in a line memory for a line time before being stitched together with the next long exposure line to produce a single output line.” | 对比文件提到短曝光数据需要在线存储器中保持一行时间，以便与下一行长曝光数据缝合。这暗示了缝合（即组合）操作可以在传感器芯片上完成（例如，利用集成在线存储器）。虽然未明确说明组合发生在“传感器上”，但本领域技术人员根据“在行存储器中保持并缝合”的描述，可以合理推断出该组合操作可以在传感器内部电路（如集成处理器或逻辑单元）中实现，即“在传感器上”组合。因此，该特征被隐含公开。 |
| **技术特征O**：其中由所述CMOS图像传感器和电荷耦合装置CCD图像传感器中的一者产生所述第一像素单元信号和所述第二像素单元信号。 <br> **《直接公开》** | 说明书第[0001]段：“...to rolling blade exposure techniques to extend dynamic range in CMOS image sensors.” 以及背景技术部分提到了CCD等传感器。 | 对比文件的标题和发明内容明确针对CMOS图像传感器，并在背景技术中提及了CCD等传感器类型。因此，直接公开了由CMOS或CCD图像传感器产生像素单元信号。 |
| **技术特征P**：其中在第一时间对第一像素单元信号进行取样以产生第一样本且在第二时间对第二像素单元信号进行取样以产生第二样本包括：打开CCD图像传感器上的机械快门且使所述图像传感器暴露于光 <br> **《未公开》** | 未找到相应内容。 | 对比文件全文描述的是采用“滚动快门”（rolling blade/shutter）曝光方式的CMOS图像传感器，未提及使用机械快门。因此，该特征未被公开。 |
| **技术特征Q**：在第一时间将基于所述光形成的第一样本传送到存储区 <br> **《未公开》** | 未找到相应内容。 | 对比文件未描述将基于光形成的样本传送到“存储区”的具体步骤。其提到的“line memory”用于临时存储一行数据以便缝合，并非用于在曝光过程中暂存电荷的“存储区”（如CCD的移位寄存器）。因此，该特征未被公开。 |
| **技术特征R**：从所述存储区读出所述第一样本 <br> **《未公开》** | 未找到相应内容。 | 同上，对比文件未描述从“存储区”读出第一样本的步骤。其读出的过程是从像素阵列直接读取。 |
| **技术特征S**：在第二时间关闭所述机械快门 <br> **《未公开》** | 未找到相应内容。 | 对比文件未提及机械快门，因此不存在关闭机械快门的步骤。 |
| **技术特征T**：将第二样本传送到所述存储区 <br> **《未公开》** | 未找到相应内容。 | 同特征Q，对比文件未描述将第二样本传送到“存储区”的步骤。 |
| **技术特征U**：从所述存储区读出所述第二样本。 <br> **《未公开》** | 未找到相应内容。 | 同特征R，对比文件未描述从“存储区”读出第二样本的步骤。 |
| **技术特征V**：其中在第一时间对第一像素单元信号进行取样以产生第一样本且在第二时间对第二像素单元信号进行取样以产生第二样本包括：使像素单元复位并使所述像素单元暴露于光 <br> **《未公开》** | 未找到相应内容。 | 对比文件虽然描述了曝光过程，但未具体披露像素单元复位（reset）的步骤。复位是CMOS/CCD传感器操作的标准前置步骤，但对比文件说明书原文未提及。根据判断标准，需基于对比文件明确记载的内容进行判断，因此该特征未被直接或隐含公开。 |
| **技术特征W**：在第一时间将基于所述光形成的第一样本传送到电容器 <br> **《未公开》** | 未找到相应内容。 | 对比文件未描述将样本传送到“电容器”的具体电荷转移机制。其聚焦于系统级的曝光和读出时序，未披露像素内部的电路细节（如使用电容器暂存电荷）。 |
| **技术特征X**：在第二时间读出基于所述光形成的第二样本。 <br> **《直接公开》** | 说明书第[0024]段及图2：描述了从像素阵列读出长短曝光数据的过程。 | 对比文件公开了从第二组像素（如偶数行）获取第二数据集，这必然包括在第二时间（第二积分时间结束后）读出基于光形成的第二样本。因此，该技术特征被直接公开。 |
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