对比文件名称：2017-12-28_None_发明专利_JPWO2016136117A1 タッチパネル用導電性積層体、および、タッチパネル用導電性積層体の製造方法
目标专利名称：1635装饰构件及其制造方法CN111565930B
本次调用的模型名称：DeepSeek-Chat
以下是根据要求进行的特征比对。分析结果仅基于对比文件公开的内容，结合目标专利的技术方案进行严谨判断。
| 技术特征描述及公开性判断结果 | 对比文件原文引用（翻译及段落编号） | 公开性论述 | ||
| **技术特征A**：包括：《直接公开》 | [0006] “タッチパネル用導電性積層体は、…を備える。” （触摸面板用导电性层叠体具备……） | 对比文件使用“備える”（具备/包括）作为限定层叠体组成的方式，与目标专利权利要求中的“包括”在语法和作用上完全相同，均是开放式或封闭式地列举构件。因此，本领域技术人员能够毫无疑义地确定该特征被直接公开。 | ||
| **技术特征B**：基板《直接公开》 | [0006] “光透過性を有する基材” （具有光透过性的基材） | 对比文件明确记载了“基材”，其作为层叠体的支撑构件，与目标专利的“基板”实质相同。尽管材料或透光性可有差异，但结构角色一致，属于直接公开。 | ||
| **技术特征C**：装饰层，所述装饰层设置在所述基板上《隐含公开》 | [0006] “前記基材の前記1つの面に位置するとともに、光透過性を有する下地層と、前記下地層のうち、前記基材に接する面とは反対側の面に位置する第1の酸窒化銅層と、前記第1の酸窒化銅層のうち、前記下地層に接する面とは反対側の面に位置する銅層と、前記銅層のうち、前記第1の酸窒化銅層に接する面とは反対側の面に位置する第2の酸窒化銅層と、を備える。” （具备：位于所述基材的一个面上并具有光透过性的下地层；位于所述下地层的与基材接触面相反一侧的第一氧氮化铜层；位于所述第一氧氮化铜层的与下地层接触面相反一侧的铜层；位于所述铜层的与第一氧氮化铜层接触面相反一侧的第二氧氮化铜层。） | 对比文件公开了在基材（基板）上设置由下地层、第一氧氮化铜层、铜层、第二氧氮化铜层组成的多层结构。该结构具有光学功能：铜层反射光，氧氮化铜层吸收光（低反射），共同产生颜色和视觉特性。目标专利的“装饰层”同样包括光反射层和/或光吸收层的组合。虽然对比文件未使用“装饰层”术语，且其首要目的为隐藏触摸电极，但这些层本身显然可提供装饰效果（例如实施例中通过厚度调节呈现不同颜色）。本领域技术人员据此可合理推断该多层结构能够作为装饰层使用，因此特征被隐含公开。 | ||
| **技术特征D**：当与所述装饰层的平面垂直的方向被定义为x轴《未公开》 | 未记载 | 对比文件没有定义任何坐标轴或空间直角坐标系。虽然层状物的法线方向是固有属性，但主动将其定义为x轴属于人为设定，对比文件对此未给出任何提示或教导。本领域技术人员无法从对比文件中毫无疑义或合理推断出该定义。 | ||
| **技术特征E**：所述装饰层的表面上的方向被定义为y轴《未公开》 | 未记载 | 同特征D，对比文件未定义y轴，也未涉及任何在装饰层表面上建立方向坐标的概念。没有公开。 | ||
| **技术特征F**：在380nm≤λ≤780nm的波长范围内的标准光源D65的条件下使用检测器来检测所述装饰层上的所述y轴的宽度的中心点时《未公开》 | 未记载 | 对比文件完全没有涉及使用标准光源D65、特定波长范围、检测器以及测量宽度中心点的技术内容。其光学测量仅针对XYZ表色系Y值等，不涉及本特征的条件和几何定义。故未公开。 | ||
| **技术特征G**：所述检测器的中心与所述装饰层上的所述y轴的所述宽度的所述中心点连接的线在x－y轴平面上与所述x轴所形成的角度被定义为中心视角θ 《未公开》 | 未记载 | 对比文件未定义视角，也没有任何关于检测器中心、装饰层上的点以及连线角度的描述。完全不公开。 | ||
