对比文件名称：JP2008277894A_Description_20260320_0224
目标专利名称：374高动态范围图像传感器CN103141081B
模型名称：本次调用由深度求索公司的DeepSeek-V3模型处理。
作为资深专利代理师，我将严格依照目标专利权利要求的技术特征划分，结合目标专利说明书对技术特征的解释，对对比文件进行公开性评估。
### 特征比对表格
| 技术特征描述以及公开性判断结果 | 对比文件原文引用 | 公开性论述 |
| **技术特征A**：在第一时间对第一像素单元信号进行取样以产生第一样本《直接公开》 | [0022] “画素１６の電荷蓄積時間が短い場合の撮像部１からの出力信号をｓｈｏｒｔ信号とする”。[0023] “Ｌ／Ｓ分離部３は、…ｓｈｏｒｔ信号を乗算部６に出力する。” | 对比文件明确公开了从成像部获取“short信号”，该信号对应于电荷积累时间短的像素（画素）的输出信号（参见[0022]）。此“short信号”即目标专利中由“第一时间”（短曝光时间）取样产生的“第一样本”。作用均为获取短曝光图像数据，用于后续HDR合成。因此，本领域技术人员能毫无疑义地得出该技术特征。 |
| **技术特征B**：在第二时间对第二像素单元信号进行取样以产生第二样本《直接公开》 | [0022] “画素１６の電荷蓄積時間が長い場合の撮像部１からの出力信号をｌｏｎｇ信号とする”。[0023] “Ｌ／Ｓ分離部３は、ｌｏｎｇ信号を飽和検出部４、第２補間部９および第１選択部８に出力し”。 | 对比文件明确公开了从成像部获取“long信号”，该信号对应于电荷积累时间长的像素的输出信号（参见[0022]）。此“long信号”即目标专利中由“第二时间”（长曝光时间）取样产生的“第二样本”。作用均为获取长曝光图像数据，用于后续HDR合成。因此，本领域技术人员能毫无疑义地得出该技术特征。 |
| **技术特征C**：将第一可变加权因子应用于所述第一样本，其中所述第一可变加权因子是基于第一函数而界定《未公开》 | [0023] “乗算部６は、補正値算出部５から出力された補正値と、Ｌ／Ｓ分離部３から出力されたｓｈｏｒｔ信号とを乗算し、乗算して得られた信号を、修正ｓｈｏｒｔ信号として…出力する。”[0023] “補正値算出部５は、…補正値を算出し…。なお、補正値は、ｌｏｎｇ信号を生成するための画素１６の電荷蓄積時間と、ｓｈｏｒｔ信号を生成するための画素１６の電荷蓄積時間とを基に算出する。” | 对比文件公开了对short信号应用一个“补正值”（修正系数），该系数基于长短曝光时间的比率计算（例如，长曝光时间/短曝光时间），目的是补偿因曝光时间不同导致的信号电平差异，使short信号的电平与long信号的电平相匹配（得到“修正short信号”）。然而，此“补正值”是一个根据曝光时间比率算出的**固定标度因子**（scaling factor），其作用是将短曝光信号“放大”到与长曝光信号可比较的电平。这与目标专利权利要求中的“可变加权因子”有本质区别。目标专利的“可变加权因子”（如M(i,j)）是基于样本值（如SLONG(i,j)）的函数（如图2的组合曲线C()），其值在0到1之间**连续或分段变化**，用于在最终组合时动态调整长短曝光样本的贡献权重，特别是为了在长曝光样本饱和时减小或消除其影响。对比文件的“补正值”不具备这种基于样本值变化的“可变”特性，也未起到在组合时动态分配权重的“加权”作用。因此，对比文件未公开“基于函数界定的可变加权因子”这一技术特征。 |
