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对比文件列表
1999-08-06_None_发明专利_JPH11211422A Device and method for measuring line width_+++A_B_D_G_Q_R_c_l_m_n_s+++.docx
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2001-06-05_US6243199B_发明授权_US06243199B1 Broad band wire grid polarizing beam splitter for use in the visible wavelength region_+++A_B_C_D_G_Q_R_V_s+++.docx
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2002-06-12_EP1212644A_发明公开_EP1212644A1 IMPROVED WIRE-GRID POLARIZING BEAM SPLITTER_+++A_B_G_Q_R_c_d_s+++.docx
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2004-02-04_EP1387190A_发明公开_EP1387190A1 POLARIZING DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME_+++A_B_D_G_Q_R_V_c_s+++.docx
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2006-08-03_JP2006201273A_发明专利_JP2006201273A Polarized light irradiating apparatus_+++A_B_G_d_s+++.docx
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2008-02-21_WO2008022099A_发明申请_WO2008022099A2 POLARIZER FILMS AND METHODS OF MAKING THE SAME_+++A_B_C_D_G_Q_R_V_e_f_s_t_u_y_z+++.docx
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2008-03-04_US7339734B_发明授权_US07339734B2 Polarization control element, manufacturing method of polarization control element, design method of polarization control element, and electronic equipment_+++A_B_C_D_G_N_Q_R_V_s+++.docx
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2008-12-31_WO2009002573A_发明申请_WO2009002573A1 DURABLE, INORGANIC, ABSORPTIVE, ULTRA-VIOLET, GRID POLARIZER_+++A_B_C_D_G_Q_R_V_e_f_o_p_s_t_u_y_z+++.docx
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2009-02-12_US2009041971A_发明申请_US20090041971A1 POLARIZER FILMS AND METHODS OF MAKING THE SAME_+++A_B_C_D_E_F_G_Q_R_V_s_t_u_y_z+++.docx
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2009-09-17_US2009231702A_发明申请_US20090231702A1 OPTICAL FILMS AND METHODS OF MAKING THE SAME_+++A_B_C_D_G_N_Q_R_V_e_f_s_t_u_y_z+++.docx
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2010-01-14_JP2010501085A_发明专利_JP2010501085A Polarizer thin film and this fabrication method_+++A_B_C_D_G_Q_R_V_e_f_s_t_u_y_z+++.docx
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2010-03-25_US2010072170A_发明申请_US20100072170A1 SHORT PITCH METAL GRATINGS AND METHODS FOR MAKING THE SAME_+++A_B_C_D_G_Q_R_V_s_y_z+++.docx
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2010-05-13_KR1020100049766A_发明公开_KR1020100049766A 편광 소자의 제조 방법_+++A_B_G_Q_R_d_s_v+++.docx
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2010-09-24_JP2010531467A_发明专利_JP2010531467A Resistant, and inorganic ultraviolet-grid polarizer having an absorbent_+++A_B_C_D_G_Q_R_V_e_f_o_p_s_t_u_y_z+++.docx
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2010-10-21_US2010265571A_发明申请_US20100265571A1 OPTICAL FILMS AND METHODS OF MAKING THE SAME_+++A_B_D_G_Q_R_V_c_s_t_u+++.docx
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2010-11-03_CN101876722A_发明公开_CN101876722A 线栅偏振器_+++A_B_E_G_N_Q_R_V_X_d_f_s_t_u_y_z+++.docx
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2010-11-05_KR1020100118539A_发明公开_KR1020100118539A 와이어 그리드 편광자_+++A_B_C_D_E_G_N_R_S_V_X_o_y_z+++.docx
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2010-12-09_JP2010277077A_发明专利_JP2010277077A Wire grid polarizer_+++A_B_C_D_E_G_N_Q_R_S_V_X_o+++.docx
2026-07-29 11:00
2010-05-13_KR1020100049766A_发明公开_KR1020100049766A 편광 소자의 제조 방법_+++A_B_G_Q_R_d_s_v+++.docx

对比文件名称:2010-05-13_KR1020100049766A_发明公开_KR1020100049766A 편광 소자의 제조 방법

目标专利名称:1754偏振光分离元件CN104105987B

本次调用的模型名称:AI模型(资深专利代理师评估)