| **技术特征H**：从所述检测器的所述中心到所述装饰层上的y轴方向上的所述宽度的所述中心点的距离被定义为Dv《未公开》 | 未记载 | 对比文件未定义距离Dv，也未提及检测器与装饰层之间的测量距离设定。不公开。 | ||
| **技术特征I**：在－15°至+15°的所述中心视角θ 的至少一部分中由下式1表示的深度参数值δ1m为0.15以上《未公开》 | 未记载 | 对比文件未涉及任何中心视角范围（-15°至+15°），更没有提到深度参数或具体数值0.15。完全不公开。 | ||
| **技术特征J**：[式1] δ1m＝ | Δh | max/Dv《未公开》 | 未记载 | 对比文件无此公式。 |
| **技术特征K**：其中， | Δh | max是由下式2表示的Δh的最大值《未公开》 | 未记载 | 对比文件无此公式及定义。 |
| **技术特征L**：[式2] 《未公开》 | 未记载 | 对比文件无此数学表达式。 | ||
| **技术特征M**：其中，Δd由下式3表示《未公开》 | 未记载 | 对比文件无此公式。 | ||
| **技术特征N**：[式3] 《未公开》 | 未记载 | 对比文件无此数学表达式。 | ||
| **技术特征O**：其中，θ 被定义为由所述检测器的所述中心与通过所述检测器检测到的所述装饰层上的所述y轴上的任意点连接的线在所述x－y轴平面上与所述x轴所形成的视角《未公开》 | 未记载 | 对比文件没有定义任何视角（θ ），也没有检测器与装饰层上任意点的连线概念。 | ||
| **技术特征P**：θ和θ 分别由下式4和下式5表示《未公开》 | 未记载 | 对比文件无公式4和5。 | ||
| **技术特征Q**：[式4] 《未公开》 | 未记载 | 对比文件无此数学表达式。 | ||
| **技术特征R**：[式5] 《未公开》 | 未记载 | 对比文件无此数学表达式。 | ||
| **技术特征S**：其中，θ和θ 分别是在视角θ 和θ 下的角亮度《未公开》 | 未记载 | 对比文件没有角亮度的概念，也没有在不同视角下测量亮度的记载。其光学测量仅针对静态的XYZ、Lab值，而非角亮度分布。 | ||
| **技术特征T**：其中，θ 满足下式6的范围《未公开》 | 未记载 | 对比文件无此范围限定。 | ||
| **技术特征U**：[式6] 《未公开》 | 未记载 | 对比文件无此数学表达式。 | ||
| **技术特征V**：其中，θ和θ 分别是θ 和θ 的最小值和最大值《未公开》 | 未记载 | 对比文件未提及任何关于视角最小值、最大值的概念。 | ||
| **技术特征W**：其中，所述装饰构件具有一个以上的点《未公开》 | 未记载 | 对比文件中的导电性层叠体可形成多个电极，但目标专利中“点”特指用于定义角亮度测量的位置点，对比文件未公开任何与角亮度测量相关的“点”的概念。即使存在多个电极结构，其作用和定义均不同，不能认定公开。 | ||
| **技术特征X**：在所述一个或多个点处，根据－15°至+15°的所述中心视角θ 的角亮度图的斜率除以角亮度得到的值的绝对值为0.025以上《未公开》 | 未记载 | 对比文件没有任何角亮度图，没有斜率计算，也没有0.025的数值。完全不公开。 | ||
| **技术特征Y**：其中，角度单位是度(°)《未公开》 | 未记载 | 对比文件未提及任何角度测量。虽然度是通用角度单位，但未与技术特征X等关联，且缺乏具体语境，不能认为公开。 | ||
| **技术特征Z**：其中，Dv是500mm《未公开》 | 未记载 | 对比文件未设置或定义Dv，更未指定值为500mm。不公开。 |
基于上述分析，对比文件直接公开了技术特征A和B，隐含公开了技术特征C。其余技术特征（D、E、F、G、H、I、J、K、L、M、N、O、P、Q、R、S、T、U、V、W、X、Y、Z）均未被直接或隐含公开。
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