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对比文件列表
2000-01-21_JP2000022216A_发明专利_JP2000022216A Resin sealed type semiconductor light emitting device having fluorescent cover_+++A_C_D_G_H_N_O_b+++.docx
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2002-04-17_EP1198016A_发明公开_EP1198016A2 Stenciling phosphor layers on light emitting diodes_+++A_B_C_D_G_H_I_J_M_S+++.docx
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2002-04-19_KR1020020029611A_发明公开_KR1020020029611A 발광 반도체 디바이스 상에 형광 층을 형성하는 방법 및 형광 스텐실링 합성물_+++A_B_C_D_G_H_I_J_M_N_S+++.docx
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2002-06-28_JP2002185048A_发明专利_JP2002185048A Stenciling phosphor layer of light-emitting diode_+++A_B_C_D_G_H_I_J_M_N_S+++.docx
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2002-10-29_US6472765B_发明授权_US06472765B1 Plastic encapsulated semiconductor light emitting device with a cover of fluorescent particles_+++A_C_D_H_N_Q_b+++.docx
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2003-07-11_TW541719B_发明专利_TW541719B 形成於一發光裝置之表面以改善光擷取之光學元件_+++A_B_N_c_h+++.docx
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2004-02-12_JP2004048040A_发明专利_JP2004048040A Semiconductor light emitting device_+++A_B_C_D_E_G_H_N_O_R+++.docx
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2005-07-14_JP2005191197A_发明专利_JP2005191197A Light emitting device_+++A_B_C_D_H_S+++.docx
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2005-10-18_US6956247B_发明授权_US06956247B1 Semiconductor light emitting device including photonic band gap material and luminescent material_+++A_B_C_D_E_G_H_R_l+++.docx
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2005-12-08_JP2005340850A_发明专利_JP2005340850A Semiconductor light emitting element comprising photonic band gap material and fluorescent material_+++A_B_C_D_E_G_H_R+++.docx
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2006-05-23_US7049159B_发明授权_US07049159B2 Stenciling phosphor layers on light emitting diodes_+++A_B_C_D_G_H_I_J_M_N_S+++.docx
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2006-10-12_JP2006278567A_发明专利_JP2006278567A Led unit_+++A_B_D_H_N_Q_c_e_f_i_j_o_r_s+++.docx
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2006-11-16_US2006258028A_发明申请_US20060258028A1 Color control by alteration of wavelength converting element_+++A_B_C_D_E_G_P_f_h+++.docx
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2007-04-26_JP2007109946A_发明专利_JP2007109946A Phosphor plate and light-emitting device provided with the same_+++A_B_O_R_h+++.docx
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2007-04-26_JP2007109948A_发明专利_JP2007109948A Light-emitting device and manufacturing method thereof_+++A_B_C_D_G_H_R_S+++.docx
2026-07-29 13:28
2007-05-10_JP2007116035A_发明专利_JP2007116035A Light emitting device and method of manufacturing same_+++A_B_C_D_E_H_I_J_n_r+++.docx
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2007-05-10_US2007102721A_发明申请_US20070102721A1 High light extraction efficiency light emitting diode (LED)_+++A_B_H_N_R_c+++.docx
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2008-07-03_US2008157110A_发明申请_US20080157110A1 LED chip having micro-lens structure_+++A_B_C_H_R+++.docx
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2008-07-30_KR1020080070414A_发明公开_KR1020080070414A 수직형 발광 소자 및 그 제조 방법_+++A_B_C_D_E_N_h_o_s+++.docx
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2009-09-16_CN101532636A_发明公开_CN101532636A 发光二极管芯片模块及光源模块_+++A_C_D_H_b_n+++.docx
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2009-09-30_CN101546795A_发明公开_CN101546795A 半导体发光元件_+++A_C_D_H_S_b_o+++.docx
2026-07-29 13:28
2010-06-03_None_发明专利_JPWO2008105527A1 LED装置及び照明装置_+++A_C_D_H_N_R_S_b+++.docx
2026-07-29 13:28
WO2008105527A1_Description_20260718_2101_+++A_C_D_H_O_S_b_n_r+++.docx
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2003-07-11_TW541719B_发明专利_TW541719B 形成於一發光裝置之表面以改善光擷取之光學元件_+++A_B_N_c_h+++.docx

