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对比文件列表
2001-06-12_JP2001160650A_发明专利_JP2001160650A Semiconductor light emitting element_+++A_B_C_D_E_F_H_I_J_N_O_P+++.docx
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2003-10-31_JP2003308218A_发明专利_JP2003308218A Intermediate code execution system and incorporated equipment_+++A_B_C_D_E_F_G_H_I_J_K_L_M_N_O_P_Q_R_S_T_U_V_W_X_Y_a_b_c_d_e_f_g_h_i_j_k_l_m_n_o_p_q_r_s_t_u_v_w_x_y+++.docx
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2003-11-06_US2003207480A_发明申请_US20030207480A1 Method of manufacturing semiconductor device_+++A_B_C_D_F_H_N_O_P+++.docx
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2005-05-10_US6891871B_发明授权_US06891871B1 Semiconductor light emitting device_+++A_B_C_D_E_F_H_I_J_N_O_Q_S_T+++.docx
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2007-06-14_US2007131958A_发明申请_US20070131958A1 Single chip with multi-LED_+++A_B_C_D_E_H_f+++.docx
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2008-05-28_CN101188267A_发明公开_CN101188267A 发光装置及其制造方法_+++A_B_C_D_H_N_O_e_f_g_q_w_y+++.docx
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2008-05-29_US2008121907A_发明申请_US20080121907A1 LIGHT EMITTING DIODE AND FABRICATING METHOD THEREOF_+++A_B_C_D_E_F_H_I_J_N_O+++.docx
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2008-08-07_US2008185606A_发明申请_US20080185606A1 Semiconductor light emitting element_+++A_B_C_D_E_F_G_H_I_J_N_O_V_Y_k_p_q_r_s_t+++.docx
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2008-08-16_TW200834984A_发明专利_TW200834984A 發光元件及其製造方法_+++A_B_C_D_E_F_G_H_N_O_P_Q_X_Y+++.docx
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2009-10-06_KR1020090104453A_发明公开_KR1020090104453A 질화물 반도체 발광소자_+++A_B_C_D_F_H_N_O_R+++.docx
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2009-12-03_WO2009145502A_发明申请_WO2009145502A2 발광 소자_+++A_B_C_D_E_F_H_I_J_N_O+++.docx
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2009-12-23_WO2009154383A_发明申请_WO2009154383A2 반도체 발광소자_+++A_B_C_D_E_F_H+++.docx
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2009-12-31_US2009321775A_发明申请_US20090321775A1 LED with Reduced Electrode Area_+++A_B_C_D_E_F_G_H_I_J_N_O+++.docx
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2003-11-06_US2003207480A_发明申请_US20030207480A1 Method of manufacturing semiconductor device_+++A_B_C_D_F_H_N_O_P+++.docx

对比文件名称:2003-11-06_US2003207480A_发明申请_US20030207480A1 Method of manufacturing semiconductor device

