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对比文件列表
2004-01-29_JP2004028663A_发明专利_JP2004028663A Electronic control circuit_+++A_D_H_L_N_b_c+++.docx
2026-07-03 00:59
2004-02-26_JP2004061372A_发明专利_JP2004061372A Impedance parameter estimation device_+++A_B_D_H_L_M_N_Q_R_c+++.docx
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2005-02-10_JP2005037380A_发明专利_JP2005037380A Degradation determining method and degradation determining device of storage battery_+++A_H_L_M_b_c_d+++.docx
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2005-04-14_JP2005100969A_发明专利_JP2005100969A Method and device for measuring internal impedance of secondary battery, and power supply system_+++A_B_C_D_H_L_M_X_Y_Z+++.docx
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2006-05-23_US7050839B_发明授权_US07050839B2 Mobile communication terminal including automatic frequency control function_+++L_b_c_d_y_z+++.docx
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2006-08-24_US2006186890A_发明申请_US20060186890A1 Method for determining deterioration of accumulator battery, method for measuring internal impedance of secondary battery, equipment for measuring interna_+++D_H_L_M_c_x+++.docx
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2008-04-22_US7362074B_发明授权_US07362074B2 Method for determining deterioration of accumulator battery, method for measuring internal impedance of secondary battery, equipment for measuring internal impe_+++A_H_L_M_N_b_c_d+++.docx
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2009-06-03_KR1020090056847A_发明公开_KR1020090056847A 축전지 등가회로의 요소별 내부 저항 또는 등가 캐패시터값 연산 방법, 및 이의 구현회로_+++A_B_C_D_H_L_M_s_t_u+++.docx
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2009-11-10_US7616003B_发明授权_US07616003B2 Method for determining deterioration of accumulator battery, method for measuring internal impedance of secondary battery, equipment for measuring internal impe_+++A_D_H_L_M_c_q_r_u+++.docx
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2009-11-11_JP4360621B_发明专利_JP4360621B2 Internal impedance measuring method of the secondary battery, the internal impedance measurement device for a secondary battery, the secondary battery deteriorat_+++A_D_H_L_M_N_b_c_q_r_x+++.docx
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2010-02-03_CN101639523A_发明公开_CN101639523A 二次电池的内部阻抗测量方法及装置、恶化判断方法及装置、电源系统_+++A_D_H_L_M_c_q_r+++.docx
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2010-06-09_JP4477185B_发明专利_JP4477185B2 Characterization methods and characterization equipment of lead-acid batteries of the lead-acid battery_+++A_B_C_D_H_L_N_m_q_r+++.docx
