返回项目页面
对比文件列表
2004-04-20_US6723600B_发明授权_US06723600B2 Method for making a metal-insulator-metal capacitor using plate-through mask techniques_+++D_G_j+++.docx
2026-03-24 23:36
2004-06-24_JP2004179419A_发明专利_JP2004179419A Semiconductor device and manufacturing method thereof_+++d_h_i_j+++.docx
2026-03-24 23:36
2004-08-05_US2004152258A_发明申请_US20040152258A1 Semiconductor device and method of manufacturing the same_+++D_H_I_j+++.docx
2026-03-24 23:36
2004-08-17_US6777777B_发明授权_US06777777B1 High density composite MIM capacitor with flexible routing in semiconductor dies_+++D_H_I_g_j+++.docx
2026-03-24 23:36
2006-02-16_JP2006049486A_发明专利_JP2006049486A Semiconductor device and its manufacturing method_+++D_H_I_J+++.docx
2026-03-24 23:36
2006-08-22_US7095073B_发明授权_US07095073B2 High K artificial lattices for capacitor applications to use in Cu or Al BEOL_+++j+++.docx
2026-03-24 23:36
2006-09-28_JP2006522464A_发明专利_JP2006522464A In a semiconductor die, a high density composite mim capacitor with reduced voltage dependence_+++D_F_G_I_h_j+++.docx
2026-03-24 23:36
2007-06-12_US7230434B_发明授权_US07230434B1 Multi-layered capacitor_+++A_C_D_E_j+++.docx
2026-03-24 23:36
2008-01-08_US7317221B_发明授权_US07317221B2 High density MIM capacitor structure and fabrication process_+++D_g_h_j+++.docx
2026-03-24 23:36
2008-03-01_TW200811915A_发明专利_TW200811915A 高良率高密度晶片電容設計 HIGH YIELD HIGH DENSITY ON-CHIP CAPACITOR DESIGN_+++A_B_C_D_E_g_j+++.docx
2026-03-24 23:36
2009-01-15_DE102008028554A_发明专利_DE102008028554A1 Semiconductor device with reduced capacitance tolerance value_+++A_C_D_E_G_b_j+++.docx
2026-03-24 23:36
2009-01-15_US2009014832A_发明申请_US20090014832A1 Semiconductor Device with Reduced Capacitance Tolerance Value_+++B_C_D_E_a_j+++.docx
2026-03-24 23:36
2009-02-11_EP2022081A_发明公开_EP2022081A1 HIGH YIELD HIGH DENSITY ON-CHIP CAPACITOR DESIGN_+++b_c_d_j+++.docx
2026-03-24 23:36
2010-11-11_JP2010258130A_发明专利_JP2010258130A Semiconductor device and layout method of the same_+++D_G_j+++.docx
2026-03-24 23:36
2011-06-16_US2011140288A_发明申请_US20110140288A1 Systems and Methods Employing a Physically Asymmetric Semiconductor Device Having Symmetrical Electrical Behavior_+++j+++.docx
2026-03-24 23:36
JP2010040775A_Description_20260318_1917_+++j+++.docx
2026-03-24 23:36
US2011086487A1_Description_20260318_1917_+++D_G_j+++.docx
2026-03-24 23:36
2004-06-24_JP2004179419A_发明专利_JP2004179419A Semiconductor device and manufacturing method thereof_+++d_h_i_j+++.docx

对比文件名称:2004-06-24_JP2004179419A_发明专利_JP2004179419A Semiconductor device and manufacturing method thereof

目标专利名称:336互补后端制程(BEOL)电容器CN105074915B

本次调用模型名称:gpt-4

根据目标专利权利要求的技术特征划分,结合对比文件说明书内容,创建特征比对表格如下:

技术特征描述以及公开性判断结果对比文件原文引用(翻译为中文)公开性论述
**技术特征A:** 包括:耦合到集成电路(IC)器件的互连堆叠的第一上互连层的金属氧化物金属(MOM)电容器结构。<br>**《未公开》**对比文件全文未提及“金属氧化物金属(MOM)电容器”或类似结构。对比文件描述的是多层堆叠的MIM(金属-绝缘体-金属)电容器结构(例如,参见【0014】、【0018】-【0033】),其电容由垂直堆叠的金属电极板和其间的绝缘体膜形成。目标专利中的MOM电容器是利用互连层内横向叉指之间的电容性耦合的结构(参见目标专利说明书【0002】-【0004】),这与对比文件描述的垂直板MIM电容器在结构原理和作用上完全不同。因此,对比文件既未直接公开也未隐含公开MOM电容器结构,更未公开其耦合到“第一上互连层”。
**技术特征B:** 所述MOM电容器结构包括所述互连堆叠的至少一个下互连层。<br>**《未公开》**对比文件全文未提及“MOM电容器结构”,也未提及利用互连堆叠中的“下互连层”形成电容器。由于技术特征A(MOM电容器结构)未被公开,且对比文件中的电容器是由专门沉积的金属电极膜(如TiN膜、Pt膜)构成,并非利用互连堆叠中已有的用于布线的导电互连层(如下互连层)形成(参见目标专利说明书【0002】),因此该特征未被公开。
**技术特征C:** 所述互连堆叠中的耦合到所述MOM电容器结构的第二上互连层。<br>**《未公开》**对比文件全文未提及“MOM电容器结构”,因此不存在与之耦合的“第二上互连层”。对比文件中的电容器电极通过配线(導電性接続部,如129a, 129b, 215a, 215b)连接到其他部分(参见【0031】、【0053】)。该特征依赖于MOM电容器结构的存在。由于MOM电容器结构未被公开,且对比文件中未描述将互连堆叠中的特定上互连层作为电容器极板或直接与电容器特定节点耦合的结构,因此该特征未被公开。
**技术特征D:** 位于所述第一上互连层与所述第二上互连层之间的至少一个金属绝缘体金属(MIM)电容器层。<br>**《隐含公开》**【0014】“本発明に係る半導体装置は、半導体基板と、…第1の電極と、第1の電極の下方に設けられた第2の電極と、第2の電極の下方に設けられた第3の電極と、第1の電極と第2の電極の間に設けられた第1の誘電体膜と、第2の電極と第3の電極の間に設けられた第2の誘電体膜とを含むキャパシタ構造と…” <br>【0033】“電極125a、誘電体膜124及び電極123aによってMIM構造を有する上層側のキャパシタ11が形成され、電極123a、誘電体膜122及び電極121aによってMIM構造を有する下層側のキャパシタ12が形成される。”对比文件明确公开了包含至少一个MIM电容器层的结构,该结构由金属电极(如125a, 123a)和位于其间的绝缘体膜(如124)构成(【0033】)。目标专利中的“MIM电容器层”指的就是这种金属-绝缘体-金属的层叠结构。虽然对比文件未明确限定这些MIM层位于名为“第一上互连层”和“第二上互连层”的两个特定互连层之间,但其电容器结构必然位于半导体器件的互连堆叠之中。考虑到本领域技术人员能够理解,在BEOL工艺中制造此类MIM电容器时,其上下通常会有互连层(例如用于连接电容器极板的金属配线层),因此,通过推理,有可能认为这些MIM层位于互连堆叠中的某些上互连层之间。根据隐含公开的宽松标准,该特征被判断为隐含公开。
**技术特征E:** 耦合到所述MOM电容器结构的MIM电容器结构。<br>**《未公开》**对比文件全文未提及“MOM电容器结构”。该特征要求MIM电容器结构与MOM电容器结构耦合。由于对比文件中不存在MOM电容器结构,因此也就不存在与之耦合的MIM电容器结构。对比文件中的MIM电容器是独立存在的,或与其他MIM电容器并联(【0033】),但未与MOM电容器组合。
**技术特征F:** 所述MIM电容器结构包括第一电容器极板和第二电容器极板,所述第一电容器极板仅包括所述第一上互连层的一部分。<br>**《未公开》**对比文件中的MIM电容器电极(如125a, 123a, 121a)是通过专门沉积的导电膜(如TiN膜)图案化形成的独立结构(参见【0022】、【0028】),而非利用互连堆叠中已有的上互连层(如用于布线的金属层)的一部分来充当。目标专利的核心构思之一是利用互连堆叠中已有的上互连层(如M9)的一部分作为MIM电容器的一个极板,从而简化工艺(参见说明书【0026】)。对比文件中的电容器极板是额外沉积的专用电极膜,与互连层是分开制造和定义的。因此,对比文件既未直接公开也未隐含公开“第一电容器极板仅包括所述第一上互连层的一部分”这一特定技术手段。
**技术特征G:** 所述第二电容器极板包括所述至少一个MIM电容器层的至少一部分。<br>**《未公开》**对比文件中的MIM电容器层由电极膜和绝缘膜共同构成。