目标专利名称:1782发光器件和发光器件封装CN102194958B

本次调用的模型名称:DeepSeek

### 特征比对表格

技术特征描述及公开性判断结果对比文件原文引用(中文翻译)公开性论述
技术特征A:包括发光结构,所述发光结构包括第一导电半导体层《直接公开》[0042]:“在衬底10上依次生长缓冲层11、底层12、n侧接触层13、n型包层14、有源层15、p型包层16和p侧接触层17”。其中n侧接触层13为n型掺杂,是第一导电半导体层。对比文件明确公开了n型GaN接触层(n-side contact layer)作为第一导电半导体层,位于发光结构中,因此直接公开技术特征A。
技术特征B:在所述第一导电半导体层上的有源层《直接公开》[0042]:同上,有源层15形成在n型包层14上,而n型包层14在第一导电半导体层(n侧接触层13)之上。对比文件公开了有源层(active layer)位于第一导电半导体层(n侧接触层)的上方,尽管中间有n型包层,但属于“在第一导电半导体层上”的范畴,因此直接公开。
技术特征C:所述有源层上的第二导电半导体层《直接公开》[0042]:p型包层16和p侧接触层17形成在有源层15之上,均为p型掺杂,构成第二导电半导体层。对比文件公开了p型层(p型包层和p侧接触层)位于有源层上,即第二导电半导体层,因此直接公开。
技术特征D:其中所述发光结构具有其中暴露所述第一导电半导体层的顶表面的区域《直接公开》[0045]:“通过选择性蚀刻p侧接触层17、p型包层16、有源层15、n型包层14和n侧接触层13的一部分,暴露n侧接触层13。”对比文件明确通过台面蚀刻暴露了第一导电半导体层(n侧接触层)的顶表面,形成区域,因此直接公开。
技术特征E:透射电极层,所述透射电极层在所述第二导电半导体层上《未公开》对比文件未描述透射电极层。第五实施例中p侧电极21和接触电极23总厚度为5-15nm,但未命名或定义为透射电极层,且结构为直接接触半导体层,无独立透射电极层。对比文件没有公开在第二导电半导体层上设置单独的透射电极层,即使第五实施例中有薄层电极,但其功能、材料和结构均不同于目标专利的透射电极层(用于电流扩展的透明导电层),因此未公开。
技术特征F:粘附层,所述粘附层接触所述第一导电半导体层《直接公开》[0046]:“在半导体层的整个暴露表面上,即n侧接触层13和p侧接触层17的表面,以及n侧接触层13、n型包层14、有源层15、p型包层16和p侧接触层17的侧面,形成绝缘层18。”绝缘层18接触n侧接触层13。对比文件的绝缘层18(SiO2或Si3N4)直接接触第一导电半导体层(n侧接触层)的顶表面和侧表面,该层在结构上相当于目标专利的粘附层(接触第一导电半导体层),因此直接公开。
技术特征G:第一电极,所述第一电极在所述区域中接触所述粘附层和所述第一导电半导体层上《未公开》[0053]:“在绝缘层18上形成开口18b,在n侧接触层13上形成n侧电极22”。n侧电极22仅接触n侧接触层13,不接触绝缘层18的顶表面。对比文件中第一电极(n侧电极)仅通过绝缘层开口接触第一导电半导体层,未接触绝缘层(粘附层)的顶表面,不满足“第一电极接触粘附层和第一导电半导体层”的要求,因此未公开。
技术特征H:第二电极,所述第二电极接触所述第二导电半导体层《直接公开》[0052]:“p侧电极21形成在p侧接触层17上”。对比文件公开了p侧电极(第二电极)直接接触第二导电半导体层(p侧接触层),因此直接公开。
技术特征I:其中所述第二电极的第一部分通过所述透射电极层接触所述第二导电半导体层的至少一部分《未公开》对比文件无透射电极层,且第二电极(p侧电极21)直接接触第二导电半导体层,无通过透射电极层的部分。由于对比文件未公开透射电极层,且第二电极直接接触半导体层,没有第一部分通过透射电极层接触,因此未公开。
技术特征J:所述第二电极的第二部分接触所述透射电极层的至少一部分《未公开》对比文件无透射电极层,第二电极(p侧电极21)仅接触半导体层,接触电极23接触p侧电极21,但p侧电极21不被视为透射电极层。缺乏透射电极层,且无第二电极第二部分接触透射电极层的结构,因此未公开。
技术特征K:其中所述粘附层被布置在所述第一导电半导体层的侧表面和顶表面、所述有源层的侧表面、以及所述第二导电半导体层的顶表面和侧表面上;并且中所述第二电极的第一部分被所述透射电极层包围《未公开》前半部分:绝缘层18覆盖n侧接触层13的顶表面和侧表面、有源层15的侧表面、p侧接触层17的顶表面和侧表面([0046])。后半部分:无透射电极层,第二电极(p侧电极21)不被透射电极层包围。对比文件公开了绝缘层(粘附层)覆盖所要求的各个表面,但未公开透射电极层及其包围第二电极第一部分的结构,因此整体未公开。