| **技术特征D**：将第二可变加权因子应用于所述第二样本，其中所述第二可变加权因子是基于第二函数而界定《未公开》 | [0024] “第１選択部８は、…飽和検出部４により、ｌｏｎｇ信号が所定レベル以下であると判断された場合、ｌｏｎｇ信号を最終ｌｏｎｇ信号として…出力し、飽和検出部４により、ｌｏｎｇ信号が所定レベルを超えると判断された場合、補間ｌｏｎｇ信号を最終ｌｏｎｇ信号として…出力する。” | 对比文件公开了对long信号的处理：通过饱和检测部判断其是否超过预定水平，然后由第一选择部8根据判断结果，要么直接输出原始long信号，要么输出由short信号内插得到的“补间long信号”。这实质上是一个**二选一的开关选择**操作：当未饱和时，权重为1（选择long）；当饱和时，权重为0（选择补间long，即完全使用short信号的信息）。这与目标专利中“基于第二函数界定的第二可变加权因子”应用于第二样本（长曝光样本）的技术方案不同。目标专利是将一个连续或分段变化的加权因子M(i,j)直接与长曝光样本SLONG(i,j)相乘（SLONG(i,j)*M(i,j)），实现贡献度的平滑过渡。而对比文件是通过选择不同来源的信号来实现效果，并未公开将一个可变的加权因子“应用于”长曝光样本本身。因此，该技术特征未被直接公开。从隐含公开角度看，选择操作的结果在功能上等效于应用了一个离散的（非0即1）权重，但权利要求明确限定为“将可变加权因子应用于所述第二样本”，这通常意味着对原始样本值进行加权运算，而非用另一个信号替换它。本领域技术人员从对比文件的二选一操作中，无法必然地、毫无疑义地推理出对原始样本应用一个基于函数变化的连续或可变加权因子的技术手段。因此，该技术特征也未被隐含公开。 |
| **技术特征E**：根据以下等式将所述经加权第一样本与所述经加权第二样本组合SCOMBINED(i,j)＝SLONG(i,j)*M(i,j)+n*SSHORT(i,j)*(1-M(i,j))...《未公开》 | [0026] “Ｌ／Ｓ合成部１３は、第１選択部８から出力される最終ｌｏｎｇ信号と、第２選択部１２から出力される最終ｓｈｏｒｔ信号と、…を入力とし、…最終ｌｏｎｇ信号と最終ｓｈｏｒｔ信号とを順次切り替えて映像信号として…出力する。” | 对比文件公开的合成方式是：L/S合成部13根据时序，交替地选择并输出“最终long信号”和“最终short信号”（参见[0026]及图3(l)波形），从而形成一个完整的合成图像。这是一个**信号选择与拼接**的过程。而目标专利权利要求中的组合等式是一个**线性加权混合**公式，其中长短曝光样本的贡献由可变加权因子M(i,j)连续地控制（当M在0和1之间时）。对比文件完全没有公开这样的数学组合模型。其“最终long信号”已经是经过选择处理后的信号（可能是原始long或补间long），“最终short信号”也是经过选择处理后的信号（可能是修正short或补间short），合成部只是将它们按顺序排列，并未将两个信号按权重相加。因此，该技术特征未被公开。 |
| **技术特征F**：使所述第一时间与所述第二时间对准，使得所述第一时间与所述第二时间大体上同时结束《隐含公开》 | [0019] “撮像部１は、…第１電荷蓄積時間で電荷を蓄積する第１画素群と、…第２電荷蓄積時間で電荷を蓄積する第２画素群とを含む撮像素子を有し”。[0020] “駆動部２は、…第１垂直レジスタ・シャッター１７は、奇数列の画素１６と接続されており、…指定された時間だけ動作させ、電荷を蓄積させる。第２垂直レジスタ・シャッター１８は、偶数列の画素１６と接続されており、…指定された時間だけ動作させ、電荷を蓄積させる。”[0023] “第１補間部７は、…修正ｓｈｏｒｔ信号の中間点すなわちｌｏｎｇ信号と同タイミングの補間ｌｏｎｇ信号を生成する”。 | 对比文件明确其成像部具有能以不同电荷积累时间（即曝光时间）工作的像素群，并由驱动部控制这些像素群的曝光（[0019], [0020]）。虽然未明文写出“使曝光时间同时结束”，但其整个信号处理流程（如图3）显示，从成像部读出的short信号和long信号在时间上是交错排列的（图3(a)）。为了进行后续处理（如选择、合成），需要通过补间部（第1补间部7、第2补间部9）将short信号和long信号内插到彼此的时间点上，以生成“同タイミング”（同时间）的信号（[0023]）。本领域技术人员可以合理推断，为了使交错读出的、代表不同曝光时间的信号能够在“同时间”进行有意义的比较、选择和合成，这些不同的曝光动作必须在同一成像周期内协调控制，其曝光时段在时间上必然是对齐的，并且结束时间需要一致（或至少其读出时序是确定的，以便进行时间对齐的内插处理）。否则，内插操作将失去物理基础。因此，对比文件隐含公开了使不同曝光时间对准并大体同时结束的技术特征。 |
