对比文件名称：2013-06-20_发明专利_JPWO2011105472A1 Ｘ線撮像装置
目标专利名称：使用无视差假影的折叠式光学器件的多相机系统CN110647000B
本次调用模型名称：专利创造性评估模型
根据目标专利说明书，本发明涉及一种使用折叠式光学器件的多相机阵列系统，旨在实现移动设备的低轮廓成像，并通过特定的光学布置（如将镜平面设置于相机投影中心与虚拟投影中心连线的中点并与之正交）来消除或减少视差假影，从而获得高质量的无视差拼接图像。
对比文件涉及一种X射线成像装置（如X射线CT装置），其通过检测X射线管的焦点位置移动并相应调整X射线管、准直器或检测器的位置来校正图像伪影，属于完全不同的医疗成像技术领域。两者要解决的技术问题、采用的技术手段及预期的技术效果均存在根本差异。
以下将严格按照目标专利权利要求的技术特征划分进行比对分析。
## 特征比对表格 ##
| 技术特征描述以及公开性判断结果 | 对比文件原文引用 | 公开性论述 |
| **技术特征A**：所述系统包括：多个相机的阵列，其经定位以捕获表示所述目标场景的多个部分的图像数据，所述阵列具有共用的虚拟投影中心<br>**《未直接公开也未隐含公开》** | 对比文件涉及单X射线源成像系统，未公开多相机阵列。相关描述如：“X線CT装置1は、X線管(X線源)2、...、X線検出器5、...から構成される。”（第[0012]段） | 目标专利的“多个相机的阵列”及其“共用的虚拟投影中心”是其实现无视差成像的核心架构，虚拟投影中心是光学设计上的特定概念（如图3A、3B中的点V），指所有相机经光学折叠后视野看起来源自的同一虚拟点。对比文件仅涉及单个X射线管（X线源）和单个X射线检测器阵列，目的是校正单一焦点位置的变化，不存在多个独立相机组成的阵列，更不存在为实现无视差拼接而设定的“共用的虚拟投影中心”。本领域技术人员无法从对比文件中毫无疑义地得出或合理推断出该技术特征。 |
| **技术特征B**：所述多个相机中的每一者经定位以捕获所述图像数据的表示所述目标场景的所述多个部分中的各部分的一部分图像数据，且所述多个相机中的每一者包括：图像传感器<br>**《隐含公开》** | “X線検出器5は、...X線検出素子群をチャネル方向(周回方向)に例えば1000個程度、列方向(スライス方向、体軸方向)に例えば1〜320個程度配列したものであり、...X線を検出し、...透過X線データを...出力する。”（第[0021]段） | 目标专利中的“图像传感器”用于接收光信号并转换为图像数据。对比文件中的“X線検出器5”（X射线检测器）及其包含的“X線検出素子群”（X射线检测元件群）的功能同样是检测辐射（X射线）并将其转换为电信号（透过X线数据），这本质上是一种图像传感器。尽管应用领域（可见光 vs X射线）和具体结构可能不同，但在各自的技术系统中，它们都承担着“图像捕获”的核心功能。根据宽松的隐含公开判断标准，本领域技术人员有可能通过推理，认为对比文件公开了用于图像捕获的传感器装置。因此，该特征被**隐含公开**。 |
| **技术特征C**：透镜组合件，其包括至少一个透镜，所述透镜组合件具有投影中心<br>**《未直接公开也未隐含公开》** | 对比文件全文未提及任何用于聚焦X射线的透镜组合件。X射线成像通常利用穿透性，而非通过透镜聚焦成像。 | 目标专利的“透镜组合件”及其“投影中心”是可见光成像系统中的关键光学部件，用于将目标场景的光线聚焦到传感器上，其“投影中心”是一个由光学设计决定的特定位置点（如图3A、3B中的相机点）。对比文件涉及X射线成像，X射线具有高穿透性，在常规X射线CT中，从X射线管发出的X射线直接穿透物体后被检测器接收，无需也不使用如目标专利所述的可见光“透镜组合件”进行聚焦。本领域技术人员无法从对比文件中得出或推断出该技术特征。 |
| **技术特征D**：以及第一反射性表面，其经定位以将表示所述目标场景的所述多个部分中的一者的入射光朝所述透镜组合件反射，<br>**《未直接公开也未隐含公开》** | 对比文件全文未提及任何用于将入射光（或X射线）反射向透镜的反射性表面。 | 目标专利的“第一反射性表面”（即主要光折叠表面，如镜或棱镜小面）是折叠式光学器件的核心，用于将来自场景的入射光反射（或折射）向透镜组合件，以实现光路折叠和低轮廓设计。对比文件的X射线成像光路是直线传播（从X射线管穿过物体到检测器），不存在也不需要此类反射表面来改变光路方向。本领域技术人员无法从对比文件中得出或推断出该技术特征。 |
| **技术特征E**：所述第一反射性表面提供于平面内，<br>**《未直接公开也未隐含公开》** | （同特征D）对比文件未公开第一反射性表面，因此自然也谈不上该表面位于平面内。 | 由于特征D未被公开，该限定特征（位于平面内）在对比文件中没有对应基础。本领域技术人员无法从对比文件中得出或推断出该技术特征。 |