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2010-06-30_JP4494904B_发明专利_JP4494904B2 Internal impedance measuring method of the secondary battery, the internal impedance measuring device and a power supply system for a secondary battery_+++A_B_C_D_H_L_M_N+++.docx
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2010-07-15_JP2010156702A_发明专利_JP2010156702A Method and apparatus for measuring internal impedance of secondary cell_+++A_B_C_D_H_L_M_N_x_y_z+++.docx
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2010-10-07_JP2010223968A_发明专利_JP2010223968A Method and device for determining deterioration of storage battery_+++A_B_H_L_M_N_c_d_i_p+++.docx
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2010-12-08_EP1650575A_发明公开_EP1650575A1 METHOD FOR JUDGING DETERIORATION OF ACCUMULATOR, METHOD FOR MEASURING SECONDARY CELL INTERNAL IMPEDANCE, DEVICE FOR MEASURING SECONDARY CELL INTERNAL IMPEDANCE,_+++A_C_D_H_L_M_N_b_x+++.docx
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2011-03-09_JP4646194B_发明专利_JP4646194B2 The deterioration determination method and the deterioration determination device of the storage battery_+++A_H_L_M_N_b_c_d+++.docx
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2011-07-27_CN101639523B_发明授权_CN101639523B 二次电池的内部阻抗测量方法及装置、恶化判断装置、电源系统_+++A_D_H_L_M_N_b_c_q_r_s_t_u_x_y_z+++.docx
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2011-09-07_CN102175921A_发明公开_CN102175921A 一种基于FPGA的便携式阻抗测量仪表_+++A_B_C_D_E_F_G_H_J_L_M_N_X_Y_i_k_z+++.docx
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2011-11-03_US2011269046A_发明申请_US20110269046A1 FUEL CELL SYSTEM_+++B_C_D_H_L_N_q_r_u_x+++.docx
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2011-12-14_CN102282710A_发明公开_CN102282710A 燃料电池系统_+++a_b_c_d_h_l_m_n_q_r_u_x+++.docx
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2011-12-19_KR101096053B_发明授权_KR101096053B1 축전지 등가회로의 요소별 내부 저항 또는 등가 캐패시터값 연산 방법, 및 이의 구현회로_+++A_B_C_D_H_L_M_N_X_s_t_u+++.docx
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2012-06-27_KR101160545B_发明授权_KR101160545B1 이차전지 건강상태 진단장치_+++A_B_C_D_H_L_M+++.docx
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2012-07-04_EP2472277A_发明公开_EP2472277A2 Method and device for measuring secondary cell internal impedance and judging deterioration_+++A_B_C_D_H_L_M_N_q_r_x+++.docx
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2012-12-05_CN102809691A_发明公开_CN102809691A 电池阻抗检测系统、设备及方法_+++A_B_C_D_H_L_M_N_e_q_r+++.docx
