**对比文件名称：** 2005-05-19_US2005105100A_发明申请_US20050105100A1 Optical position measuring system and method using a low coherence light source
**目标专利名称：** 1278测量相对运动的器件和方法CN101341421B
**本次调用的模型名称：** 未指定（AI助理）
## 特征比对表格
| 技术特征描述及公开性判断结果 | 对比文件原文引用（中文翻译） | 公开性论述 |
| 技术特征A：所述器件包括至少一个激光器(3) **【未公开】** | [0025] “超发光器件(SLD)可以是具有抗反射涂层的激光二极管结构，但产生放大自发辐射，具有低相干性。” | 对比文件使用超发光器件(SLD)，其结构为激光二极管但通过抗反射涂层抑制激光振荡，不产生激光，因此不构成激光器。目标专利中的激光器必须具有激光腔并产生自混合效应，SLD无激光腔，故未公开。 |
| 技术特征B：会聚装置(10) **【隐含公开】** | [0031] “步骤702：从超发光器件发出的第一光束被目标衍射产生正负一级衍射光束；步骤704：将正负一级衍射光束组合。” | 对比文件未明确描述会聚装置，但实施衍射和组合步骤必然需要光学元件（如透镜、反射镜）将光束引导至目标并将衍射光束会聚组合。本领域技术人员可合理推断存在会聚装置，故隐含公开。 |
| 技术特征C：和测量装置(4) **【直接公开】** | [0025] “本发明的实施例提供一种光学位置测量系统，包括超发光器件(SLD)和探测器。” | 对比文件明确包括探测器（detector），用于接收光信号，属于测量装置，故直接公开。 |
| 技术特征D：所述至少一个激光器具有激光腔(20) **【未公开】** | [0026] “超发光器件500可以是具有发射体积502和抗反射部分504的激光二极管结构。” | 对比文件中的SLD无激光腔，其抗反射涂层抑制谐振，不存在用于激光振荡的腔体，故未公开激光腔特征。 |
| 技术特征E：所述激光腔(20)用于产生测量射束(13) **【未公开】** | 同上 | 对比文件未公开激光腔，因此更未公开其用于产生测量射束。 |
| 技术特征F：所述会聚装置(10)用于将所述测量射束(13)会聚在作用面 **【隐含公开】** | [0031] “步骤702：从超发光器件发出的第一光束被目标衍射离开目标。” | 对比文件中的光束必须被会聚到目标表面才能发生衍射，目标表面即作用面。本领域技术人员可合理推断会聚装置实现了该功能，故隐含公开。 |
| 技术特征G：并将由所述物体所反射的测量射束辐射会聚在所述激光腔(20)中 **【未公开】** | [0031] “步骤704：将正负一级衍射光束组合。” | 对比文件中被目标衍射的光束被组合至探测器，而非返回至光源腔体，未公开将反射辐射会聚回激光腔。 |
| 技术特征H：以在所述激光器(3)中产生自混合效应 **【未公开】** | 全文无自混合效应相关描述。 | 对比文件基于外差干涉原理，将衍射光束组合产生干涉，不涉及激光器内部的自混合效应，故未公开。 |
| 技术特征I：所述测量装置(4)用于测量所述自混合效应的结果 **【未公开】** | 同上 | 对比文件测量的是干涉信号，而非自混合效应的结果，故未公开。 |
| 技术特征J：所述效应由所述相对运动确定 **【未公开】** | 全文无自混合效应。 | 对比文件中的干涉效应由目标位置变化引起，但非自混合效应，故未公开。 |
| 技术特征K：其中，将所述会聚装置(10)布置成跨越延伸超过所述测量射束辐射的相干长度的距离范围而将所述测量射束(13)聚焦 **【未公开】** | [0025] “SLD产生的光束具有短相干长度（约0.1-0.5mm）。” | 对比文件使用短相干长度光源，但未公开会聚装置聚焦于超过相干长度的距离范围；其系统相反是使期望干涉路径差在相干长度内，故未公开。 |
| 技术特征L：将所述测量装置(4)构造成确定所述测量射束(13)与由物体所反射的所述激光腔(20)内的测量射束辐射之间的频率差异 **【未公开】** | 全文无频率差异测量。 | 对比文件探测干涉条纹的相位或强度，而非测量射束与反射辐射间的频率差异，故未公开。 |
| 技术特征M：将所述测量装置(4)构造成确定由所述反射的测量射束辐射所产生的噪声光谱的平均频率漂移 **【未公开】** | 全文无噪声光谱分析。 | 对比文件未涉及噪声光谱或平均频率漂移的确定，故未公开。 |
| 技术特征N：将所述测量装置(4)构造成确定由所述反射的测量射束辐射所产生的噪声光谱的瞬时频率漂移 **【未公开】** | 同上 | 对比文件无相关教导，故未公开。 |
| 技术特征O：将所述测量装置(4)构造成进行频率漂移的反射测量射束辐射和频率未漂移的反射测量射束辐射的时域探测 **【未公开】** | 全文无时域探测。 | 对比文件未公开时域探测方法，故未公开。 |
| 技术特征P：所述器件用于测量所述物体(15)的运动以及所述器件与所述物体(15)之间的距离 **【未公开】** | [0025] “光学位置测量系统（如干涉仪）” | 对比文件用于测量目标位置（横向），但未明确测量纵向距离或物体相对运动，且其系统非自混合类型，故未公开。 |
| 技术特征Q：设有用于控制所述至少一个激光器(3)的控制装置 **【未公开】** | 全文无控制装置描述。 | 对比文件未提及任何用于控制激光器的控制装置，其SLD的驱动方式未公开，故未公开。 |
| 技术特征R：将所述控制装置构造成向所述至少一个激光器(3)提供周期性地变动的电流 **【未公开】** | 全文无电流调制。 | 对比文件未公开任何周期性变动电流的供给，故未公开。 |
| 技术特征S：所述电流引起所述测量射束波长的周期性变动 **【未公开】** | 同上 | 对比文件无波长调制相关教导，故未公开。 |
| 技术特征T：以使所述反射的测量射束辐射的光谱基本上与由所述至少一个激光器(3)所产生的测量射束辐射重叠 **【未公开】** | 全文无光谱重叠设计。 | 对比文件未涉及光谱重叠的技术方案，故未公开。 |
| 技术特征U：将所述控制装置构造成向所述至少一个激光器(3)提供周期性地变动的电流 **【未公开】** | 同R。 | 同R。 |
| 技术特征V：所述电流引起所述测量射束波长的周期性变动 **【未公开】** | 同S。 | 同S。 |
| 技术特征W：以使所述反射的测量射束辐射的光谱至多部分地与由所述至少一个激光器(3)所产生的测量射束辐射重叠 **【未公开】** | 全文无光谱重叠设计。 | 对比文件未公开部分重叠的光谱方案，故未公开。 |
| 技术特征X：将所述控制装置构造成向所述至少一个激光器(3)提供脉动电流 **【未公开】** | 全文无脉动电流。 | 对比文件未公开任何脉动电流供给，故未公开。 |
| 技术特征Y：所述会聚装置(10)具有固定的焦点 **【未公开】** | 全文无焦点描述。 | 对比文件未公开会聚装置的焦点特性，更未提及固定焦点，故未公开。 |
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