1987-05-30_发明专利_JPS62118621A Differential amplifier circuit_+++A_B_C_D_E_F_G_h_i_j+++.docx

对比文件名称:1987-05-30_发明专利_JPS62118621A Differential amplifier circuit

目标专利名称:无削减信号包络地提升放大器增益CN107852138B

本次调用的模型名称:gpt-4o

## 特征比对表格

技术特征描述及公开性判断结果对比文件原文引用公开性论述
**技术特征A《直接公开》**<br>包括:差分级,包括第一晶体管,所述第一晶体管具有电连接到第一差分输入的控制端子和电连接到第一差分输出的输出端子。对比文件图1及说明书对应部分公开了差分对由晶体管Q1和Q2构成。Q1的基极(控制端子)连接到输入Vin+(第一差分输入),Q1的集电极(输出端子)连接到输出Vout+(第一差分输出)。对比文件明确公开了一个差分级,其中包含第一晶体管Q1,其基极(控制端子)连接至第一差分输入Vin+,集电极(输出端子)连接至第一差分输出Vout+。该结构与本特征完全相同,属于直接公开。
**技术特征B《直接公开》**<br>所述差分级进一步包括第二晶体管,所述第二晶体管具有电连接到第二差分输入的控制端子和电连接到第二差分输出的输出端子。对比文件图1及说明书对应部分公开了晶体管Q2。Q2的基极(控制端子)连接到输入Vin-(第二差分输入),Q2的集电极(输出端子)连接到输出Vout-(第二差分输出)。对比文件明确公开了差分对中的第二晶体管Q2,其基极(控制端子)连接至第二差分输入Vin-,集电极(输出端子)连接至第二差分输出Vout-。该结构与本特征完全相同,属于直接公开。
**技术特征C《直接公开》**<br>第一偏置晶体管,具有电连接到所述第一晶体管的所述控制端子的输出端子。对比文件图1及说明书对应部分公开了晶体管Q3。Q3的集电极(输出端子)连接到Q1的基极(第一晶体管的控制端子)。对比文件明确公开了第一偏置晶体管Q3,其集电极(输出端子)直接电连接到第一晶体管Q1的基极(控制端子)。该连接关系与本特征完全相同,属于直接公开。
**技术特征D《直接公开》**<br>第二偏置晶体管,具有电连接到所述第二晶体管的所述控制端子的输出端子。对比文件图1及说明书对应部分公开了晶体管Q4。Q4的集电极(输出端子)连接到Q2的基极(第二晶体管的控制端子)。对比文件明确公开了第二偏置晶体管Q4,其集电极(输出端子)直接电连接到第二晶体管Q2的基极(控制端子)。该连接关系与本特征完全相同,属于直接公开。
**技术特征E《直接公开》**<br>第一反馈网络,电连接在所述第一偏置晶体管的控制端子与所述第一偏置晶体管的所述输出端子之间。对比文件图1及说明书对应部分公开了电容器C1连接在晶体管Q3的基极(控制端子)与集电极(输出端子)之间。对比文件明确公开了一个元件(电容器C1)直接连接在第一偏置晶体管Q3的基极(控制端子)和集电极(输出端子)之间,这构成了一个连接在这两端子之间的反馈网络。该连接关系与本特征完全相同,属于直接公开。
**技术特征F《直接公开》**<br>以及第二反馈网络,电连接在所述第二偏置晶体管的控制端子与所述第二偏置晶体管的所述输出端子之间。对比文件图1及说明书对应部分公开了电容器C2连接在晶体管Q4的基极(控制端子)与集电极(输出端子)之间。对比文件明确公开了一个元件(电容器C2)直接连接在第二偏置晶体管Q4的基极(控制端子)和集电极(输出端子)之间,这构成了一个连接在这两端子之间的反馈网络。该连接关系与本特征完全相同,属于直接公开。
**技术特征G《直接公开》**<br>其中所述第一反馈网络和所述第二反馈网络每个包括电容性反馈电路。对比文件图1及说明书对应部分公开了连接在Q3基极-集电极间的电容器C1和连接在Q4基极-集电极间的电容器C2。说明书描述了这些电容器用于高频补偿(高周波补偿)。对比文件明确公开了第一反馈网络由电容器C1构成,第二反馈网络由电容器C2构成。电容器是典型的电容性元件,连接在基极与集电极之间必然形成电容性反馈路径,即电容性反馈电路。因此,该特征被直接公开。
**技术特征H《隐含公开》**<br>其中所述第一反馈网络和所述第二反馈网络改变所述第一偏置晶体管和所述第二偏置晶体管的相应跨导。对比文件说明书提及电容器C1、C2用于高频补偿(高周波补偿)。在放大器领域,连接在晶体管基极与集电极之间的电容器通过密勒效应(Miller effect)会显著影响该晶体管的输入阻抗和频率响应,其本质是引入了电压并联负反馈,从而会改变该晶体管的跨导(gm)或有效跨导。本领域技术人员知晓,在晶体管基极-集电极间连接电容,构成了电压并联负反馈网络。负反馈会改变放大器的各项参数,包括增益、带宽和输入输出阻抗。跨导(gm)是晶体管的核心小信号参数之一,引入负反馈必然会对该参数产生影响(通常是降低有效跨导或改变其频率特性)。因此,从对比文件公开的“连接电容器进行高频补偿”这一技术手段,本领域技术人员能够直接且毫无疑义地推导出该手段会改变相应偏置晶体管的跨导。这属于隐含公开。