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2012-12-06_US2012306504A_发明申请_US20120306504A1 BATTERY IMPEDANCE DETECTION SYSTEM, APPARATUS AND METHOD_+++A_B_C_D_H_J_L_M_N_e_f_g_x+++.docx
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2013-05-13_JP2013088148A_发明专利_JP2013088148A Battery system and battery evaluation method_+++A_B_C_D_H_L_i_m_q_r+++.docx
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2013-07-18_JP2013140184A_发明专利_JP2013140184A Integrated circuit having built-in safety test facility_+++b_c_d+++.docx
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2013-08-14_EP2626716A_发明公开_EP2626716A2 Device and method for judging deterioration of accumulator _ secondary cell_+++A_D_H_L_M_N_c_x_y_z+++.docx
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2013-09-26_US2013253862A_发明申请_US20130253862A1 IMPEDANCE ANALYZING DEVICE_+++A_B_C_D_H_J_L_M_X_q_r_u+++.docx
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2013-10-23_JP5323761B_发明专利_JP5323761B2 The deterioration determination method and the deterioration determination device of the storage battery_+++A_B_C_D_H_L_M_N+++.docx
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2013-12-11_JP5367604B_发明专利_JP5367604B2 How to measure the internal impedance of the secondary battery and equipment_+++A_C_D_H_J_L_M_N_b_x+++.docx
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2014-01-29_CN102282710B_发明授权_CN102282710B 燃料电池系统_+++B_C_D_H_L_M_N_a_q_r_u+++.docx
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2014-09-24_EP2613165B_发明授权_EP2613165B1 Method and device for measuring secondary cell internal impedance_+++A_B_C_D_H_L_M_N_x+++.docx
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2014-09-25_US2014287287A_发明申请_US20140287287A1 BATTERY SYSTEM AND EVALUATION METHOD FOR BATTERY_+++A_B_C_D_H_L_m+++.docx
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2014-11-26_CN102809691B_发明授权_CN102809691B 电池阻抗检测系统、设备及方法_+++A_B_C_D_H_L_M_X+++.docx
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2015-04-08_CN104502723A_发明公开_CN104502723A 高频治疗设备电阻检测电路_+++B_C_D_H_L_M_N_X+++.docx
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2015-07-16_US2015198675A_发明申请_US20150198675A1 STORAGE DEVICE STATE DETECTION METHOD_+++A_B_C_D_H_M_U_l_n_r+++.docx
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2016-04-20_JP5906491B_发明专利_JP5906491B2 蓄電装置の状態検知方法_+++B_C_D_H_L_M_N_U_a_q_r+++.docx
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2016-07-06_CN105738826A_发明公开_CN105738826A 蓄电池检测系统及方法_+++A_B_C_D_H_L_M_N+++.docx