### 特征比对表格

技术特征描述及公开性判断结果对比文件原文引用(翻译)公开性论述
技术特征A:包括基板《直接公开》段落[17]:“偏振光元件(100)包括基底基板(110)和形成在基底基板上的偏振图案(120)”。对比文件明确公开了基底基板,其作用与目标专利的基板相同,均为支撑偏振结构,因此本领域技术人员可直接确定技术特征A被公开。
技术特征B:和凹凸结构《直接公开》段落[19]:“偏振图案(120)是条纹状格栅线(122)以一定间距排列的结构”。对比文件公开的条纹状格栅线结构即形成凸出部(格栅线)和凹入部(格栅线之间的空间),与目标专利的凹凸结构(条形图案平行排列)实质相同,因此直接公开。
技术特征C:所述凹凸结构具有包含吸光材料的凸出部(未公开)段落[20]:“偏振图案(120)由高反射率金属或金属氧化物形成,例如铝(Al)、银(Ag)、铜(Cu)、金(Au)、钼(Mo)和镍(Ni)等单一金属或它们的合金”。对比文件明确凸出部由高反射率金属或金属氧化物形成,强调反射而非吸光,且目标专利的吸光材料具有特定紫外光学参数,两者材料性质和功能不同,故未公开。
技术特征D:包含介电材料的凹入部《隐含公开》段落[19]:格栅线之间的空间(凹入部)为空气,未填充其他材料。对比文件凹入部为空气,空气在目标专利中明确被列为介电材料之一(说明书[0015]),本领域技术人员可合理推断凹入部包含介电材料(空气),因此隐含公开。
技术特征E:所述吸光材料相对于波长为300nm的光的折射率为1至10(未公开)对比文件全文未记载任何关于折射率的具体数值或范围。对比文件未涉及材料在紫外波段(300nm)的折射率,更未公开1至10的范围,故未公开。
技术特征F:消光系数为0.5至10(未公开)对比文件全文未记载任何关于消光系数的具体数值或范围。对比文件未涉及材料在紫外波段的消光系数,故未公开。
技术特征G:所述凹凸结构形成于所述基板上《直接公开》段落[17]:“偏振图案(120)形成在基底基板(110)上”。对比文件明确记载偏振图案(凹凸结构)形成于基底基板上,与目标专利的G特征一致,直接公开。
技术特征H:在以下公式1中,a为0.74至10(未公开)对比文件全文未出现公式1及a、b参数。对比文件未涉及目标专利的公式1及a、b范围,故未公开。
技术特征I:b为0.5至10(未公开)同上。未公开。
技术特征J:在以下公式2中,c为1.3至10(未公开)对比文件全文未出现公式2及c、d参数。未公开。
技术特征K:d为0.013至0.1(未公开)同上。未公开。
技术特征L:[公式1] (a+bi)²=n₁²×(1-W/P)+n₂²×W/P(未公开)对比文件全文未出现该公式。未公开。
技术特征M:[公式2] (c+di)²=n₁²×n₂²/((1-W/P)×n₂²+W×n₁²/P)(未公开)对比文件全文未出现该公式。未公开。
技术特征N:其中,i为虚数(未公开)对比文件全文未涉及复数及虚数表示。未公开。
技术特征O:n₁表示所述介电材料相对于波长为300nm的光的折射率(未公开)对比文件未定义n₁,也未涉及300nm折射率。未公开。
技术特征P:n₂表示所述凸出部相对于波长为300nm的光的折射率(未公开)对比文件未定义n₂,也未涉及300nm折射率。未公开。
技术特征Q:W表示所述凸出部的宽度《直接公开》段落[21]:“格栅线(122)的线宽(W)”。对比文件直接定义了线宽W,与目标专利中W表示凸出部宽度含义一致,直接公开。
技术特征R:P表示所述凸出部的间距《直接公开》段落[21]:“格栅线(122)中心间的间距(P)”。对比文件直接定义了间距P,与目标专利中P表示凸出部间距含义一致,直接公开。
技术特征S:其中,所述介电材料相对于波长为250nm至350nm的光的折射率为1至3《隐含公开》段落[19]:凹入部为空气,空气在紫外波段折射率约为1。对比文件凹入部为空气,本领域技术人员已知空气折射率在紫外波段约为1,完全落在1至3范围内,且目标专利明确空气可作为介电材料,因此隐含公开。
技术特征T:其中,所述凸出部相对于波长为250nm至350nm的光的折射率为1至10(未公开)对比文件全文未记载凸出部材料在紫外波段的折射率。对比文件所用金属(如Al、Ag等)在紫外波段折射率通常小于1,不在1至10范围内,也未公开任何折射率数值,故未公开。
技术特征U:其中,所述凸出部相对于波长在紫外区的光的消光系数为0.5至10(未公开)对比文件全文未记载凸出部材料在紫外波段的消光系数。未公开。
技术特征V:其中,所述吸光材料为选自硅、氧化钛、氧化锌、氧化锆、钨、氧化钨、砷化镓、锑化镓、砷化铝镓、碲化镉、铬、钼、镍、磷化镓、砷化铟镓、磷化铟、锑化铟、碲化镉锌、氧化锡、氧化铯、钛酸锶、碳化硅、铱、氧化铱或碲化硒锌中的至少一种《隐含公开》段落[20]:“偏振图案(120)可以由铝(Al)、银(Ag)、铜(Cu)、金(Au)、钼(Mo)和镍(Ni)等单一金属或它们的合金形成”。对比文件公开了凸出部材料可选钼(Mo)和镍(Ni),该两种材料均出现在目标专利的吸光材料列表中。虽然对比文件未明确其为“吸光材料”,但材料种类相同,本领域技术人员可合理推断该特征被部分公开,故隐含公开。
技术特征W:由公式3计算的D为0.67至0.98(未公开)对比文件全文未出现公式3及D参数。未公开。
技术特征X:[公式3] D=(Tc-Tp)/(Tc+Tp)(未公开)对比文件全文未出现该公式。未公开。
技术特征Y:其中,Tc表示在垂直于所述凸出部的方向上偏振的波长为250nm至350nm的光相对于所述偏振光分离元件的透射率(未公开)对比文件未定义Tc,也未涉及透射率测量方向。未公开。
技术特征Z:Tp表示在平行于所述凸出部的方向上偏振的波长为250nm至350nm的光相对于所述偏振光分离元件的透射率(未公开)对比文件未定义Tp,也未涉及透射率测量方向。未公开。

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