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对比文件列表
2004-04-20_US6723600B_发明授权_US06723600B2 Method for making a metal-insulator-metal capacitor using plate-through mask techniques_+++D_G_j+++.docx
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2004-06-24_JP2004179419A_发明专利_JP2004179419A Semiconductor device and manufacturing method thereof_+++d_h_i_j+++.docx
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2004-08-05_US2004152258A_发明申请_US20040152258A1 Semiconductor device and method of manufacturing the same_+++D_H_I_j+++.docx
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2004-08-17_US6777777B_发明授权_US06777777B1 High density composite MIM capacitor with flexible routing in semiconductor dies_+++D_H_I_g_j+++.docx
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2006-02-16_JP2006049486A_发明专利_JP2006049486A Semiconductor device and its manufacturing method_+++D_H_I_J+++.docx
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2006-08-22_US7095073B_发明授权_US07095073B2 High K artificial lattices for capacitor applications to use in Cu or Al BEOL_+++j+++.docx
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2006-09-28_JP2006522464A_发明专利_JP2006522464A In a semiconductor die, a high density composite mim capacitor with reduced voltage dependence_+++D_F_G_I_h_j+++.docx
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2007-06-12_US7230434B_发明授权_US07230434B1 Multi-layered capacitor_+++A_C_D_E_j+++.docx
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2008-01-08_US7317221B_发明授权_US07317221B2 High density MIM capacitor structure and fabrication process_+++D_g_h_j+++.docx
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2008-03-01_TW200811915A_发明专利_TW200811915A 高良率高密度晶片電容設計 HIGH YIELD HIGH DENSITY ON-CHIP CAPACITOR DESIGN_+++A_B_C_D_E_g_j+++.docx
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2009-01-15_DE102008028554A_发明专利_DE102008028554A1 Semiconductor device with reduced capacitance tolerance value_+++A_C_D_E_G_b_j+++.docx
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2009-01-15_US2009014832A_发明申请_US20090014832A1 Semiconductor Device with Reduced Capacitance Tolerance Value_+++B_C_D_E_a_j+++.docx
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2009-02-11_EP2022081A_发明公开_EP2022081A1 HIGH YIELD HIGH DENSITY ON-CHIP CAPACITOR DESIGN_+++b_c_d_j+++.docx
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2010-11-11_JP2010258130A_发明专利_JP2010258130A Semiconductor device and layout method of the same_+++D_G_j+++.docx
2026-03-24 23:36
2011-06-16_US2011140288A_发明申请_US20110140288A1 Systems and Methods Employing a Physically Asymmetric Semiconductor Device Having Symmetrical Electrical Behavior_+++j+++.docx
2026-03-24 23:36
JP2010040775A_Description_20260318_1917_+++j+++.docx
2026-03-24 23:36
US2011086487A1_Description_20260318_1917_+++D_G_j+++.docx
2026-03-24 23:36
2011-06-16_US2011140288A_发明申请_US20110140288A1 Systems and Methods Employing a Physically Asymmetric Semiconductor Device Having Symmetrical Electrical Behavior_+++j+++.docx

**对比文件名称**:2011-06-16_US2011140288A_发明申请_US20110140288A1 Systems and Methods Employing a Physically Asymmetric Semiconductor Device Having Symmetrical Electrical Behavior