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2016-10-04_US9459323B_发明授权_US09459323B2 Battery-state monitoring system_+++A_B_C_D_H_L_M_N_s_t_u+++.docx
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2017-01-05_US2017003354A_发明申请_US20170003354A1 ENERGY STORAGE CELL IMPEDANCE MEASURING APPARATUS, METHODS AND RELATED SYSTEMS_+++A_B_C_D_H_L_M_N_e_f_g_i_j_k_o_p_x+++.docx
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2017-01-05_WO2017003917A_发明申请_WO2017003917A1 ENERGY STORAGE CELL IMPEDANCE MEASURING APPARATUS, METHODS AND RELATED SYSTEMS_+++A_B_C_D_E_H_L_M_N_P_f_g_i_j_k_o_s_t_u+++.docx
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2017-02-23_JP2017040615A_发明专利_JP2017040615A 二次電池の性能推定装置および二次電池の性能推定方法_+++A_D_H_L_M_N_U_b_c_q_r+++.docx
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2017-03-22_CN106526321A_发明公开_CN106526321A 阻抗测定装置及阻抗测定方法_+++A_B_C_D_E_H_J_L_M_N_X_Y+++.docx
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2017-08-03_US2017219660A_发明申请_US20170219660A1 ELECTROCHEMICAL IMPEDANCE SPECTROSCOPY IN BATTERY MANAGEMENT SYSTEMS_+++A_B_C_D_H_L_M_N_S_T_U_q_r_x_y_z+++.docx
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2018-04-19_None_发明专利_JPWO2017009891A1 内部抵抗導出装置、蓄電池装置、および内部抵抗値導出方法_+++A_B_C_D_E_H_L_M_N_X_f_g+++.docx
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2018-06-11_KR1020180062814A_发明公开_KR20180062814A 메타데이터를 이용한 2차 전지 시험 방법_+++a_b_c_d_h_l_m_n+++.docx
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2018-08-14_KR101888125B_发明授权_KR101888125B1 측정시퀀스를 이용한 2차 전지 시험 방법 및 제어 디바이스_+++A_L_N_b_c_d_h_m+++.docx
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2018-08-23_JP2018523814A_发明专利_JP2018523814A エネルギ貯蔵セル・インピーダンス測定装置、方法、および関連システム_+++A_B_C_D_H_J_L_M_e_s_t_u+++.docx
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US10386422B2_Description_20260619_0050_+++A_B_C_D_H_L_M_N_U_q_r_s_t_x+++.docx
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WO2005015252A1_Description_20260619_0048_+++A_D_H_L_M_N_b_c+++.docx
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WO2017009891A1_Description_20260619_0050_+++A_B_H_L_M_N_X_c_d+++.docx
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WO2018101620A1_Description_20260619_0049_+++a_b_c_d_h_l_m_n+++.docx
2026-07-03 00:59
2017-02-23_JP2017040615A_发明专利_JP2017040615A 二次電池の性能推定装置および二次電池の性能推定方法_+++A_D_H_L_M_N_U_b_c_q_r+++.docx