| **技术特征G**：在所述第一时间使互补MOS即CMOS图像传感器的多个偶数编号线曝光《直接公开》 | [0020] “第２垂直レジスタ・シャッター１８は、偶数列の画素１６と接続されており、…電荷を蓄積させる”。[0022] “撮像部１としては、ＣＭＯＳ型イメージセンサーを用いることが好ましい。” | 对比文件明确其成像部优选使用CMOS图像传感器（[0022]），并且其驱动部的第2垂直寄存器快门18连接到偶数列的像素，控制其电荷积累（即曝光）（[0020]）。结合上下文（如[0028]设定“偶数列的像素电荷积累时间短”），这直接公开了使用CMOS传感器，并在第一时间（短曝光时间）使偶数列（偶数编号线）曝光。 |
| **技术特征H**：以针对所述多个偶数编号线中的每一者中的多个空间位置中的每一者产生所述第一样本《直接公开》 | [0022] “画素１６の電荷蓄積時間が短い場合の撮像部１からの出力信号をｓｈｏｒｔ信号とする”。[0023] “Ｌ／Ｓ分離部３は、…ｓｈｏｒｔ信号を乗算部６に出力する。” | 由技术特征G的曝光操作，从这些偶数列像素产生的输出信号被分离为“short信号”（[0022], [0023]），即目标专利中的“第一样本”。这直接针对每个偶数编号线中的每个像素位置（空间位置）产生了第一样本。 |
| **技术特征I**：且在所述第二时间使所述CMOS图像传感器的多个奇数编号线曝光《直接公开》 | [0020] “第１垂直レジスタ・シャッター１７は、奇数列の画素１６と接続されており、…電荷を蓄積させる”。[0022] “撮像部１としては、ＣＭＯＳ型イメージセンサーを用いることが好ましい。” | 对比文件明确其驱动部的第1垂直寄存器快门17连接到奇数列的像素，控制其电荷积累（即曝光）（[0020]）。结合上下文（如[0028]设定“奇数列的像素电荷积累时间长”），这直接公开了使用CMOS传感器，并在第二时间（长曝光时间）使奇数列（奇数编号线）曝光。 |
| **技术特征J**：以针对所述多个奇数编号线中的每一者中的多个空间位置中的每一者产生所述第二样本《直接公开》 | [0022] “画素１６の電荷蓄積時間が長い場合の撮像部１からの出力信号をｌｏｎｇ信号とする”。[0023] “Ｌ／Ｓ分離部３は、ｌｏｎｇ信号を…出力し”。 | 由技术特征I的曝光操作，从这些奇数列像素产生的输出信号被分离为“long信号”（[0022], [0023]），即目标专利中的“第二样本”。这直接针对每个奇数编号线中的每个像素位置（空间位置）产生了第二样本。 |
| **技术特征K**：通过针对所述多个偶数编号线中的每一者中的多个空间位置中的每一者对所述第一样本进行向下取样和向上取样中的一者，针对所述多个奇数编号线中的每一者中的所述多个空间位置中的每一者产生所述第一样本《隐含公开》 | [0023] “第１補間部７は、乗算部６から出力された修正ｓｈｏｒｔ信号を用いて、修正ｓｈｏｒｔ信号の中間点すなわちｌｏｎｇ信号と同タイミングの補間ｌｏｎｇ信号を生成する”。[0023] “第１補間部７は、例えば、前後２つの修正ｓｈｏｒｔ信号に対して平均処理（相加平均、相乗平均等の処理やＬＰＦ処理）を行い、補間ｌｏｎｇ信号を生成する。” | 对比文件公开了“第1补间部7”对来自偶数编号线（短曝光）的“修正short信号”进行内插（平均处理），生成与奇数编号线像素位置（即“long信号与同时间”）对应的“补间long信号”（[0023]）。这个“补间long信号”实质上就是为目标专利中奇数编号线位置“产生”的短曝光样本值。内插（interpolation）是一种典型的“向上取样（upsampling）”技术，用于从已知采样点估计未知位置的采样值。因此，对比文件隐含公开了通过对来自偶数线的第一样本（修正short信号）进行内插（即向上取样），来为奇数线位置产生第一样本（补间long信号）的技术手段。 |