**目标专利名称**:336互补后端制程(BEOL)电容器CN105074915B

**本次调用模型名称**:GPT-4

### 特征比对表格

技术特征描述及公开性判断结果对比文件原文引用公开性论述
**技术特征A**:包括:耦合到集成电路(IC)器件的互连堆叠的第一上互连层的金属氧化物金属(MOM)电容器结构。<br>**判断结果**:未公开对比文件全文未提及“金属氧化物金属(MOM)电容器结构”、“MOM电容器”、“金属氧化物金属”或类似结构。对比文件描述的是具有不对称放置但电学行为对称的导电结构(如接触点)的集成电路,其核心在于通过偏移布置来抵消电阻电容(RC)效应,以实现整体电对称。目标专利中的“MOM电容器结构”是利用互连层中的横向叉指形成电容的特定结构。对比文件中既未明确描述也未隐含揭示任何MOM电容器或其类似结构,更未提及此类结构与“第一上互连层”的耦合关系。因此,本领域技术人员无法从对比文件中直接或隐含地得出该技术特征。
**技术特征B**:所述MOM电容器结构包括所述互连堆叠的至少一个下互连层。<br>**判断结果**:未公开对比文件全文未提及“互连堆叠”、“下互连层”或类似层级结构。其描述的结构(如栅极401、402,接触点403-406)属于前段制程(FEOL)或局部互连层次,未涉及后端制程(BEOL)中多层金属互连堆叠的概念。由于对比文件根本未公开“MOM电容器结构”(特征A),因此更不可能公开该结构所包含的“至少一个下互连层”。目标专利中的“下互连层”是BEOL工艺中相对较低的金属层(如M1-M6),用于构建高密度MOM电容器。对比文件没有描述这样的多层互连堆叠系统或其应用。因此,该技术特征未被公开。
**技术特征C**:所述互连堆叠中的耦合到所述MOM电容器结构的第二上互连层。<br>**判断结果**:未公开对比文件全文未提及“第二上互连层”或与“第一上互连层”形成层级关系的类似结构。该特征依赖于特征A和B所定义的MOM电容器结构及互连堆叠的存在。由于对比文件未公开MOM电容器结构和互连堆叠的层级概念,自然也谈不上存在“耦合到所述MOM电容器结构的第二上互连层”。因此,该技术特征未被公开。
**技术特征D**:位于所述第一上互连层与所述第二上互连层之间的至少一个金属绝缘体金属(MIM)电容器层。<br>**判断结果**:未公开对比文件全文未提及“金属绝缘体金属(MIM)电容器层”、“MIM电容器”、“高K介电层”或任何在两层金属之间形成的垂直平行板电容器结构。目标专利中的MIM电容器层是位于两个上互连层(如M9和M10)之间的特定结构,用于提供垂直方向的电容。对比文件关注于通过接触点等结构的非对称放置来调整RC效应,其附图(如FIG. 4)所示结构为晶体管栅极和接触点,并非MIM电容器层。因此,本领域技术人员无法从对比文件中得出该技术特征。
**技术特征E**:耦合到所述MOM电容器结构的MIM电容器结构。<br>**判断结果**:未公开对比文件全文未提及“MIM电容器结构”,也未提及将两种不同类型电容器(MOM和MIM)耦合在一起的“互补”电容器结构。该技术特征定义了MIM电容器结构与MOM电容器结构的耦合,形成组合结构。对比文件既未公开MOM电容器结构(特征A),也未公开MIM电容器结构(特征D),更未描述两者之间的耦合关系。因此,该特征未被公开。
**技术特征F**:所述MIM电容器结构包括第一电容器极板和第二电容器极板,所述第一电容器极板仅包括所述第一上互连层的一部分。<br>**判断结果**:未公开对比文件全文未提及任何MIM电容器的极板结构,也未描述利用互连层金属本身作为电容器极板的技术方案。该特征详细定义了MIM电容器结构中极板的构成,其中一个极板直接由第一上互连层的一部分构成。这体现了目标专利简化工艺、节省掩模步骤的核心思想之一。对比文件完全没有涉及此类电容器极板结构或制造方法。因此,该特征未被公开。
**技术特征G**:所述第二电容器极板包括所述至少一个MIM电容器层的至少一部分。<br>**判断结果**:未公开对比文件全文未提及“MIM电容器层”,因此不存在其“一部分”构成极板的概念。该特征与特征F和D紧密相关,定义了MIM电容器结构的另一个极板。由于对比文件未公开MIM电容器层(特征D)及MIM电容器结构(特征E),该特征自然也未被公开。
**技术特征H**:其特征在于,进一步包括处于所述互连堆叠的所述第一上互连层和所述第二上互连层之间的附加MIM电容器结构,所述附加MIM电容器结构包括第一电容器极板、介电层、以及所述MIM电容器结构的第一电容器极板,所述MIM电容器结构的第一电容器极板作为所述附加MIM电容器结构的第二电容器极板。<br>**判断结果**:未公开对比文件全文未提及任何“附加MIM电容器结构”,也未描述两个MIM电容器结构共享一个极板的堆叠或级联配置。该特征描述了更复杂的多层MIM电容器堆叠结构,其中一个MIM结构的极板同时作为另一个MIM结构的极板。这是目标专利中提高电容密度的特定方案。对比文件完全没有涉及任何MIM电容器,更不用说这种复杂的堆叠关系。因此,该特征未被公开。
**技术特征I**:其特征在于,所述第二上互连层的第一部分被耦合到所述附加MIM电容器结构的第一电容器极板,并且所述第二上互连层的第二部分被耦合到所述附加MIM电容器结构的所述第二电容器极板。<br>**判断结果**:未公开对比文件全文未提及“附加MIM电容器结构”以及“第二上互连层”与其不同部分的耦合关系。该特征定义了上互连层与附加MIM电容器结构两个极板的连接方式。由于对比文件未公开附加MIM电容器结构(特征H)及第二上互连层(特征C),该连接关系也无从谈起。因此,该特征未被公开。
**技术特征J**:其特征在于,所述电容器被集成到蜂窝电话、手持式个人通信系统(PCS)单元、机顶盒、音乐播放器、视频播放器、娱乐单元、导航设备、便携式数据单元、和/或固定位置数据单元中。<br>**判断结果**:隐含公开说明书第[0020]段:“For example, the remote units may be mobile phones, hand-held personal communication systems (PCS) units, portable data units such as personal data assistants, GPS enabled devices, navigation devices, set top boxes, media players, such as music players, video players, and entertainment units, fixed location data units such as meter reading equipment, or any other device that stores or retrieves data or computer instructions, or any combination thereof.”对比文件明确公开了其改进的半导体电路(如包含非对称但电对称布局的电路)可以被集成到一系列电子设备中,这些设备列表与目标专利权利要求中列举的设备类型高度重合,包括移动电话(蜂窝电话)、手持式PCS单元、机顶盒、音乐/视频播放器、娱乐单元、导航设备、便携式数据单元(如PDA)、固定位置数据单元等。虽然对比文件没有明确说“电容器”被集成到这些设备,但其描述的“改进的半导体电路”(improved semiconductor circuitry)必然包含各种无源器件,而电容器是集成电路中最基本和常见的无源器件之一。本领域技术人员可以合理推断,包含此类改进电路的设备中会集成有电容器。因此,该技术特征被对比文件**隐含公开**。

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