**对比文件**:2017-02-23_JP2017040615A_发明专利_JP2017040615A 二次電池の性能推定装置および二次電池の性能推定方法

**目标专利**:1527电池单元电阻测量装置及方法、电池组CN113646649B

**本次调用的模型名称**:GPT-4(本例中为AI模型,但用户未指定具体名称,故以“AI模型”标识)

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### 特征比对表格

技术特征描述及公开性判断结果对比文件原文引用(中文翻译)公开性论述
**技术特征A**:该电池单元电阻测量装置包括《直接公开》[0021]“バッテリ装置10は、組電池11と、組電池11の性能推定装置20とを備えている。”(电池装置10具备组电池11和组电池11的性能推定装置20。)对比文件公开了“性能推定装置20”,其本质是用于电池(组电池)的性能估计装置,必然包含测量内部电阻的功能,与目标专利的“电池单元电阻测量装置”属于同类型的装置,因此该上位特征被直接公开。
**技术特征B**:载波信号生成模块《隐含公开》[0055]“交流インピーダンス測定法を用いて、高周波数(例えば1kHz)の抵抗(ACR)を検出することで、主にオーミック抵抗成分を検出することができ、低周波数(例えば0.1Hz)の抵抗(DCR)を検出することで、主に電荷移動抵抗成分を検出することができる。”(通过交流阻抗测量法,检测高频(例如1kHz)的电阻(ACR)可以主要检测欧姆电阻成分,检测低频(例如0.1Hz)的电阻(DCR)可以主要检测电荷转移电阻成分。)对比文件明确教导使用高频和低频交流信号来测量电池的电阻成分,这必然需要信号发生装置来生成载波信号。虽然未明确画出“载波信号生成模块”这一结构,但本领域技术人员根据其教导可以合理推断出该装置包含生成不同频率载波信号的模块,因此隐含公开。
**技术特征C**:该载波信号生成模块被配置为生成第一频率的载波信号和第二频率的载波信号《隐含公开》[0055]同上,明确使用了“高周波数(例えば1kHz)”和“低周波数(例えば0.1Hz)”。对比文件直接给出了高频(1kHz)和低频(0.1Hz)的具体数值,并指出通过交流阻抗测量法使用这些频率的信号。因此,生成这两个频率的载波信号的功能被完全公开,虽然与“载波信号生成模块”直接结合,但整体功能可从对比文件合理得出,故隐含公开。
**技术特征D**:所述第二频率与所述第一频率不同《直接公开》[0055]“高周波数(例えば1kHz)”和“低周波数(例えば0.1Hz)”。对比文件明确列举了1kHz和0.1Hz两个不同的频率,直接公开了第二频率(高频)与第一频率(低频)不同这一特征。
**技术特征E**:电阻单元《未公开》无相关内容。对比文件未公开任何与目标专利中用于校准的“电阻单元”(第一电阻器、第二电阻器)类似的结构。其仅通过电池自身的电压电流计算电阻,不涉及使用已知电阻进行测量,故未公开。
**技术特征F**:该电阻单元包括第一电阻器和第二电阻器《未公开》无相关内容。同特征E,对比文件没有公开任何独立的已知电阻器。
**技术特征G**:所述第二电阻器具有与所述第一电阻器不同的电阻值《未公开》无相关内容。同特征F,对比文件未公开两个电阻器及其阻值关系。
**技术特征H**:阻抗测量单元《直接公开》[0027]“抵抗演算部27は、電圧測定部21及び電流測定部22から電圧値および電流値を受信し、例えば、クランキング放電時の電圧変化ΔVと電流変化ΔIとを求め、ΔV/ΔI=Rにより内部抵抗Rを演算する。”(电阻运算部27接收来自电压测量部21和电流测量部22的电压值和电流值,例如求出起动放电时的电压变化ΔV和电流变化ΔI,通过ΔV/ΔI=R运算内部电阻R。)对比文件公开了基于电压和电流测量内部电阻的“抵抗演算部27”,其功能与目标专利的“阻抗测量单元”一致,均用于测量电池的阻抗(电阻)。因此该特征被直接公开。
**技术特征I**:该阻抗测量单元被配置为在向所述第一电阻器、所述第二电阻器和电池单元中的任何一个施加所述第一频率的载波信号或所述第二频率的载波信号的状态下,测量相应施加对象两端的阻抗值《未公开》无相关内容。对比文件未公开对第一电阻器、第二电阻器施加载波信号并进行测量,仅涉及对电池单元的测量。目标专利通过切换测量不同对象(已知电阻和电池)来校准,对比文件无此概念,故未公开。
**技术特征J**:切换单元《未公开》无相关内容。对比文件没有公开任何用于选择不同测量对象的切换单元。
**技术特征K**:该切换单元被配置为将所述第一电阻器、所述第二电阻器和所述电池单元中的任何一个选择性地连接至所述阻抗测量单元《未公开》无相关内容。同特征J,对比文件没有公开切换功能及对应连接关系。
**技术特征L**:控制单元《直接公开》[0035]“推定部30は、中央処理装置(以下、「CPU」という)31と、メモリ32と、通信部33とを備えている。”(推定部30具备中央处理装置(以下称为CPU)31、存储器32和通信部33。)对比文件公开了作为控制核心的“推定部30”(包含CPU31),其执行容量估计、劣化判定等功能,与控制单元(微处理器)对应,因此该特征直接公开。
**技术特征M**:该控制单元被配置为基于由所述阻抗测量单元测量到的阻抗值来计算所述电池单元的内部电阻《直接公开》[0027]“ΔV/ΔI=Rにより内部抵抗Rを演算する”(通过ΔV/ΔI=R运算内部电阻R)。 [0036]-[0037]容量推定部基于放置劣化计算容量,但还基于内部电阻比进行劣化判定。对比文件的CPU(控制单元)接收阻抗测量单元(抵抗演算部27)检测到的内部电阻值,并基于该值进行后续计算(如估计容量等),因此直接公开了基于阻抗值计算内部电阻的功能。
**技术特征N**:其中,所述控制单元《直接公开》[0035]“推定部30は…CPU31…を備えている。”该特征仅为过渡用语,对比文件公开了控制单元(推定部/CPU),故直接公开。