| **技术特征L**：通过针对所述多个奇数编号线中的每一者中的多个空间位置中的每一者对所述第二样本进行向下取样和向上取样中的一者，针对所述多个偶数编号线中的每一者中的所述多个空间位置中的每一者产生所述第二样本《隐含公开》 | [0025] “第２補間部９は、Ｌ／Ｓ分離部３から出力されたｌｏｎｇ信号を用いて、ｌｏｎｇ信号の中間点すなわち修正ｓｈｏｒｔ信号と同タイミングの補間ｓｈｏｒｔ信号を生成する”。[0025] “第２補間部９は、例えば、前後２つのｌｏｎｇ信号に対して平均処理…を行い、補间ｓｈｏｒｔ信号を生成する。” | 对比文件公开了“第2补间部9”对来自奇数编号线（长曝光）的“long信号”进行内插（平均处理），生成与偶数编号线像素位置（即“修正short信号与同时间”）对应的“补间short信号”（[0025]）。这个“补间short信号”实质上就是为目标专利中偶数编号线位置“产生”的长曝光样本值。同样，内插是一种“向上取样”技术。因此，对比文件隐含公开了通过对来自奇数线的第二样本（long信号）进行内插（即向上取样），来为偶数线位置产生第二样本（补间short信号）的技术手段。 |
| **技术特征M**：其中M(i,j)的值介于零与一之间，包含零和一《隐含公开》 | [0024] “第１選択部８は、…飽和検出部４により、ｌｏｎｇ信号が所定レベル以下であると判断された場合、ｌｏｎｇ信号を最終ｌｏｎｇ信号として…出力し、飽和検出部４により、ｌｏｎｇ信号が所定レベルを超えると判断された場合、補間ｌｏｎｇ信号を最終ｌｏｎｇ信号として…出力する。” | 目标专利中的M(i,j)是连续或分段变化的加权因子。对比文件虽未公开这样一个连续的M(i,j)，但其第一选择部8的操作逻辑（根据long信号是否饱和，选择输出原始long或补间long）在最终组合效果上，相当于对一个权重因子进行了二值化（非0即1）的控制：当long未饱和时，相当于权重为1（完全采用long）；当long饱和时，相当于权重为0（完全舍弃long，采用基于short的补间信号）。这是一种包含0和1两个端点的离散情况。本领域技术人员可以从对比文件这种“根据饱和情况全有或全无地选择信号”的操作中，合理推断出在组合时对长曝光样本应用一个取值可以是0或1的权重因子的技术思想。虽然对比文件实现的是离散选择而非连续加权，但“值介于零与一之间，包含零和一”这一范围描述，在宽松的隐含公开判断标准下，可以被认为覆盖了这种端点情况。因此，该技术特征被隐含公开。 |
| **技术特征N**：其中将所述经加权第一样本与所述经加权第二样本组合包括在传感器上将所述经加权第一样本与所述经加权第二样本组合《未公开》 | [0018] 描述了包含L/S分离部3、饱和检测部4、乘算部6、选择部8、12、合成部13等多个处理部件的成像装置整体框图。 | 对比文件描述的处理流程（分离、修正、补间、选择、合成）明显是在图像传感器（拍摄部1）之外的信号处理电路中进行的（见图1框图）。其中没有任何内容提及或暗示这些组合操作是在传感器芯片本身上完成的。因此，该技术特征未被公开。 |
| **技术特征O**：其中由所述CMOS图像传感器和电荷耦合装置CCD图像传感器中的一者产生所述第一像素单元信号和所述第二像素单元信号《直接公开》 | [0022] “撮像部１としては、ＣＭＯＳ型イメージセンサーを用いることが好ましい。” | 对比文件明确记载其成像部优选使用CMOS型图像传感器（[0022]）。因此，其第一和第二像素单元信号（即short和long信号）是由CMOS图像传感器产生的。这直接公开了该技术特征。 |
