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权利要求与技术特征

I 还包括标识所述RF电路校准参数的第二子集。

J 其中标识所述RF电路校准参数的第二子集包括
K 提取RF电路校准参数的历史数据集中的参数之间的成对相关性
L 将所述成对相关性聚类成多个集群
M 所述多个集群中的每个集群与所述RF电路校准参数的第二子集中的多个参数和所述RF电路校准参数的第一子集中的参数相关联。

N 其中对所述成对相关性进行聚类包括生成最小数量的集群。

O 其中标识所述RF电路校准参数的第二子集包括
P 对于包括RF电路校准参数的历史数据集中的第一参数和第二参数的每个相应参数对
Q 计算通过使用所述第一参数的值校准所述第二参数而产生的良品率损失
R 基于针对所述相应参数对所计算的良品率损失来生成针对所述相应参数对的良品率损失相似性值
S 基于每个相应参数对的所述良品率损失相似性值
T 对每个相应参数对之间的成对相关性进行聚类。

U 其中对所述成对相关性进行聚类包括生成最小数量的集群
V 使得每个集群的良品率损失小于阈值。

W 其中标识所述RF电路校准参数的第二子集包括迭代地评估RF电路校准参数以标识具有小于阈值的良品率损失的参数。

X 其中标识所述RF电路校准参数的第二子集包括基于丢弃梯度下降网络来标识所述RF电路校准参数的第二子集。

Y 其中生成所述可预测参数的候选集合包括基于对与所述候选集合中的每个相应参数相关联的权重的线性回归函数的梯度下降优化来生成所述候选集合。

Z 还包括验证所述RF电路校准参数的第二子集。
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