对比文件名称:2003-07-11_TW541719B_发明专利_TW541719B 形成於一發光裝置之表面以改善光擷取之光學元件

目标专利名称:1821发光器件芯片、发光器件封装CN102130247B

本次调用的模型名称:AI模型

### 特征比对表格

技术特征描述及公开性判断结果对比文件原文引用公开性论述
技术特征A:包括发光结构《直接公开》对比文件说明书第1段:“圖1描述一先前技藝的半導體光發射器100,其組成有基板20、多層結構26、及頂層24。” 多層結構26即发光结构。对比文件的多層結構26包括下侷限層、作用層、上侷限層,相当于发光结构,因此该特征被直接公开。
技术特征B:所述发光结构包括第一导电半导体层、第二导电半导体层、以及被插入在所述第一和第二导电半导体层之间的有源层《直接公开》对比文件说明书:“下侷限層21及上侷限層23以電子耦合到作用層22,及接點31、接點32。一般來說,一侷限層會攙入一些施體以製造出一n-型侷限層,而其他侷限層則是攙入一些受體以製造出一p-型侷限層。”对比文件公开了下侷限层(n型)、上侷限层(p型)和作用层(有源层),相当于第一导电半导体层、第二导电半导体层和有源层,因此直接公开。
技术特征C:所述发光结构上的透射层《隐含公开》对比文件说明书:“頂層24可以是一穿透基材(一上材)以晶圓結合到該上侷限層23。” 图1显示顶層24位于上侷限层23上。对比文件公开了在发光结构(上侷限层23)上设置透明层(顶層24),该层能透射光,虽然未明确其热隔离功能,但结构上相当于发光结构上的透射层,因此隐含公开。
技术特征D:所述透射层上的荧光材料层《未公开》对比文件全文未提及荧光材料层。对比文件涉及在发光装置表面形成光学元件(如菲涅尔透镜),未涉及荧光材料层,因此未公开。
技术特征E:其中,所述荧光材料层包括图案《未公开》对比文件未提及荧光材料层,故无图案。对比文件没有荧光材料层,因此未公开。
技术特征F:其中,所述荧光材料层部分地暴露所述透射层和所述发光结构两者;并且,所述发光结构被垂直地设置以与所述透射层和所述荧光材料层两者重叠《未公开》对比文件未提及荧光材料层和透射层的这种关系。对比文件没有荧光材料层,也未公开透射层与发光结构的这种重叠关系,因此未公开。
技术特征G:其中,所述荧光材料层被形成在所述发光结构的横向侧面的一部分或者整个区域上《未公开》对比文件未提及荧光材料层。对比文件未公开荧光材料层,因此未公开。
技术特征H:其中所述透射层的底表面设置在所述发光结构的顶表面上《隐含公开》对比文件图1显示顶層24直接位于上侷限层23之上,即底表面在发光结构顶表面。对比文件中的顶層24的底表面直接设置在发光结构(上侷限层23)的顶表面上,因此隐含公开了该位置关系。
技术特征I:其中,所述透射层具有2μm至200μm的厚度《未公开》对比文件未公开透射层的厚度范围。对比文件未提及透射层的具体厚度,因此未公开。
技术特征J:其中,所述荧光材料层具有5μm至500μm的厚度《未公开》对比文件未提及荧光材料层。对比文件未公开荧光材料层及其厚度,因此未公开。
技术特征K:其中,在构图工艺之后保留的所述荧光材料层的面积处于基于所述发光器件芯片的发光面积的30%至90%的范围内《未公开》对比文件未提及荧光材料层及其面积比例。对比文件未公开荧光材料层,因此未公开。
技术特征L:其中,所述发光结构的横向侧面处的所述荧光材料层包括所述图案《未公开》对比文件未提及荧光材料层。对比文件未公开荧光材料层,因此未公开。
技术特征M:其中,所述发光结构的横向侧面处的所述荧光材料层的厚度是被形成在所述透射层的荧光材料层的厚度的两倍或者更小《未公开》对比文件未提及荧光材料层。对比文件未公开荧光材料层,因此未公开。
技术特征N:进一步包括所述发光结构下面的第二电极《直接公开》对比文件说明书:“下侷限層21及上侷限層23以電子耦合到作用層22,及接點31、接點32。” 图1显示接点32位于基板20下,作为底部电极。对比文件公开了接点32作为底部电极,相当于第二电极,因此直接公开。
技术特征O:在所述发光结构的顶表面上的至少两个第一电极《未公开》对比文件公开了接点31位于顶層24上,但仅为一电极,未提及至少两个。对比文件未公开多个顶表面电极,因此未公开。
技术特征P:其中,所述荧光材料层的图案包括暴露透射层的至少两个孔;并且,至少两个孔与所述图案的至少两个孔垂直地重叠《未公开》对比文件未提及荧光材料层及其孔图案。对比文件未公开荧光材料层,因此未公开。
技术特征Q:其中,所述发光结构的横向宽度比所述第二电极的小《未公开》对比文件未明确比较发光结构与第二电极的宽度。对比文件未公开宽度比较关系,因此未公开。
技术特征R:进一步包括在所述发光结构下的非导电衬底《未公开》对比文件提及基板20,但未明确其导电性,且替换基材可为导电半导体。对比文件未明确公开非导电衬底,因此未公开。
技术特征S:其中所述透射层包括硅胶《未公开》对比文件未提及硅胶材料。对比文件未公开透射层材料为硅胶,因此未公开。

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