| **技术特征P**：打开CCD图像传感器上的机械快门且使所述图像传感器暴露于光《未公开》 | 未找到相关描述。对比文件主要涉及CMOS传感器及其电子快门控制。 | 对比文件全文未提及CCD图像传感器，更未涉及操作CCD机械快门的步骤。其曝光控制是通过CMOS传感器的电子快门（垂直寄存器快门）实现的（[0020]）。因此，该技术特征未被公开。 |
| **技术特征Q**：在第一时间将基于所述光形成的第一样本传送到存储区《未公开》 | 未找到与“存储区”（如CCD的屏蔽区）和“传送”操作完全对应的描述。对比文件中short信号被读出后，在外部电路中进行处理。 | 对比文件未公开如目标专利说明书[0078]所述的、在CCD传感器架构下，将第一样本传送到临时存储区（如屏蔽区）的步骤。其信号读出和处理流程不同。因此，该技术特征未被公开。 |
| **技术特征R**：从所述存储区读出所述第一样本《未公开》 | 同技术特征Q。 | 理由同技术特征Q。 |
| **技术特征S**：在第二时间关闭所述机械快门《未公开》 | 同技术特征P。 | 理由同技术特征P。 |
| **技术特征T**：将第二样本传送到所述存储区《未公开》 | 同技术特征Q。 | 理由同技术特征Q。 |
| **技术特征U**：从所述存储区读出所述第二样本《未公开》 | 同技术特征Q。 | 理由同技术特征Q。 |
| **技术特征V**：使像素单元复位并使所述像素单元暴露于光《隐含公开》 | [0020] “画素１６は、入射光量に比例した電荷を蓄積し、その蓄積電荷量に応じた電気信号を出力する素子である。”[0028] “まず、図２の撮像部１（ＣＭＯＳ型イメージセンサー）において、奇数列の画素についての電荷蓄積時間が長くなるように設定し、偶数列の画素についての電荷蓄積時間が短くなるように設定する。この設定は、第１垂直レジスタ・シャッター１７および第２垂直レジスタ・シャッター１８の設定により行われる。” | 对比文件描述了像素是积累与入射光量成比例电荷的元件（[0020]），并通过垂直寄存器快门控制其电荷积累（曝光）时间（[0028]）。对于CMOS图像传感器，进行曝光前必然包含对像素进行复位的操作，以清除之前的电荷，这是本领域的公知常识和标准操作流程。因此，本领域技术人员阅读对比文件时，能够毫无困难地理解其成像过程隐含了“使像素单元复位并使所述像素单元暴露于光”这一初始步骤。 |
| **技术特征W**：在第一时间将基于所述光形成的第一样本传送到电容器《未公开》 | 未找到相关描述。 | 对比文件未提及将样本传送到“电容器”这一具体硬件结构或操作。其信号是通过读出放大器输出，并在外部电路中进行处理。目标专利该特征涉及图1所示的特定像素电路和操作时序（在短曝光时间后将电荷传送到电容器20）。对比文件未公开这一具体技术手段。 |
| **技术特征X**：在第二时间读出基于所述光形成的第二样本《直接公开》 | [0023] “Ｌ／Ｓ分離部３は、…ｌｏｎｇ信号を飽和検出部４、第２補間部９および第１選択部８に出力し”。结合整个信号流，long信号是从成像部读出的。 | 对比文件明确从成像部输出并分离出“long信号”，这对应于在第二时间（长曝光时间）读出基于光形成的第二样本。因此，该技术特征被直接公开。 |
### 总结与代码输出
根据上述评估：
- **直接公开**的技术特征有：A, B, G, H, I, J, O, X。
- **隐含公开**的技术特征有：F, K, L, M, V。
- **未公开**的技术特征有：C, D, E, N, P, Q, R, S, T, U, W。
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