其电容器极板(如125a)是构成MIM层的一部分(金属部分),但并非“包括所述至少一个MIM电容器层的至少一部分”这种描述。通常,“MIM电容器层”指整个夹层结构,而“极板”特指其中的金属电极。该特征的表述可能意在强调第二极板是MIM电容器层中的构成部分。然而,更关键的是,该特征与技术特征F共同定义了目标专利中一种特定的MIM电容器结构(其中一个极板是互连层,另一个极板是MIM层中的一部分)。由于技术特征F未被公开,且对比文件中MIM电容器的两个极板均为专门沉积的电极膜,并非由互连层和MIM层的一部分构成,因此该特征未被公开。
**技术特征H:** 其特征在于,进一步包括处于所述互连堆叠的所述第一上互连层和所述第二上互连层之间的附加MIM电容器结构,所述附加MIM电容器结构包括第一电容器极板、介电层、以及所述MIM电容器结构的第一电容器极板,所述MIM电容器结构的第一电容器极板作为所述附加MIM电容器结构的第二电容器极板。<br>**《隐含公开》**【0033】“電極125a、誘電体膜124及び電極123aによってMIM構造を有する上層側のキャパシタ11が形成され、電極123a、誘電体膜122及び電極121aによってMIM構造を有する下層側のキャパシタ12が形成される。” <br>【0055】“電極210a、誘電体膜209及び電極208aによってMIM構造を有するキャパシタ21が、電極208a、誘電体膜207及び電極206aによってMIM構造を有するキャパシタ22が、…”对比文件明确公开了多层堆叠的MIM电容器结构,其中中间电极(如123a, 208a)同时作为上层电容器的下极板和下层电容器的上极板(共享极板)。例如,在图11的等效电路中,电极123a既是电容器11的负极板,又是电容器12的正极板。这完全对应于特征H中描述的“附加MIM电容器结构”,其一个极板(第一电容器极板)是独立电极(如121a),介电层(如122),而另一个极板(第二电容器极板)是另一个MIM电容器结构(如由上方的125a、124、123a构成)的极板(即123a)。因此,该特征被对比文件实质公开。虽然对比文件未明确限定这些结构位于“第一上互连层和第二上互连层之间”,但根据隐含公开的宽松标准,可以认为其隐含了在互连堆叠中存在此类堆叠MIM电容器结构的可能性。
**技术特征I:** 其特征在于,所述第二上互连层的第一部分被耦合到所述附加MIM电容器结构的第一电容器极板,并且所述第二上互连层的第二部分被耦合到所述附加MIM电容器结构的所述第二电容器极板。<br>**《隐含公开》**【0031】“配線129a(第1の導電性接続部)及び配線129b(第2の導電性接続部)を、互いに離間するように形成する。 電極121aと電極125aとは、配線129aによって電気的に接続される。” <br>【0053】“配線215a(第1の導電性接続部)及び配線215b(第2の導電性接続部)を、互いに離間するように形成する。 配線215aによって電極202a、206a及び210aが電気的に接続され、配線215bによって電極204a及び208aが電気的に接続される。”对比文件公开了通过不同的配线(129a, 129b; 215a, 215b)将堆叠电容器中不同组的电极分别连接起来。例如,在实施方式1中,配线129a连接电极121a和125a(即堆叠电容器的两端电极),而配线129b连接中间电极123a(【0031】)。在目标专利中,“第二上互连层”可理解为互连堆叠中的一个布线层。对比文件中的“配線”正是这样的互连层中的导电结构。因此,本领域技术人员可以理解,在形成互连堆叠时,会有一个布线层(相当于“第二上互连层”)的部分区域(第一部分)通过接触孔连接到附加MIM电容器结构的一个极板(如121a),而同一布线层的其他部分(第二部分)连接到共享极板(如123a)。虽然对比文件未使用“上互连层”这一术语,但其描述的配线结构及其连接关系,实质上隐含公开了该特征。
**技术特征J:** 其特征在于,所述电容器被集成到蜂窝电话、手持式个人通信系统(PCS)单元、机顶盒、音乐播放器、视频播放器、娱乐单元、导航设备、便携式数据单元、和/或固定位置数据单元中。<br>**《隐含公开》**【0002】“近年、RF回路等のアナログ回路とCMOS回路等のロジック回路を同一チップ内に集積化したLSIが検討されている。”该特征属于电容器的应用领域。对比文件明确指出其半导体装置(包含所述电容器)用于集成了RF(射频)电路和逻辑电路的LSI。RF电路是无线通信设备(如蜂窝电话、PCS单元)的核心组成部分。因此,本领域技术人员能够毫无困难地推断出,包含此类电容器的集成电路有可能被用于制造无线通信设备、便携式电子设备等。根据隐含公开的宽松标准,可以认为该应用领域被隐含公开。

<<<d>>><<<h>>><<<i>>><<<j>>>

权利要求与技术特征
Powered by Django

网站备案号:渝ICP备2023012882号


重庆市非显而易见网络科技有限责任公司 A Anti NPE NPE