**技术特征I《隐含公开》**<br>其中所述第一反馈网络和所述第二反馈网络减小所述第一偏置晶体管和所述第二偏置晶体管的所述相应跨导。对比文件说明书提及电容器C1、C2用于高频补偿(高周波补偿)。在放大器电路中,基极-集电极间连接电容形成的电压并联负反馈,其主要作用之一是降低高频下的增益,扩展带宽。降低增益通常意味着降低了放大级的跨导(或有效跨导)。本领域技术人员理解,为了进行高频补偿(即扩展带宽、防止振荡),常在晶体管基极-集电极间连接小电容,利用密勒效应形成主极点。这种负反馈的必然结果是降低了该级电路在中高频段的电压增益和跨导。目标专利中“减小跨导”是实现“提升放大器增益特性”(指整个差分级的增益)的具体技术效果描述。对比文件虽然没有明确说出“减小跨导”这四个字,但其公开的“连接电容进行高频补偿”这一技术手段,在本领域公知常识中,必然伴随着对晶体管本级跨导的减小作用(以实现频率补偿)。因此,可以合理推断该特征被隐含公开。
**技术特征J《隐含公开》**<br>其中所述第一晶体管和所述第二晶体管是N型晶体管器件,其中所述第一晶体管和所述第二晶体管的所述输出端子是所述第一晶体管和所述第二晶体管的漏极端子。对比文件图1明确示出差分对晶体管Q1、Q2以及偏置晶体管Q3、Q4均为NPN型双极晶体管(BJT)。在BJT中,输出端子是集电极。在目标专利的MOSFET语境下,“漏极”对应BJT的“集电极”功能(均为输出电流端子)。对比文件直接公开了第一、第二晶体管(Q1, Q2)为NPN型(即N型)晶体管器件。虽然BJT的端子称为“集电极”而非“漏极”,但“集电极”在电路功能上完全等同于MOSFET作为输出端子时的“漏极”。本领域技术人员在看到NPN晶体管及其集电极作为输出时,能够毫无疑义地理解其对应于目标专利权利要求中(可能基于MOSFET描述)的“N型晶体管器件”且“输出端子是漏极端子”这一技术特征。这是一种基于器件功能等效的隐含公开。
**技术特征K《未公开》**<br>其中所述第一反馈网络和所述第二反馈网络的所述电容性反馈电路每个包括可变电容器。对比文件全文及附图仅示出并描述了固定电容器C1和C2,未提及任何关于电容器可变(如可变电容、可调电容)的技术内容。对比文件公开的反馈电容C1、C2是固定电容,没有任何文字或图示表明它们是可变的。本领域技术人员无法从对比文件中直接或隐含地得出该电容是可变的技术特征。因此,该特征未被公开。
**技术特征L《未公开》**<br>其中所述第一反馈网络包括所述第一偏置晶体管的寄生电容,其中所述第二反馈网络包括所述第二偏置晶体管的寄生电容。对比文件未提及任何关于将晶体管寄生电容作为反馈网络组成部分的内容。目标专利强调反馈网络“包括”偏置晶体管的寄生电容,并将其与外部电容共同作用。对比文件仅公开了外接的物理电容器C1、C2,完全没有描述或暗示将晶体管固有的寄生电容作为设计的一部分纳入反馈网络考量。本领域技术人员无法从对比文件推断出此特征。因此,该特征未被公开。
**技术特征M《未公开》**<br>其中所述第一反馈网络包括电连接在所述第一偏置晶体管的所述控制端子与输出端子之间的电容器,其中所述第一晶体管的跨导以因子 $\frac{C+C_{\text{par}}}{C_{\text{par}}}$ 被增大,其中C是所述电容器的电容并且$C_{\text{par}}$是所述第一晶体管的寄生电容。对比文件未提及任何关于通过反馈网络以特定数学因子($\frac{C+C_{\text{par}}}{C_{\text{par}}}$)来增大第一晶体管(差分对管)跨导的技术内容或理论分析。对比文件虽然公开了在偏置晶体管Q3基极-集电极间连接电容C1,但并未揭示该连接对差分对管Q1跨导的影响,更没有给出目标专利中具体的、量化的跨导增大因子公式。该公式是目标专利的核心定量技术特征之一,对比文件完全没有涉及。因此,该特征未被公开。
**技术特征N《未公开》**<br>其中所述电路进一步包括:电连接到所述第一差分输入和所述第二差分输入的混频器电路、以及电连接到所述第一差分输出和所述第二差分输出的功率放大器。对比文件仅公开了一个独立的差分放大器电路,未提及任何与混频器电路或功率放大器的连接关系或包含这些部件的系统。对比文件仅涉及放大器电路本身,其上下文未扩展至包含混频器或功率放大器的更大系统。本领域技术人员无法从对比文件推断出此特征。因此,该特征未被公开。
**技术特征O《未公开》**<br>进一步包括:被配置为设置所述第一晶体管的DC操作点的第一电流源和被配置为设置所述第二晶体管的DC操作点的第二电流源。对比文件图1中,晶体管Q1和Q2的发射极共同连接到一个恒流源I1。该恒流源为整个差分对(Q1和Q2)提供尾电流,设置其共同的DC工作点,而非为每个晶体管独立设置DC操作点的独立电流源。目标专利要求的是分别为第一晶体管和第二晶体管设置DC操作点的“第一电流源”和“第二电流源”。对比文件中使用的是为差分对提供共用尾电流的单个恒流源I1,该结构无法实现对Q1和Q2各自DC操作点的独立设置。因此,对比文件未公开分别为两个晶体管提供独立偏置的电流源特征。

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