技术特征L:其中接触所述第一导电半导体层的顶表面的所述第一电极的底表面具有所述第一电极的顶表面的10%至95%的面积《未公开》对比文件中第一电极(n侧电极22)的底表面全部接触第一导电半导体层,面积比例为100%,未提及比例范围。对比文件未公开第一电极底表面面积与顶表面面积的比例,且实际比例不在10-95%范围内,因此未公开。
技术特征M:其中所述第一电极和所述粘附层之间的垂直重叠区域具有所述第一电极的顶表面的5%至90%的宽度《未公开》对比文件中第一电极(n侧电极22)与绝缘层18仅在开口侧壁有接触,无垂直重叠区域(电极底表面不在绝缘层上)。对比文件没有公开第一电极与粘附层在垂直方向上的重叠,也没有公开重叠宽度比例,因此未公开。
技术特征N:其中所述粘附层包括透射导电材料和透射绝缘材料中的至少一个《直接公开》[0046]:“绝缘层18由具有耐蚀刻性的绝缘材料如二氧化硅(SiO2)或氮化硅(Si3N4)形成。”SiO2和Si3N4均为透射绝缘材料。对比文件的绝缘层(粘附层)由透射绝缘材料构成,符合“至少一个”的要求,因此直接公开。
技术特征O:其中所述粘附层包括从由SiOx、SiOxNy、Si3N4、TiO2、Al2O3、铟锡氧化物、铟锌氧化物、铟锌锡氧化物、铟铝锌氧化物、铟镓锌氧化物、铟镓锡氧化物、铝锌氧化物、锑锡氧化物、镓锌氧化物、IrOx、以及RuOx组成的组中选择的至少一个《直接公开》[0046]:绝缘层18由SiO2或Si3N4形成,对应SiOx和Si3N4。对比文件公开了SiO2和Si3N4,属于该组中的材料,因此直接公开。
技术特征P:其中所述粘附层沿着所述发光结构的侧表面从所述第一导电半导体层的顶表面延伸到所述第二导电半导体层的顶表面的一部分《直接公开》[0046]:“绝缘层18形成在……n侧接触层13和p侧接触层17的表面,以及……侧面”。绝缘层覆盖从n侧接触层顶表面到p侧接触层顶表面的一部分(除电极开口外)。对比文件绝缘层沿侧表面从第一导电半导体层(n侧接触层)的顶表面延伸到第二导电半导体层(p侧接触层)的顶表面的一部分,因此直接公开。
技术特征Q:其中所述粘附层包括:第一层,所述第一层在所述第一导电半导体层的顶表面上并且包括透射绝缘材料《未公开》对比文件绝缘层18为单层结构,未描述多层。对比文件未公开粘附层具有多层结构,特别是第一层为透射绝缘材料,因此未公开。
技术特征R:和第二层,所述第二层在所述第一层上并且包括透射导电材料《未公开》对比文件无多层结构,无第二层透射导电材料。对比文件未公开第二层透射导电材料,因此未公开。
技术特征S:其中所述粘附层包括:第一层,所述第一层在所述第一导电半导体层的顶表面上并且具有高折射率《未公开》对比文件未提及折射率或高折射率层。对比文件未公开粘附层具有高折射率的第一层,因此未公开。
技术特征T:和第二层,所述第二层在所述第一层上并且具有低折射率《未公开》对比文件未提及折射率或低折射率层。对比文件未公开低折射率的第二层,因此未公开。
技术特征U:其中所述透射电极层与所述第二导电半导体层的顶表面上的所述粘附层的一端隔开《未公开》对比文件无透射电极层,无粘附层与透射电极层的相对位置关系。缺乏透射电极层,且无相应隔开结构,因此未公开。
技术特征V:其中所述粘附层延伸到所述第二导电半导体层的顶表面并且被设置在所述透射电极层和所述第二导电半导体层之间《未公开》对比文件无透射电极层,绝缘层18虽延伸到p侧接触层顶表面,但无透射电极层在其上。缺乏透射电极层,无法实现粘附层在透射电极层和第二导电半导体层之间,因此未公开。
技术特征W:其中所述粘附层延伸到所述透射电极层的顶表面《未公开》对比文件无透射电极层,绝缘层18未延伸至透射电极层顶表面。缺乏透射电极层,且无此延伸关系,因此未公开。
技术特征X:其中所述第二电极的第一部分没有暴露到外部《未公开》对比文件第二电极(p侧电极21)暴露,且无透射电极层覆盖。对比文件未公开第二电极第一部分被覆盖而不暴露的结构,因此未公开。
技术特征Y:其中所述第一电极穿过所述粘附层并且在垂直方向上与所述粘附层重叠《未公开》第一电极(n侧电极22)穿过绝缘层18的开口,但电极底表面未在绝缘层上延伸,在垂直方向上不与绝缘层重叠(仅在侧壁接触)。对比文件未公开第一电极穿过粘附层后与粘附层在垂直方向上有重叠区域(底表面覆盖),因此未公开。

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