**技术特征O**:基于通过向所述第一电阻器和所述第二电阻器中的每个分别施加所述第一频率的载波信号和所述第二频率的载波信号而测量到的阻抗值来生成调整参数《未公开》无相关内容。对比文件完全没有公开通过已知电阻(第一、第二电阻器)测量来生成调整参数的概念。其使用温度补偿而非电阻校准,因此未公开。
**技术特征P**:基于所述调整参数和通过向所述电池单元施加所述第一频率的载波信号和所述第二频率的载波信号而测量到的阻抗值,来计算所述电池单元的内部电阻《未公开》无相关内容。同特征O,对比文件未公开调整参数及其在计算内部电阻中的应用。
**技术特征Q**:其中,所述第一频率为低频,所述电池单元的阻抗值为DC分量电阻和AC分量阻抗相加而获得的总阻抗值《隐含公开》[0054]“低周波数域の抵抗(以下、「DCR」ともいう)では、高周波数域に比べると電荷移動抵抗成分が大きくなる。”(在低频率域的电阻(以下称为DCR)中,与高频率域相比电荷转移电阻成分变大。) [0055]“低周波数(例えば0.1Hz)の抵抗(DCR)を検出することで、主に電荷移動抵抗成分を検出することができる。”(通过检测低频(例如0.1Hz)电阻(DCR),可以主要检测电荷转移电阻成分。)对比文件指出低频下DCR包含电荷转移电阻(AC分量)和欧姆电阻(DC分量),即相当于总阻抗;高频下ACR主要是欧姆电阻(DC分量)。本领域技术人员由此可以合理推断出低频测量得到的是包含DC和AC的总阻抗,因此隐含公开了特征Q。
**技术特征R**:所述第二频率为高频,所述电池单元的阻抗值仅为所述DC分量电阻《隐含公开》[0054]“高周波数域の抵抗(以下、「ACR」ともいう)は、オーミック抵抗成分が支配的である。”(高频率域的电阻(以下称为ACR)中,欧姆电阻成分占主导地位。) [0055]“高周波数(例えば1kHz)の抵抗(ACR)を検出することで、主にオーミック抵抗成分を検出することができる。”(通过检测高频(例如1kHz)电阻(ACR),可以主要检测欧姆电阻成分。)对比文件明确高频下ACR主要是欧姆电阻(DC分量),本领域技术人员可合理推断出高频测量的阻抗值基本等于DC分量电阻,因此隐含公开了特征R。
**技术特征S**:其中,所述第一频率的载波信号是频率等于或小于预设的第一参考频率的高阻抗载波信号《未公开》无相关内容。对比文件未提及“高阻抗载波信号”这一概念,也未定义参考频率。虽然公开了具体低频数值(0.1Hz),但未说明其为高阻抗载波信号,故未公开。
**技术特征T**:其中,所述第二频率的载波信号是频率等于或大于预设的第二参考频率的高阻抗载波信号《未公开》无相关内容。同特征S,对比文件未公开高阻抗载波信号及参考频率。
**技术特征U**:其中,所述第一参考频率小于所述第二参考频率《直接公开》[0055]“高周波数(例えば1kHz)”、“低周波数(例えば0.1Hz)”。对比文件公开了低频(0.1Hz)和高频(1kHz),两者频率不同且低频小于高频,直接公开了第一参考频率(相当于低频)小于第二参考频率(相当于高频)的关系。
**技术特征V**:其中,所述第一电阻器在所述电池单元处于开路电压状态时被设置为预期的最小电阻值《未公开》无相关内容。对比文件未公开任何关于电阻器的设置值,更未涉及开路电压状态下的特定电阻值设定。
**技术特征W**:其中,所述第二电阻器在所述电池单元处于开路电压状态时被设置为预期的最大电阻值《未公开》无相关内容。同特征V。
**技术特征X**:其中,所述阻抗测量单元还包括信号处理单元《未公开》无相关内容。对比文件的阻抗测量通过电压电流直接计算,未公开任何额外的信号处理单元,如I/Q解调器或锁相放大器。
**技术特征Y**:该信号处理单元用于针对每个测量到的阻抗信号生成同相的I信号和延迟90度的Q信号《未公开》无相关内容。对比文件没有提及正交调制或I/Q信号生成。
**技术特征Z**:基于所生成的I/Q信号从每个测量到的阻抗信号中去除噪声分量《未公开》无相关内容。对比文件无任何关于利用I/Q信号去噪的公开内容。

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根据上述比对,对比文件直接公开了技术特征A、D、H、L、M、N、U;隐含公开了技术特征B、C、Q、R。

<<<A>>><<<D>>><<<H>>><<<L>>><<<M>>><<<N>>><<<U>>>

<<<b>>><<<c>>><<<q>>><<<r>>>

权利要求与技术特征

A 该电池单元电阻测量装置包括
B 载波信号生成模块
C 该载波信号生成模块被配置为生成第一频率的载波信号和第二频率的载波信号
D 所述第二频率与所述第一频率不同
E 电阻单元
F 该电阻单元包括第一电阻器和第二电阻器
G 所述第二电阻器具有与所述第一电阻器不同的电阻值
H 阻抗测量单元
I 该阻抗测量单元被配置为在向所述第一电阻器、所述第二电阻器和电池单元中的任何一个施加所述第一频率的载波信号或所述第二频率的载波信号的状态下,测量相应施加对象两端的阻抗值
J 切换单元
K 该切换单元被配置为将所述第一电阻器、所述第二电阻器和所述电池单元中的任何一个选择性地连接至所述阻抗测量单元
L 控制单元
M 该控制单元被配置为基于由所述阻抗测量单元测量到的阻抗值来计算所述电池单元的内部电阻
N 其中,所述控制单元
O 基于通过向所述第一电阻器和所述第二电阻器中的每个分别施加所述第一频率的载波信号和所述第二频率的载波信号而测量到的阻抗值来生成调整参数
P 基于所述调整参数和通过向所述电池单元施加所述第一频率的载波信号和所述第二频率的载波信号而测量到的阻抗值,来计算所述电池单元的内部电阻
Q 其中,所述第一频率为低频,所述电池单元的阻抗值为DC分量电阻和AC分量阻抗相加而获得的总阻抗值
R 所述第二频率为高频,所述电池单元的阻抗值仅为所述DC分量电阻。
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