| **技术特征F**：所述平面位于沿着将所述透镜组合件的所述投影中心与所述虚拟投影中心相连接的线的中点，且以一角度与所述线正交<br>**《未直接公开也未隐含公开》** | 对比文件未公开具有投影中心的透镜组合件、虚拟投影中心，以及连接二者的线，更未公开位于该线中点且与之正交的平面。 | 该技术特征（特征E和F的结合）是目标专利实现无视差成像的**最关键几何约束条件**（参见说明书第[0007], [0009], [0027], [0061]段及图3A、3B）。它定义了镜平面、相机投影中心和虚拟投影中心三者之间的精确空间关系。对比文件的技术方案完全不涉及此类光学几何关系的设定。本领域技术人员无法从对比文件中得出或推断出该技术特征。 |
| **技术特征G**：表面，其位于所述阵列与所述目标场景之间，所述表面包括光圈，所述光圈经定位以允许表示所述目标场景的光传递到所述多个相机中的每一者的所述第一反射性表面<br>**《隐含公开》** | “コリメータ3は、X線管2から放射されたX線を、例えばコーンビーム(円錐形または角錐形ビーム)等のX線として被検体33に照射させるものであり、開口幅は制御装置10により制御される。”（第[0015]段） | 目标专利的“表面”及“光圈”用于允许来自目标场景的光进入系统并传递到反射表面。对比文件中的“コリメータ3”（准直器）位于X射线管与被摄体之间，其“開口幅”（孔径宽度）可控，功能是塑造和限制X射线束（如形成锥形束）并使其射向被摄体。虽然“准直器”与“光圈”在具体结构和作用细节上有所不同（一个用于限制高能射线束形状，一个用于允许可见光通过），但二者在各自系统中都位于辐射源/场景与成像部件之间，并起到控制辐射（光）通过的作用。根据宽松的隐含公开判断标准，本领域技术人员有可能通过推理，认为对比文件公开了位于成像路径上、具有开口以允许辐射/光通过的部件。因此，该特征被**隐含公开**。 |
| **技术特征H**：处理器<br>**《直接公开》** | “中央処理装置20は、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等により構成される。”（第[0023]段） | 目标专利的“处理器”用于处理图像数据。对比文件明确公开了“中央処理装置20”，其由CPU等构成，是典型的处理器。该特征被**直接公开**。 |
| **技术特征I**：以及存储器，其存储指令，所述指令配置所述处理器以至少部分地基于包含所述目标场景的所述多个部分中的每一者的所述图像数据，产生所述目标场景的所述图像<br>**《隐含公开》** | “中央処理装置20は、...画像再構成部により透過X線データに基づく画像再構成処理を行って、断層像を再構成する。”（第[0024]段）以及“図示しない記憶装置からこの焦点位置補正処理に関するプログラム及びデータを読み出し、このプログラム及びデータに基づいて処理を実行する。”（第[0034]段） | 目标专利的“存储器存储指令”配置处理器以基于多个部分的图像数据产生完整场景图像。对比文件的中央处理装置20执行图像重建处理（基于透过X线数据重建断层像），并且从“記憶装置”（存储装置）读取“プログラム”（程序）及数据来执行处理（如焦点位置补正处理）。这隐含了存在存储指令（程序）的存储器，且处理器被配置为基于检测器获得的图像数据（透过X线数据）来产生图像（断層像）。虽然目标专利是拼接多个相机数据，而对比文件是重建单次投影数据，但“基于图像数据产生图像”这一核心处理流程是相似的。根据宽松的隐含公开判断标准，本领域技术人员有可能推断出对比文件包含了存储用于图像处理的指令的存储器。因此，该特征被**隐含公开**。 |
| **技术特征J**：其中所述多个相机中的每一者的所述图像传感器位于共用平面内。<br>**《隐含公开》** | “X線検出器5は、...X線検出素子群をチャネル方向...列方向...配列したものであり”（第[0021]段） | 目标专利要求所有图像传感器位于共用平面内，这有助于模块化设计和制造。对比文件中的X射线检测器5由在通道方向和列方向二维排列的检测元件群构成，这些检测元件通常被安装在一个共同的基底或支撑结构上，从而位于一个共用平面内。虽然其检测原理不同，但物理上二维阵列的检测元件通常布置于同一平面。根据宽松的隐含公开判断标准，本领域技术人员有可能推断出对比文件的检测器阵列满足“位于共用平面内”的特征。因此，该特征被**隐含公开**。 |
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